GP-L700-462H er et metallurgisk mikroskop med lang arbejdsafstand med autofokus. Den er udstyret med lang arbejdsafstand mål og lysfeltobservationstilstand. Ekstra intern arbejdsafstand rummer højdeforskel prøver. 4K high-definition billeddannelse leverer skarp mikrostruktur og overfladedefekte detaljer. Den trinokulære port understøtter kamera-modul og billedanalyse-software opgradering. Udbredt i universitetsforskningsinstitutter og industrielle QC-laboratorier til mikroobservation og kvalitetsevaluering af metalliske og ikke-metalliske prøver.
Dette autofokus metallurgiske mikroskop med lang arbejdsafstand er velegnet til inspektion af præcisionskomponenter, integrerede kredsløb og emballagemateriale produkter.
1. Forstørrelse:380-3800X fire-hastigheds høj forstørrelse til korn-og-chip-mikrostruktur observation. Almindelige metallurgiske mikroskoper leverer lavere maksimal forstørrelse og slørede billeder med høj effekt, og kan ikke observere ultrafine metalkorn.
2. Billedbehandlingssystem:Native 4K ultra-HD-kamera, synkroniseret okular-og-skærmvisning. Almindelig metallurgiske mikroskoper bruger lav-definition 2K-kvalitet kamera og kun okular-visning.
3. Måling og opbevaring:Indbygget på skærmen præcis måling med foto-video-optagelse til test-bevis-arkivering. Almindelige metallurgiske mikroskoper har ingen indbygget måling og kræver pc-software til alt opmålings- og arkiveringsarbejde.
4. Anvendelsesområde:Optimeret til præcis inspektion af wafers, halvlederchips og metal korn. Almindelige metallurgiske mikroskoper er begrænset til simpel metal-skive observation med dårlig ydeevne for fine prøver af spånkvalitet.
4K-kamera integreret med trinokulært hoved til samtidig visning via okularer og monitor. Multi-port udgang via HDMI, USB3.0 og WIFI transmitterer ultra-HD mikrobilleder i realtid.
Præcision flerlags linse optisk vej med fire-trins forstørrelse; maksimal digital forstørrelse op til 3800X, at fange skarpe mikrostrukturer på mikronniveau af wafers, chips og krystalkorn.
Indbygget hardware autofokus modul; manuel fokustilstand er også tilgængelig. Giver stabil, vibrationsfri fokusering og forbedrer inspektionseffektiviteten til masseprøvetestning.
Fortykket firkantet metalbund med solid støttearm sænker tyngdepunktet og undgår skift/rystning under lang time kontinuerlig højeffektobservation.
Stiv sort-hvid metalhus med aftageligt delt lyskildemodul, minimalistisk professionel styling til laboratorier og halvlederværksteder.
Optimeret til wafer-and-chip-inspektion; også bredt anvendt til halvledertestning, metallografisk analyse, materialeforskning og industrielt kvalitetskontrolarbejde.
4K foto- og videooptagelse, dobbeltmålingstilstande (indbygget på skærmen + pc-software). Dobbelt lagring via U-disk & computer. Dybde-of-field-syntese kører både on-monitor og pc-software; billedsammensætning kun tilgængelig i PC-software. Sekundær udvikling understøttet til billedarkivering, sammenligning og avanceret analyse.
Mekanik:Fuldmetalkonstruktion for høj stivhed og vibrationsmodstand. Ekstra lang arbejdsafstand til observation af høj-højde-prøve. Hardware autofokus modul udstyret, manuel fokus tilstand også tilgængelig. Præcis grov-fin fokusering uden tilbageslag. Slidfast manuel XY mekanisk trin. Trinokulær optisk vej opretholder optisk co-alignment, når du skifter mål.
Optik:Infinity-korrigerede plan-akromatiske metallurgiske objektiver med anti-dug hård belægning. Reflekterende lys 6V-30W halogenlampe belysning.
Billedbehandling og måling:8,3-megapixel 4K industrielt CMOS-kamera. Multi-output: HDMI + USB3.0 + WIFI, god anti-interferens ydeevne til brug i industrielt miljø. Understøtter indlejret måling på skærmen og PC-software måling. Dual-path lagring via U-disk og pc-software. Dybde-of-field syntese kører både on-monitor og pc-software; billedstikning, der udelukkende understøttes af pc-software. Sekundær-udviklingsgrænseflade tilgængelig via USB3.0 / WIFI.
