GP-L600-462H er et 4K Ultra HD autofokus metallurgisk mikroskop til wafer-inspektion. Det vedtager uendeligt korrigeret optisk system til hurtig skift mellem lysfelt- og mørkfeltobservationstilstande. Bright-field bruges til rutinemæssig metallografisk mikrostrukturobservation; mørkt felt giver forbedret kontrast for små overfladefejl, ridser og partikelurenheder. Den trinokulære port understøtter kamerainstallation og metallurgisk-analyse-software forbindelse. Velegnet til metallografisk forskning, halvlederinspektion og arbejdsgange til registrering af emne-overfladedefekter.
Dette instrument er velegnet til mikroskopisk observation af metallografiske mikrostrukturer og overflademorfologi. Det fungerer som et ideelt forskningsværktøj til metallurgi, mineralogi og finmekaniske discipliner.
4K-kamera indbygget i trinokulært hus til samtidig visning via okular og monitor. Multi-port udgang via HDMI, USB3.0 og WIFI transmitterer ultra-HD mikrobilleder i realtid.
Understøtter DIC-, lysfelt-, mørkfelt- og polariseret lysobservation. 4-trins forstørrelse, optisk 50-500X, max digital forstørrelse op til 1900X, der leverer skarpe detaljer til mikrofunktionsinspektion.
Indbygget hardware autofokus modul, manuel fokus tilstand er også tilgængelig. Realiserer jævn, vibrationsfri fokusering og forbedrer effektiviteten til masseprøvetestning.
Tykt integreret metalstativ og scenebeslag med lavt tyngdepunkt, der holder en stabil ydeevne til langvarig laboratorieobservation.
Modulært optisk layout med stiv metalstruktur, velegnet til laboratorier, forskningsinstitutter og halvleder produktionsfaciliteter.
Ideel til wafer-and-chip-inspektion; også bredt anvendt til halvledertestning, metallografisk analyse, materiale-forskning og præcision-kvalitet-evaluering arbejde.
4K foto- og videooptagelse, dobbeltmålingstilstande (indbygget på skærmen + pc-software). Dobbelt lagring via U-disk & computer. Dybde-of-field syntese fungerer både on-monitor og pc-software; billedsammensætningsfunktion er kun tilgængelig i PC-software. Sekundær udvikling understøttet til billedarkivering, sammenligning og avanceret analyse.
1. Optiske observationstilstande:Understøtter multi-mode optik inklusive DIC, lysfelt, mørkt felt og polariseret lys til observation af krystal og belægningstekstur. Almindelige metallurgiske mikroskoper yder kun grundlæggende lysfelt og kan ikke visualisere ultratynde lag og krystalmikrostrukturer.
2. Billedbehandlingssystem:Native 4K ultra-HD-kamera, synkroniseret okular-og-skærmvisning. Almindelig metallurgiske mikroskoper leverer 2K-billeddannelse i lav opløsning og kun okularvisning med slørede forvrængede billeder under høj forstørrelse.
3. Justering af forstørrelse:190-1900X fire-trins zoom, der dækker makrooversigt og mikrodetaljer inspektion. Almindelige metallurgiske mikroskoper har færre forstørrelsesgear og slørede billeder under høj effekt.
4. Måling og registrering:Indbygget præcis måling på skærmen med foto-video-optagelse funktion. Almindelige metallurgiske mikroskoper har ingen indbygget måling og kræver pc-software til alle måle- og arkiveringsarbejde.
Mekanik:Fuldmetalkonstruktion for høj stivhed og vibrationsmodstand. Hardware autofokus modul udstyret, manuel fokus er også tilgængelig. Præcis grov-fin fokusering uden tilbageslag. Høj præcision manuel XY mekanisk trin med lavt slid og minimal frigang. Trinokulær optisk vej opretholder optisk co-alignment under forstørrelsesskift.
Optik:Infinity-korrigerede plan-akromatiske metallurgiske objektiver med anti-dug hård belægning. Transmitteret reflekteret 12V-100W halogenlampebelysning.
Billedbehandling og måling:4K industrielt CMOS-kamera. Multi-output: HDMI + USB3.0 + WIFI, god anti-interferens ydeevne til industrielt miljøbrug. Understøtter indlejret måling på skærmen og PC-software måling. Dual-path lagring via U-disk og pc-software. Dybde-of-field syntese virker begge dele on-monitor og pc-software; billedstikning, der udelukkende understøttes af pc-software. Sekundær-udviklingsgrænseflade tilgængelig via USB3.0 / WIFI.
Driftsmiljø:Arbejdstemperatur 10-35 ℃, relativ luftfugtighed 30-75% RH. Stabil under regulær fabriks elektromagnetiske miljø. Undgå kraftige vibrationer, ætsende gasser og kraftigt støv. Hold WIFI-modulet væk fra stærke signal-interferenskilder.
