4K Ultra HD metallurgisk mikroskop til wafer-inspektion

GP-L600-324K 4K Ultra HD metallurgisk mikroskop til wafer inspektion er et forsknings-grade wafer inspektion metallurgisk mikroskop med 4K Ultra HD. Den vedtager en uendeligt korrigeret optisk system, med et valgfrit Nomarski DIC-modul til detektering af overfladehøjde i nanoskala variationer. Instrumentet understøtter lysfelt- og polariseret lysobservation. Den trinokulære port letter kamerainstallation og forbindelse med metallurgisk analysesoftware. Den er velegnet til arbejdsgange inkl metallografisk forskning, halvlederinspektion og materialefejlsanalyse.

Anvendelsesområde

This 4K Ultra HD Metallurgical Microscope for Wafer Inspection is suitable for microscopic observation of metallographic microstructures and surface morphology. Det fungerer som et ideelt forskningsværktøj til metallurgi, mineralogi og finmekaniske discipliner.

Oversigt over produktenheder

Unikke designfordele

1. Integreret 4K Synchronous CCD Imaging

4K-kamera indbygget i trinokulært hus til samtidig visning via okular og monitor. Dual-port udgang via HDMI og Gigabit-LAN transmitterer ultra-HD mikrobilleder i realtid.

2. Multi-Mode optisk højopløsningssystem

Understøtter DIC-, lysfelt-, mørkfelt- og polariseret lysobservation. 4-trins forstørrelse, optisk 50-500X, max digital forstørrelse op til 1900X, der leverer skarpe detaljer til mikrofunktionsinspektion.

3. Præcisions glat manuel fokusmekanisme

Dobbelte koaksiale fokusknapper parret med forstærket linse-cylinder-samling muliggør konstant fokusering og minimerer billedet ryster.

4. Heavy-Duty stabil metalramme og base

Tykt integreret metalstativ og scenebeslag sænker tyngdepunktet og holder mikroskopet stabilt under lang-timers forsknings-grade inspektion.

5. Forskningsorienteret helhvid professionel ramme

Modulært optisk layout med stivt metalhus, velegnet til laboratorier, forskningsinstitutter og halvledere produktionsfaciliteter.

6. Bredt udvalg af forskning og industriel anvendelse

Optimeret til wafer-and-chip-inspektion; også bredt anvendt til halvledertestning, metallografisk analyse, materiale-forskning og præcision-kvalitet-evaluering arbejde.

7. Alt-i-én digital observation, måling og opbevaring

4K foto- og videooptagelse, dobbeltmålingstilstande (indbygget på skærmen + pc-software). Dobbelt lagring via U-disk & computer. Dybde-of-field syntese og billedsammensætningsfunktioner kører udelukkende på understøttende pc-software. Sekundær-udvikling er understøttet over LAN-port til billedarkivering, sammenligning og avanceret analyse.

Forskelle fra konventionelle metallurgiske mikroskoper

1. Optiske observationstilstande:Understøtter multi-mode optik inklusive DIC, lysfelt, mørkt felt og polariseret lys til observation af krystal- og belægningstekstur. Almindelige metallurgiske mikroskoper yder kun grundlæggende lysfelt og kan ikke visualisere ultratynde lag og krystalmikrostrukturer.

2. Billedbehandlingssystem:Native 4K ultra-HD-kamera, synkroniseret okular-og-skærmvisning. Almindelig metallurgiske mikroskoper anvender lavopløsnings 2K-kamera, kun okularvisning med forvrænget høj forstørrelse output.

3. Justering af forstørrelse:Fire gears forstørrelsesområde fra 190-1900X, der dækker makrooversigt og mikro-detalje inspektion. Almindelige metallurgiske mikroskoper har færre forstørrelsesgear og slørede billeder ved høj effekt.

4. Måling og registrering:Indbygget præcis måling på skærmen med foto-video-optagelse kapacitet. Almindelige metallurgiske mikroskoper har ingen indbygget måling og kræver pc-software til al analyse og arkivering.

