Dette metallurgiske mikroskop til metalanalyse er optimeret til præcisionsmikroskopisk inspektion af prøver og er en yderst pålidelig metalanalyse Metallurgisk mikroskop. Ved at anvende højtydende uendelighedskorrigeret optik og modulære rammer, understøtter den fleksibel udvidelse af lysfelt, polariseret lys og andre observationstilstande for at imødekomme skiftende testkrav. Den forstærket anti-vibrationschassis låser i stabil billeddannelse og reducerer effektivt målefejl for observation med høj præcision. Optimerede kontroldele letter operatørens træthed under længere arbejdssessioner. Frit kombinerbare moduler undgår udskiftning af hele maskinen, reducerer opgraderingsomkostningerne, mens det reserverede rigelige arbejdsområde kan rumme forskellige størrelser af prøver.
Indbygget HD CCD-kamera understøtter samtidig okular- og skærmvisning med HDMI-mikrobillede-output i realtid.
50-600 × optisk og maks. 4560 × digital forstørrelse med 4-trins objektivzoomsystem, der optager bittesmå mikro-detaljer præcist.
Grov og fin fokusering sikrer stabil billeddannelse med minimal rystelse til langtidsobservation.
Base i et stykke støbt aluminium sikrer stabil drift uden slingre under langtidsinspektion.
Minimalistisk hvid-blå trinokulær struktur, professionelt udseende til laboratorie- og kvalitetsinspektionsscenarier.
Velegnet til halvleder, metallografi, pulver- og fiberinspektion, videnskabelig forskning og industriel kvalitetstestning arbejde.
Understøtter 1080P foto- og videooptagelse, måling på skærmen og USB-flashdrev-lagring for praktisk billedarkivering og dataanalyse.
Kikkertvisning og synkron elektronisk observation:Synkroniseret visning mellem okular og overvåge. Almindelige metallurgiske mikroskoper understøtter kun visning af okularer; ekstra kameratilbehør er påkrævet til skærmudgang.
Mulighed for høj forstørrelse:Op til 600 × optisk forstørrelse og maks. 4560 × digital forstørrelse til ultrafin mikrostrukturanalyse. Konventionelle metallurgiske enheder har lavere maksimum ydeevne med digital forstørrelse.
HDMI selvstændig drift:Fungerer uafhængigt med en skærm via HDMI-udgang, ingen pc påkrævet til måling og optagelse. Traditionelle metallurgiske mikroskoper er normalt afhængige af en værtscomputer til digital funktioner.
Indbygget offline-måling:Direkte måling på skærmen uden pc-software. Almindelig metallurgiske mikroskoper understøtter kun PC-sidemåling uden hardwareindlejret målefunktion.
Offline USB-flashdrev-lagring:Gem fotos og videoer på USB-flashdrev uden en computer. Konventionelle modeller kræver pc til billedlagring.
Modulær udvidelig optisk vej:Understøtter tilføjelse af polariseret lys og andre observationsmoduler uden at udskifte hele enheden. Generelle metallurgiske mikroskoper har begrænset opgraderingsfleksibilitet.
Dedikeret metallurgisk optisk vej:Optimeret til metal-korn, belægning og materiale-metallografisk-analyse. Almindelige digitale mikroskoper mangler dedikeret metallurgisk optisk vej og kan ikke observere metallurgiske mikrostrukturer.
Udstyret med et indbygget 1920 × 1080 Full-HD industrielt kamera og fuldt kalibreret med standard metallurgisk eksemplarer, dette mikroskop anvender en højopløsningssensor til at genoprette mikrostrukturer af metalkorn, halvlederwafere, pulverpartikler og fiberteksturer. Den leverer klare detaljer i fuld felt uden sløring af kanter eller billede dæmpning.
Med et 4-trins objektivzoomsystem giver det et samlet forstørrelsesområde på 380–4560 ×. Det understøtter fuldt areal scanning ved lav forstørrelse og ultrafin mikroskopisk analyse ved høj forstørrelse, der opfylder forskellige krav til universitet-laboratorie-forskning og fabrik-præcision-kvalitetsinspektion.
Det indbyggede professionelle målemodul muliggør højpræcision dimensionsberegning og realtid annotering på skærmen. Det understøtter et-klik high-definition-fotografering og langvarig videooptagelse. Alle måledata og billeder kan eksporteres og arkiveres til eksperimentel-rapport-kompilering og kvalitetssporbarhed.