Kvalitet og vedligeholdelse:Fuldstændig fabriksinspektion. Skil ikke optiske moduler ad eller autofokus modul. Regelmæssig støvtæt rengøring forlænger levetiden.
Halvleder og mikroelektronik (Core DIC Application):
Siliciumwafers, litografiskiver, IC-chips, PCB'er, FPC fleksible kredsløb, loddesamlinger, emballagekomponenter.
Inspektionsmål: spånoverfladetopografi, wafer-ætsningsmønstre, nanoridser, koldloddesamlinger,
oxidation og stiftdeformation. Differential-Interference-Contrast (DIC) fremhæver subtile overflade-højde-forskelle
til observation af mikrokredsløbssnit inden for 190-1900× forstørrelsesområde.
Metallografiske metalprøver:
Legerede metallografiske sektioner, præcisionsstemplet metalhardware.
Inspektionsmål: metalkornstruktur, varmebehandlingsanalyse, mikro-overfladerevner, kantafhugning, fine grater,
slidspor og indvendige materialeurenheder. Lysfelt / mørkt felt / polariseret lys tilstande tilgængelige for
metal-krystal-struktur observation.
Laboratorieforskningsprøver: Krystal, pulver, fiber og tyndfilm:
Kemiske krystaller, metalpulver, kulfiber, tekstilfiber, optisk-coating-film.
Observer krystalmorfologi, partikelkonturer, filmdelaminering og mikrobelægningsteksturer; polariseret lys
identificerer krystalpolarisationskarakteristika.
Optoelektroniske præcisions-plastikkomponenter:
LED-chips, optiske linser, glassubstrater, halvleder-emballeringslim.
Opdag mikroporer, nano-ridser, lim-delaminering, bobler og subtile overfladeujævnheder.
Højpræcisions miniaturekomponenter:
Stik, terminaler, mikrofjedre, bittesmå stemplede emner.
4K-pixel-niveau nøjagtig måling af mellemrum, huldiametre, pitch og overflade-højde-forskelle; DIC visualiserer
subtil krympe-deformation.
Universitetslaboratorier og High-End Semiconductor QC:
Materialeforskningseksperimenter, inspektion af wafers indgående varer, observation af metallografiske prøver; foto-video
arkivering, eksport af præcise målerapporter via pc.
Udstyret med indbygget 3840*1080-kompatibel 4K-billedbehandling. Velegnet til metallografisk analyse, chip-kredsløbsinspektion og professionel-test-rapport-generering; viser tydeligt metalkorn, mikroridser og små mikrofejl.
Hardware autofokus udstyret, passer til masseproduktionsinspektion og hyppig prøveudskiftning. Opnår hurtigt fokusering efter prøvebevægelse uden gentagen manuel justering for at forbedre testeffektiviteten. Manuel fokustilstand er også tilgængelig for statisk prøveobservation.
Standard manuelt bevægeligt trin og vertikal trinokulær metallurgisk optisk bane til spånskiver, små-mellemstørrelse PCB'er og metalprøver, der effektivt undertrykker reflekterende blænding til metallografisk inspektion. Motordrevet XY-trin kan være valgt som valgfri opgradering.
Dobbelt forstørrelsesområde: 50-500X optisk forstørrelse, 190-1900X digital forstørrelse. Dækker begge fuldeksemplarer oversigt og mikro-korn / mikro-fejl inspektion.
Understøtter indbygget måling på enheden og måling af pc-software. Udstyret med HDMI, USB3.0 og WIFI udgang havne. Fotos, videoer og måledata kan gemmes via U-disk eller computer. Sekundær-udvikling understøttet til produktionslinjeintegration og lab-data-sporbarhed.
Neutral-pakning forsendelse er tilgængelig efter anmodning.