Egnede inspektionsopgaver til 190-1900X forstørrelse

Halvleder og mikroelektronik (Core DIC Application):
Siliciumwafers, litografiskiver, IC-chips, PCB'er, FPC fleksible kredsløb, loddesamlinger, emballagekomponenter.
Inspektionsmål: spånoverfladetopografi, wafer-ætsningsmønstre, nanoridser, koldloddesamlinger, oxidation og stiftdeformation. Differential-Interference-Contrast (DIC) fremhæver subtile overflade-højde-forskelle til observation af mikrokredsløbssnit inden for 190-1900× forstørrelsesområde.

Metallografiske metalprøver:
Legerede metallografiske sektioner, stål, præcisionsstemplet metalbeslag.
Inspektionsmål: metalkornstruktur, varmebehandlingsanalyse, mikrooverfladerevner, kantafhugning, fine grater, slidspor og indre materialeurenheder. Lysfelt / mørkt felt / polariseret lys tilstande til metalkrystal structure observation.

Laboratorieprøver: Krystal, pulver, fiber og tyndfilm:
Kemiske krystaller, metalpulver, kulfiber, optiske-coating-film.
Observer krystalmorfologi, partikelkonturer, filmdelaminering og mikrobelægningsteksturer; polariseret lys identificerer krystalpolarisationskarakteristika.

Optoelektroniske og præcisions-plastikkomponenter:
LED-chips, optiske linser, glassubstrater, halvleder-emballeringslim.
Opdag mikroporer, nano-ridser, lim-delaminering, bobler, pletter og subtile overfladeujævnheder.

Højpræcisions miniaturekomponenter:
Stik, terminaler, mikrofjedre, bittesmå stemplede emner.
4K-pixel-niveau nøjagtig måling af mellemrum, huldiametre, pitch og overflade-højde-forskelle; DIC visualiserer subtil krympe-deformation.

Universitetslaboratorier og High-End Semiconductor QC:
Materialeforskningseksperimenter, inspektion af wafers indgående varer, observation af metallografiske prøver; foto-video arkivering, eksport af præcise målte QC-rapporter via tilsluttet pc.

Evidens og pålidelighed på stedet (førstehåndstest)

Mekanik:Fuldmetalkonstruktion for høj stivhed og vibrationsmodstand. Præcision grov-fin fokusering uden tilbageslag. Højpræcision manuel XY mekanisk trin med lavt slid og minimal clearance. Trinokulær optisk vej opretholder optisk co-alignment, når du skifter objektiver.

Optik:Infinity-korrigerede plan-akromatiske metallurgiske objektiver med anti-dug hård belægning. Transmitteret reflekteret 12V-100W halogenlampebelysning.

Billedbehandling og måling:8,3-megapixel 4K industrielt CMOS-kamera. Dual-output: HDMI + Gigabit-LAN port, god anti-interferens ydeevne til brug i industrielt miljø. Understøtter indlejret måling på skærmen og PC-software måling. Dual-path lagring via U-disk og pc-software. Dybde-af-felt syntese og billedsammensætning kun tilgængelig på pc-software. Sekundær-udviklingsgrænseflade tilgængelig over Gigabit-LAN.

Sådan vælger du denne model

Vælg opløsning baseret på krav til klarhed

Udstyret med indbygget 3840*2160 4K-billeddannelse. Velegnet til metallografisk analyse, chip-kredsløbsinspektion og professionel testrapportgenerering, der tydeligt afslører metalkorn, mikroridser og små mikrofejl.

Vælg fokuseringstilstand i henhold til betjeningsfrekvensen

Manuelt fokusdesign, velegnet til statiske laboratorieprøver og lavfrekvent arbejdsemneudskiftning. Stabil finjustering knapper til langsigtet præcis statisk prøveobservation.

Vælg platform og optisk vej i henhold til testprøver

Standard manuelt bevægeligt trin og vertikal trinokulær metallurgisk optisk bane til spånskiver, små-mellemstørrelse PCB'er og metalprøver, der effektivt undertrykker reflekterende blænding til metallografisk inspektion.

Vælg forstørrelse i henhold til prøvestørrelse

Dobbelt forstørrelsesområde: 50-500X optisk forstørrelse, 190-1900X digital forstørrelse. Dækker begge fuldeksemplarer oversigt og mikro-korn / mikro-fejl inspektion.