Driftsmiljø:Arbejdstemperatur 10-35 ℃, relativ luftfugtighed 30-75% RH. Stabil under regulær fabriks elektromagnetiske miljø. Undgå kraftige vibrationer, ætsende gasser og kraftigt støv. Hold WIFI-modulet væk fra stærke signal-interferenskilder.
Kvalitet og vedligeholdelse:Fuldstændig fabriksinspektion. Skil ikke optiske moduler ad eller autofokus modul. Regelmæssig støvtæt rengøring forlænger levetiden.
Halvleder og mikroelektronik (kerneapplikation):
Siliciumwafers, litografiskiver, IC-chips, MOS-rør, PCB'er, FPC fleksible kredsløb, pakkede loddesamlinger.
Inspektionsmål: chip-overflade-mikrokredsløbsmønstre, wafer-ætsningsfejl, belægningsridser,
emballage-bobler, kold-lodde-samlinger, oxidation og stift-deformation. Ultrahøj forstørrelse op til 3800X for
mikron-skala chip-slice observation.
Metallografiske metalprøver og metalskæreværktøj:
Legerede metallografiske sektioner, stålskiver, præcisionsstemplet metalhardware.
Inspektionsmål: metal-korn-struktur, varmebehandling-metallografisk-analyse, mikro-overflade-revner,
banebrydende afslag, grater, slidspor og indvendige materiale-urenheder.
Laboratorieforskningsprøver: Krystal, pulver og tyndfilm:
Enkelt-/poly-krystaller, metalpulver, kemisk pulver, optiske-coating-film, ultra-tynde-film-materialer.
Observer mikro-krystal-gitter, ultra-fine-partikel-morfologi, film-delaminering og mikro-coating-teksturer.
Optoelektroniske præcisions-plastikkomponenter:
LED-chips, optiske-glas-linser, halvleder-emballage-lim.
Opdag mikroporer, nano-ridser, lim-delaminering, bobler og subtile overfladeujævnheder.
Miniature præcisionskomponenter:
Konnektorer, terminaler, mikrofjedre, små præcisionsstemplede emner.
4K-pixel-niveau nøjagtig måling af mellemrum, hul-diametre, pitch og overflade-højde-forskelle; DIC visualiserer
subtil krympe-deformation.
Universitetslaboratorier og High-End Semiconductor QC:
Materiale-forskning-eksperimenter, metallurgi-undervisning-analyse, indgående-og-færdige-varer-wafer-prøveudtagning-inspektion;
foto-video arkivering, eksport præcise målte QC-rapporter via pc.
Udstyret med indbygget 3840*2160 4K ultra-HD-billeddannelse. Velegnet til wafer-metallografisk-inspektion og metal-materiale-analyse; viser tydeligt kornteksturer, mikroridser og små mikrofejl.
Hardware autofokus udstyret til masseproduktionsinspektion og hyppig prøveudskiftning. Hurtig fokusering efter bevæger sig arbejdsemner uden gentagen manuel justering for at øge effektiviteten. Manuel fokustilstand er også tilgængelig for statisk prøveobservation.
Uafhængig delt koaksial lyskilde til metalprøver, wafers og reflekterende PCB'er. Lodret koaksial belysning undertrykker metalreflekterende blænding og genopretter ægte metallografiske teksturer. Motordrevet XY-trin kan vælges som valgfri opgradering.
Dobbelt forstørrelsesområde: 50-500X optisk forstørrelse, 380-3800X digital forstørrelse. Dækker begge fuldeksemplarer oversigt og mikro-korn / mikro-fejl inspektion.
Understøtter indbygget måling på enheden og måling af pc-software. Udstyret med HDMI, USB3.0 og WIFI udgang havne. Fotos, videoer og måledata kan gemmes via kompatibel U-disk eller computer. Understøttet sekundær udvikling for produktionslinjeintegration og lab-data-sporbarhed.
Neutral-pakning forsendelse er tilgængelig efter anmodning.