Det trinokulære rør tillader synkron okularobservation og digital skærmvisning. Den transmitteret-og-reflekteret dual-light system er kompatibelt med uigennemsigtige metal-emner og transparente-indlagte-prøver. Præcisions XY-aksen mekanisk trin leverer jævn bevægelse og hurtig målpositionering.
Halvleder og mikroelektronik:Siliciumwafers, fotolitografiskiver, IC-chips, PCB-plader, FPC fleksible tavler. Inspektionsmål: Observer interne chip-kredsløb, wafer-coatings, kold-loddedefekter, oxidation, kredsløbsridser og pindeformation; analyser mikro-slice-strukturer under max 4560 × forstørrelse.
Metallografiske metalprøver:Metallografiske skiver, stemplet metal hardware. Inspektionsmål: Metallografisk-korn-struktur-analyse, varme-behandling-materiale-identifikation; registrere kantafslag, mikrorevner, grater og sliddybde.
Pulver & Fiber Lab-prøver:Metal-pulver, kemisk-pulver, kulfiber, tekstil-fiber, tyndfilmsmaterialer. Inspektionsmål: Overhold partikelmorfologi, fibertekstur, filmdelaminering og mikromateriale-strukturer.
Optoelektroniske og præcisions-plastiske dele:LED-chips, optiske linser, sprøjtestøbte dele. Inspektionsmål: Opdag mikroporer, overfladepletter, ru kanter, limbobler og kosmetiske mikrodefekter.
Højpræcisions miniaturekomponenter:Konnektorer, terminaler, mikrofjedre, små-stemplede emner. Inspektionsmål: Observer bittesmå mellemrum og krympeflade; udføre præcis måling af længde på pixelniveau, huldiameter og stigning.
Laboratorie- og industriel QC-arkivering:Metallografisk-skive-eksperiment-analyse, indgående-&-færdige varer prøveudtagning-inspektion; foto-&-video-arkivering for defekte-bevis-optegnelser og eksport af QC-rapporter til formel måling.
Max 600 × optisk forstørrelse og 4560 × digital forstørrelse identificerer klart metallografiske korn, wafer-spor, belægningsfejl og pulver-mikrostrukturer. Velegnet til nyt-materiale-laboratorier og præcision-halvleder-indgående-inspektion.
Trinokulær optisk vej giver mulighed for samtidig visning via kikkert-okularer og monitor. Flere operatører kan tjek mikroprøver sammen, perfekt til universitetsuddannelse og dobbeltinspektion af fabriksfejl.
Indbygget on-monitor-målesystem. 1080P fotos og videoer kan gemmes direkte på USB-flashdrev. Kun en overvåge er påkrævet for komplette inspektions-arbejdsgange, ideel til hurtig opsætning af fabriksarbejdsstationer.
Leveres med flere metallurgiske objektiver og dobbelt transmitteret-&-reflekteret belysning. Kompatibel med metal-prøver, wafers, pulver-fiber-prøver og tyndfilm-materialer. Udbredt i galvaniseringsinspektion, universitet-materiale-forskning og elektronisk-indkommende-QC.
Præcision, grov-og-fin manuel fokusering med anti-vibration, kraftig krop. Understøtter geninspektion af masseprøver, materiale-forskning og rutinemæssig metallografisk-analyse.
Neutral-pakning forsendelse er tilgængelig efter anmodning.