| Punkt | Beskrivelse |
| Produkt | GP-L600-462H Wafer Inspection Metallurgical Microscope med 4K Ultra HD og autofokus |
| Kategori | Laboratorieforskningskvalitet trinokulært metallurgisk mikroskop, der understøtter DIC differentiel interferens, lysfelt / mørkt felt / polariseret lys observation |
| Kerneteknologier | Trinokulært synkront visningssystem, integreret multi-mode belysning (lysfelt, mørkt felt, polarisator, differentiel-interferens-kontrast DIC), højpræcision professionel metallurgisk objektivsæt, 4K ultra-HD CMOS billedsensor, hardware autofokus modul, tredobbelt kanal transmission (HDMI+USB3.0+WIFI), dobbeltmålesystem, dybdeskarphedssyntese og billedsammensætningsalgoritme, åben arkitektur, der understøtter integration i sekundær udvikling |
| Nøglespecifikationer | Visuel forstørrelse: 50/100/200/500×; Elektronisk forstørrelse: 190/380/760/1900×; Tredobbelte udgangsporte: HDMI + USB3.0 + WIFI; 4K-optagelsesopløsning: 3840×2160; Hardware autofokus udstyret (manuel fokus også tilgængelig); Dobbelte måletilstande: indbygget præcis måling + matchet pc-softwaremåling; Dobbelt-lagringstilstande: U-disk-lagring + computer-software-lagring; Skærmterminal understøtter dimensionelle måling, forhåndsvisning af HD-billeder, foto-video-optagelse, syntese af dybdeskarphed; PC-terminal understøtter dimensionsmåling, fillagring, dybdeskarphedssyntese og billedsammensætning; Understøtter hele enheden sekundær udviklingsintegration. |
| Typiske applikationer | Halvleder-wafer-fejl-analyse, metal-materiale metallografisk-inspektion, belægning-tynd-film- mikrostruktur-observation, præcision-halvleder-pakke-testning, avanceret-materiale-laboratorie-forskning, medicinsk-biomateriale-observation, mikro-defekt-detektion for elektroniske-komponenter |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Producentens placering | Kunshan, Jiangsu, Kina (ved siden af Shanghai) |
| Model | GP-L600-462H |
| Opløsning | 3840×2160 |
| Virkelig effektive pixel | 8.300.000 pixels |
| Fokuseringsmetode | autofokus |
| Optisk format | 1/1,8" |
| Pixel størrelse | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Outputmetode | HDMI + USB3.0 + WIFI |
| Detaljerede funktionelle introduktioner svarende til hver output-grænseflade | ① HDMI tilsluttes til 4K-kompatible skærme. Integreret professionel billedbehandlingsfirmware understøtter
hardwaredrevet autofokus, fotooptagelse, videooptagelse, dimensionsmåling, billedafspilning
og
billedsammenligning, betjent af mus i realtid. ② USB 3.0 tilsluttes til computer, medfølger professionel billedbehandlingssoftware af høj kvalitet til fotooptagelse, dimensionsmåling, dybdeskarphedsfusion og billedsammensætning. ③ WIFI-modul forbindes til bærbare computere eller mobile enheder; realtid billedtransmission, fotografering og lagring via matchende software. |
| Billedhastighed | HDMI: 60fps @3840×2160 USB3.0: 30fps @3840×2160; 60fps @1920×1080 WIFI: 30fps @3840×2160; 60 fps @1920×1080 |
| Dybdefeltsyntese | Understøttet af både HDMI on-monitor firmware og pc-software |
| Billedsøm | Kun understøttet på pc-softwaresiden |
| Målemetode | Indbygget on-monitor målesystem + PC-software måling |
| Målenøjagtighed | 0,002-0,005 mm |
| Måleenheder | mm / μm / mil / tomme (4 omskiftelige enheder) |
| Måleværktøjer | Længde, vinkel, radian, cirkel, polygon, polylinje, center-til-center afstand, rektangel, annotering tilføjer, automatisk kantregistrering, skaleringsbjælke og mere |
| Opbevaringsmetode | U-disk lagring + PC-software lagring |
| Vis sprog | Forenklet kinesisk / engelsk (kan skiftes) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz hovedstyringsprocessor |
| Operativsystem | Uafhængigt udviklet målefirmware baseret på Linux 3.1 kerne |
| Billednavngivning | Automatisk eller manuel navngivning tilgængelig |
| Visningshoved | 30° skråtstillet trinokulært hoved; interpupillær justeringsområde: 54-76 mm; to stråleopdeling forhold: 100:0, 0:100 |
| Observationstilstande | ★ Lysfelt / Mørkt felt / Polariseret lys / DIC (DIC-hardware er valgfri) |
| Belysningssystem | Transmitteret-reflekteret faldende lys belysningssystem, 100-240V bredspændingsindgang, justerbar filament center, kontinuerligt justerbar lysintensitet. |
| Stå | ① Transmitteret-reflekteret stativ med to formål; lav håndposition koaksial grov-fin fokuseringsmekanisme.