Vælg måle-, optagelses- og opbevaringsfunktioner efter arbejdskrav

Understøtter indbygget måling på enheden og måling af pc-software. Udstyret med HDMI + Gigabit-LAN-port. Fotos, videoer og måledata kan gemmes via kompatibel U-disk eller computer. Sekundær-udvikling understøttet til produktionslinjeintegration og lab-data-sporbarhed.

Tilpasningsmuligheder

Neutral-pakning forsendelse er tilgængelig efter anmodning.

Tekniske specifikationer

Autoritative partnere og kunder

GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:

Tianjin University of Commerce – Materiale-laboratorie-undervisning, mikro-billeddannelse og eksperimentel-data-arkivering

Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensions- og mikrofejldetektion til præcisionsbearbejdet dele

AVIC Optronics Technology Co., Ltd. – Præcisionsstik og komponentinspektion

Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Avanceret-optisk-forskning & optisk-komponent-karakterisering

Xi'an Jiaotong University – Avanceret-materialevidenskab og præcisionsoptik eksperimentel-observation

Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanalyse af uorganisk-keramik og nye-energi-materialer

Om GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. blev officielt grundlagt i 2011. Vores grundlæggerhold akkumulerede dybt rodfæstet ekspertise i optisk-inspektion-instrumentering, der går tilbage til 2005. Vi er en teknologi-fokuseret virksomhed leverer fuld-cyklus tjenester, der dækker design, R&D, globalt salg og eftersalgssupport til industrielle mikroskoper. Vores kerne ingeniørteam besidder mere end ti års specialiseret optisk-instrument-udviklingserfaring for at sikre bevist-stabil-teknologi og ensartet-pålidelig kvalitet.

GAOPIN opretholder et omfattende produktkatalog med over hundrede optiske instrumentmodeller til hele verden kunder. Vi udvikler fleksible, omkostningseffektive skræddersyede mikroskopi-løsninger til forskellig industriel inspektion og laboratorie-forskningskrav.

Global-teknisk support med hurtig respons er tilgængelig for oversøiske kunder, herunder online-møder, trin-for-trin-video-vejledning og fjerntræningssessioner. Vores produktionsbase er beliggende i Kunshan, Jiangsu provins (tæt på Shanghai). Fabriksbesøg på stedet og virtuelle online-ture er velkomne. Kontakt venligst vores salgsteam vedr autentiske prøve-test-billeder taget af dette Wafer Inspection Metallurgical Microscope med 4K Ultra HD til vurdere real-world billedbehandling-ydeevne.

Ofte stillede spørgsmål

Q1: Hvilke output-interfaces understøtter enheden? Kan den oprette forbindelse til en computer?

A1: Udstyret med to grænseflader med HDMI high-definition output og LAN-port. Det understøtter billeddannelse i realtid ved direkte tilslutning til en skærm og computerforbindelse via netværkskabel. Uden USB- og WIFI-grænseflader er det understøtter både selvstændig drift og computersamarbejde.

Q2: Hvad er billeddannelses-, opbevarings- og målefunktionerne?

A2: Den understøtter 4K ultra-HD foto- og videooptagelse. Filer kan gemmes på FAT32-formateret U-disk inden for 32 GB kapacitet eller computerlager. Understøtter både skærm- og pc-software præcis måling, med databesparelse og rapport-eksport funktioner.

Spørgsmål 3: Hvordan fejlfinder man problemer med sort skærm eller ingen billeder via HDMI-forbindelse?

A3: Tjek strømforsyning og matchende adapter; fastgør HDMI-kablet godt; skifte skærm til korrekt HDMI-signalkilde; genstart enheden for at løse fejl med sort skærm og ingen billeder.

Q4: Hvordan rettes slørede og ufokuserede observationsbilleder?

A4: Dette er en model med manuel fokus. Juster langsomt fokushåndhjulet for skarpe billeder. Lås objektivlinsen godt fast, læg prøve flad og regelmæssigt ren linsestøv og pletter.

Spørgsmål 5: Hvordan løser man fejl i forbindelse med computernetværk?

A5: Sørg for, at mikroskop og pc er inden for samme IP-segment; deaktiver firewall og aflytning-software; sæde igen netværk-kabel; genstart enhed og understøttende målesoftware for at etablere normal forbindelse.