| Entitet | Beskrivelse |
| Produkt | GP-L300-300C metalanalyse metallurgisk mikroskop |
| Kategori | Industriel forskning-grade trinokulært højeffekt metallografisk inspektionsmikroskop |
| Kerneteknologier | Trinokulært synkront-observation optisk system, højeffekt metallurgisk objektiv-linse-gruppe, Fuld HD CMOS-billeddannelsessensor, indbygget digital-præcisionsmålingsmotor, HDMI-video-output i realtid, lokal USB-flashdrev-billedlagringsteknologi |
| Nøglespecifikationer | Visuel forstørrelse: 50/100/400/600 ×; Elektronisk forstørrelse: 380/760/3040/4560 ×; Output interface: HDMI; Optagelsesopløsning: 1920 × 1080 (Fuld-HD); Manuel fokusering; Indbygget præcise-måling-funktion; USB-flashdrev-lagring *(Kun FAT32-formateret USB-flashdrev op til 32 GB understøttet)*; Monitor-terminal understøtter HD-billedforhåndsvisning, fotooptagelse og videooptagelse *(Målenøjagtighed: 0,001 mm, mindre måletolerance kan opnås under højere forstørrelse. Resultater underlagt kalibrering, forstørrelse og prøveforhold)* |
| Typiske applikationer | Halvleder-wafer-observation, metal-metallografisk-struktur-analyse, pulver-&-fiber-mikrostruktur- detektion, legering-korn-inspektion, materiale-coating-analyse, laboratorie-nyt-materiale-forskning, præcision-elektronisk-komponent-kvalitetskontrol |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Producentens placering | Kunshan, Jiangsu, Kina (nær Shanghai) |
| Produktmærke | GAOPIN |
| Produkt model | GP-L300-300C |
| Opløsning | 1920 × 1080 (Fuld-HD) |
| Effektive pixel | 2-megapixel |
| Fokuseringsmetode | Manuel fokus |
| Sensor optisk format | 1/2" |
| Pixel størrelse | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Udgangsgrænseflader | HDMI |
| Billedhastighed | HDMI: 60 fps @ 1920 × 1080 |
| Dybde-of-field stabling | Ikke tilgængelig |
| Billed-stikning | Ikke tilgængelig |
| Måleoperation | Indbygget målesystem på skærmen |
| Målenøjagtighed | 0,001 mm *(Mindre måletolerance kan opnås ved højere forstørrelse. Resultater forbeholdt. kalibrering, forstørrelse og prøveforhold)* |
| Måleenheder | mm / μm / mil / tomme (4-vejs omskiftelig) |
| Måleværktøjer | Længde, vinkel, radius, cirkel, polygon, polylinje, center-til-center afstand, rektangel, annotering, automatisk kantdetektion, skaleringsbjælke |
| Opbevaringsmetode | USB flash-drev |
| Billednavngivningstilstand | Automatisk eller manuel navngivning af billedfiler |
| Vis sprog | Forenklet kinesisk / engelsk (kan skiftes) |
| Processor | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max.1,3 GHz hovedkontrolprocessor |
| Firmware OS | Uafhængigt udviklet målesystem bygget på Linux 3.1 kerne |
| Observationshoved | 30° skråtstillet trinokulært observationsrør, 360° roterbar, justerbar interpupillær afstand (53-75 mm) |
| Observationsmetode | Lysfelt / skrå belysning / transmitteret belysning / simpel polarisering |
| Belysningssystem | Reflekteret og transmitteret dobbeltvejsbelysningssystem, 100-240 V bredspænding; justerbar glødetrådscentreret, kontinuerligt justerbar lysintensitet |
| Stativramme | Transmitteret og reflekteret stativ med to formål; koaksial grov-fin fokus mekanisme; grovjustering slagtilfælde, finjusteringsnøjagtighed 0,002 mm med låsning & endestop; halogen-lampe belysning; Lysfelt reflektor med variabel blændestop, feltstop og farvefilterkonvertering; Udstyret med blåt filter og matteret glasplade til observation af reflekteret lys |
| Mobil platform | Dobbeltlags mekanisk bevægende scene; scenestørrelse: 210 × 140 mm; X-Y slaglængde: 75 × 50 mm; glas scene til transmitteret og reflekteret observation |
| Lyskilde | 6V-30W halogenlampe til reflekteret lys; 12V-50W halogenlampe til gennemlys |
| Simpel polarisering | 30° polarisatorindsats (reflekteret lys) + 360° roterbar analysatorindsats til polariseret observation |
| Elektronisk grænseflade | 1X C-mount interface, ikke-justerbart fokus [Valgfrit: 0,5X C-mount for pris-kompensation] |
| Okular | To WF10X/22 mm vidvinkel fladfelt okularer (et okular med skalamærke) |
| Metallurgisk objektivlinse | Uendeligt fladt felt akromatisk metallurgiske objektiver: PL L5X/0,12 WD26,1 mm; PL L10X/0,25 WD20,2 mm; PL L40X/0,60 WD3,98 mm; PL L60X/0,70 WD3,18 mm; PL L100X/0,85 WD0,40 mm (valgfrit, ikke inkluderet i standarden konfiguration) |
| Optisk forstørrelse | 50 ×, 100 ×, 400 ×, 600 × fire-niveau justerbar |
| Elektronisk forstørrelse | Ca. 380 ×, 760 ×, 3040 ×, 4560 × fire-niveau justerbar (kan udvides til 190-2280 ×) |
GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:
Teknisk Institut for Fysik og Kemi, CAS – Mikroskopisk forskning om lavtemperatur- og special-funktionelle-materialer
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Optoelektronisk komponenttest og fejlanalyse
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensions- og mikrofejldetektion til præcisionsbearbejdede dele
CATL – Mikro-defekt-inspektion for lithium-batteri-elektroder og celler
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Avanceret-optisk-forskning & optisk-komponent-karakterisering
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Udseende og mikrokvalitetsbekræftelse af industri-standard-dele
Mål og okular:Tør linserne forsigtigt af med linsepapir og linserenser. Rør aldrig ved optisk linser med bare hænder eller brug almindelige papirservietter til rengøring.