Grovjustering slaglængde: 33 mm; finjusteringsnøjagtighed: 0,001 mm. Udstyret med låsning og begrænsning
enheder. ② Lysfelt- og mørkfeltreflektor med variabel blændestop, feltstop og justerbar center samling. ③ Interferensfilter og farvebalanceplade (hvidt-lys) til reflekteret lys optisk vej. ④ lys-mørke-felt skifte enhed; slots til farvefiltre og polariserende tilbehør. |
| Mekanisk scene | 4-tommer manuel mekanisk scene. Scenedimension: 230 mm × 215 mm; X-Y vandring: 105 mm × 105 mm. Glas prøvebærerplade til både transmitteret og reflekteret observation. |
| Lyskilde | 12V 100W halogenlampekammer (reflekteret lys); 12V 100W halogenlampe (gennemlys). |
| Polarisationsfunktion | 30-graders polarisatorstik (reflekteret lys); 360° drejeligt analysatorstik til polariseret lys observation. |
| Okularer | To PL10X/22 mm vidvinkel plan-felt okularer med justerbar dioptri (et okular med trådkors skala). |
| Næsestykke | ★ Objektiv næsestykke med fem huller i lyst og mørkt felt |
| DIC funktion | Differential-interferens-kontrast funktion; DIC-indsatskorttilbehør er valgfrit og ikke inkluderet ind standard konfiguration. |
| Elektronisk grænseflade | 0,5X C-mount kamera interface, justerbar fokus; CTV 1X er valgfri med pris-forskel kompensation. |
| Metallurgiske mål | ★ Bright-mørke felt semi-destruktive metallurgiske mål ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0.15, fungerer Afstand: 9,00 mm ×1 stk ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, arbejdsafstand: 9,00 mm × 1 stk. ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Arbejdsafstand: 3,40 mm × 1 stk ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, arbejdsafstand: 7,50 mm × 1 stk. ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, Arbejdsafstand: 2,10 mm (valgfrit, ikke inkluderet i standardpakken) |
| Optisk forstørrelse | 50X, 100X, 200X, 500X (kan skiftes i fire niveauer) |
| Elektronisk forstørrelse | Ca. 190X, 380X, 760X, 1900X (kan skiftes i fire niveauer); valgfrit forstørrelsesområde: 380-3800X. |
GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Optoelektronisk komponenttest og fejlanalyse
Xi'an Jiaotong University – Avanceret-materialevidenskab og præcisionsoptik eksperimentel-observation
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Avanceret-optisk-forskning & optisk-komponent-karakterisering
Tianjin University of Commerce – Materiale-laboratorie-undervisning, mikro-billeddannelse og eksperimentel-data-arkivering
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanalyse af uorganisk-keramik og nye-energi-materialer
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensions- og mikrofejldetektion til præcisionsbearbejdede dele
A1: Udstyret med HDMI-, USB3.0- og WIFI-grænseflader. Den understøtter direkte skærm og kablet/trådløs pc forbindelse til kollaborativ-detektion.
A2: Den understøtter 4K ultra-HD foto- og videooptagelse. Filer kan gemmes på FAT32-formateret U-disk inden for 32 GB kapacitet eller computer-lagring. Understøtter både skærm- og pc-software præcis måling, med databesparelse og rapport-eksport-funktioner.
A3: Tjek strømforsyning og matchende adapter; fastgør HDMI-kablet godt og skift skærm til korrekt signalkilde; genstart enheden for at løse fejl med sort skærm, ingen billeder og skærmflimmer.
A4: Denne model understøtter hardware autofokus og manuel fokus dual-modes. Du kan aktivere autofokus for hurtig billeddannelse eller finjustere manuelt. Lås objektivlinsen godt fast, læg prøven fladt, ren regelmæssigt linsestøv og fingeraftryk for at få skarpe billeddannelse.
A5: Det understøtter USB-kablet og WIFI trådløs PC-forbindelse. Installer officiel målesoftware, deaktiver firewall eller aflytning-programmer, gentilslut hardware og genstart software til normal genkendelse.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. blev officielt grundlagt i 2011. Vores stifter-team akkumulerede rige optisk-inspektion-instrument-industri-erfaring med start i 2005. Vi leverer fuld-cyklus-tjenester, der dækker produktdesign, in-house-R&D, globalt salg og omfattende-eftersalgs-vedligeholdelsesservices. Vores faglært ingeniørteam har mere end ti års erfaring med udvikling af optiske instrumenter for at sikre stabil-teknisk ydeevne og pålidelig produktkvalitet.
GAOPIN leverer mere end hundrede kategorier af optiske-test-instrumenter industri- og laboratoriekunder på verdensplan. Vi udvikler fleksible, omkostningseffektive skræddersyede mikroskopi-løsninger til mangfoldig-industriel-kvalitetskontrol og laboratorie-analyse-projekter.
Til oversøiske købere tilbyder vi lydhør verdensomspændende teknisk support, herunder fjern-online-konsultationer, praktisk-video-tutorials og live-fjernudstyr-drift-træning. Vores produktionsanlæg ligger i Kunshan, Jiangsu-provinsen (tæt på Shanghai). Fabriksbesøg på stedet og virtuelle online-ture er velkomne. Kontakt venligst vores salgsteam for autentiske-prøve-test-billeder taget med dette Wafer Inspection Metallurgical Microscope med 4K Ultra HD og autofokus til at evaluere real-billed-ydeevne.
Adresse
Bygning 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tlf