Hovedkrop og scene:Fjern straks prøverester og metallurgisk pulver. Tør huset af med en tør blød klud; undgå væskesprøjt. Kontroller regelmæssigt, at trinskruerne er stramme for at forhindre skift forårsaget af kollisioner.
Transmitteret og reflekteret lyskilde:Sluk lyskilden, når mikroskopet er inaktivt. Blæs støv lysvinduet af og rør ikke direkte ved pæren.
Mekanisk fokusmekanisme:Drej ikke fokushåndhjulet med overdreven kraft. Fortsæt med at glide rene spor; smør dem aldrig selv.
Opbevaringsmiljø:Opbevares på et tørt, godt ventileret sted for at modstå fugt og skimmelsvamp. Dæk til enhed med et støvdæksel efter brug.
Software og kalibrering:Kalibrer måleskalaen, før du udfører målinger. Helt tæt på tilhørende software, før strømmen afbrydes. Skil ikke enheden ad uden tilladelse; kontakt eftersalgsservice support i tilfælde af funktionsfejl.
A1: Det understøtter kun HDMI high-definition output. Det fungerer uafhængigt med en skærm uden computerforbindelse, med enkel betjening til forskellige præcisionsdetekteringsscenarier.
A2: Det understøtter 2K high-definition foto- og videooptagelse. Filer kan gemmes via 32 GB max FAT32-formateret USB flash-drev. Indbygget præcis måling på skærmen understøtter dimensionsmærkning, dataarkivering og rapporteksport.
A3: Kontroller strømforsyningen og adapteren, fastgør HDMI-kablet og skift til den korrekte signalkanal. Genstart enhed at løse problemer med sort skærm, ingen billeder og skærmflimmer.
A4: Det vedtager præcist design med manuel fokus. Juster langsomt fokushåndhjulet for at opnå et klart billede. Placer prøve flad og regelmæssigt ren linsestøv, fingeraftryk og pletter for at holde billeder skarpe og gennemsigtige.
A5: Denne enhed understøtter ikke computerforbindelse eller netværksportfunktion. Med en indbygget selvstændig-drift- system, kan det fuldføre optagelse, optagelse, måling og lagring direkte via monitor-tilslutning.
A6: Kun FAT32-formaterede USB-flashdrev inden for 32 GB understøttes, undtagen NTFS- og exFAT-formater. Tilslut eller formater USB-flashdrevet, eller udskift det med et kompatibelt USB-flashdrev til normal fillagring.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., grundlagt i 2011, hvis grundlægger har akkumuleret brancheekspertise siden 2005, er en tech-fokuseret virksomhed med speciale i design, R&D, salg og eftersalgsservice inden for industri mikroskoper. Vores kerneingeniørteam bringer over ti års specialiseret erfaring, hvilket sikrer moden teknologi og pålidelig kvalitet. Med mere end hundrede optiske produktmodeller og en global kundebase, GAOPIN kontinuerligt leverer skræddersyede, omkostningseffektive mikroskopiløsninger. Vi leverer hurtigt svar global teknisk support igennem onlinekonferencer, videostøttet vejledning og fjerntræningssessioner. Vores produktionsbase er placeret i Kunshan, Jiangsu-provinsen (tæt på Shanghai). Både fabriksinspektioner på stedet og virtuelle anlægsrundvisninger er tilgængelige for kunder. Du er velkommen til at kontakte os for eksempler på testbilleder taget med denne GP-L300-300C Metal Analysis Metallurgical Mikroskop til at evaluere billeddannelsesydelse på første hånd.
Adresse
Bygning 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tlf