| Punkt | Beskrivelse |
| Produkt model | GP-L700-462H Metallurgisk autofokusmikroskop med lang arbejdsafstand |
| Produktkategori | Vertikalt metallurgisk mikroskop i høj forstørrelse i forskningskvalitet |
| Kerneteknologier | Trinokulært synkront visningssystem, opdelt koaksialt vertikalt lyskildemodul, høj opløsning metallurgisk objektiv-objektivsæt, 4K ultra-HD CMOS-billedsensor, hardware autofokussystem, tredobbelt kanal transmission (HDMI+USB3.0+WIFI), dobbeltmålesystem, dybdeskarphedssyntese og billedsammensætning algoritme, åben arkitektur, der understøtter sekundær udviklingsintegration |
| Nøglespecifikationer | Optisk forstørrelse: 50/100/200/500×; Elektronisk forstørrelse: 380/760/1520/3800×; Triple-output havne: HDMI + USB3.0 + WIFI; 4K-optagelsesopløsning: 3840×2160; Hardware autofokus udstyret (manuel fokus også tilgængelig); Dobbelte måletilstande: indbygget præcis måling + matchet pc-softwaremåling; Dobbelt-lagringstilstande: U-disk-lagring + computer-software-lagring; Skærmterminal understøtter dimensionelle måling, forhåndsvisning af HD-billeder, foto-video-optagelse, syntese af dybdeskarphed; PC-terminal understøtter dimensionsmåling, fillagring, dybdeskarphedssyntese og billedsammensætning; Understøtter hele enheden sekundær udviklingsintegration. |
| Typiske anvendelsesscenarier | Wafer-chip-korn observation, halvleder-emballage mikro-defekt-inspektion, metal-materiale metallografisk-analyse, præcision-kredsløb mikro-defekt-detektion, elektronisk-komponent-fejlanalyse, avanceret-materiale-laboratorie-forskning |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Fabriksplacering | Kunshan City, Jiangsu-provinsen, Kina (ved siden af Shanghai) |
| Model | GP-L700-462H |
| Opløsning | 3840×2160 |
| Virkelig effektive pixel | 8.300.000 pixels |
| Fokuseringsmetode | Autofokus |
| Optisk format | 1/1,8" |
| Pixel størrelse | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Outputmetode | HDMI + USB3.0 + WIFI |
| Detaljerede funktionelle introduktioner svarende til hver output-grænseflade | ① HDMI tilsluttes til 4K-kompatible skærme. Integreret professionel billedbehandlingsfirmware understøtter
hardwaredrevet autofokus, fotooptagelse, videooptagelse, dimensionsmåling, billedafspilning
og
billedsammenligning, betjent af mus i realtid. ② USB 3.0 tilsluttes til computer, medfølger professionel billedbehandlingssoftware af høj kvalitet til fotooptagelse, dimensionsmåling, dybdeskarphedsfusion og billedsammensætning. ③ WIFI-modul forbindes til bærbare computere eller mobile enheder; billedtransmission i realtid, fotografering og lagring via matchende software. |
| Billedhastighed | HDMI: 60fps @3840×2160 USB3.0: 30fps @3840×2160; 60fps @1920×1080 WIFI: 30fps @3840×2160; 60 fps @1920×1080 |
| Dybdefeltsyntese | Understøttet af både HDMI on-monitor firmware og pc-software |
| Billedsøm | Kun understøttet på pc-softwaresiden |
| Målemetode | Indbygget on-monitor målesystem + PC-software måling |
| Målenøjagtighed | 0,002-0,005 mm |
| Måleenheder | mm / μm / mil / tomme (4 omskiftelige enheder) |
| Måleværktøjer | Længde, vinkel, radian, cirkel, polygon, polylinje, center-til-center afstand, rektangel, annotering tilføjer, automatisk kantregistrering, skaleringsbjælke og mere |
| Opbevaringsmetode | U-disk lagring + PC-software lagring |
| Vis sprog | Forenklet kinesisk / engelsk (kan skiftes) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Maks. 1,4 GHz hovedstyringsprocessor |
| Operativsystem | Uafhængigt udviklet målefirmware baseret på Linux 3.1 kerne |
| Billednavngivning | Automatisk eller manuel navngivning tilgængelig |
| Visningshoved | 30° skråtstillet trinokulært hoved; interpupiljusteringsområde: 53-75 mm |
| Observationstilstande | Lysfelt / skrå belysning / simpel polarisering |
| Belysningssystem | Belysningssystem med faldende lys, 100-240V bredspændingsindgang, justerbar glødetrådscenter, kontinuerligt justerbar lysintensitet. |
| Stå | ① Skydestativ, koaksial grov-fin fokuseringsmekanisme med låse- og begrænsningsanordninger;
finbevægelses gradueringsværdi: 2 μm. Halogen-lampe reflekteret lys belysning. ② Lysfelt reflektor med variabel blændestop, feltstop og farvefilter-omskifter. ③ Gul, blå, grønne filtre og matteret glasplade leveres til reflekteret lys optisk vej. |
| Mekanisk scene | Grundmål: 300 mm × 240 mm; Scenedimension: 185 mm × 140 mm; X-Y vandring: 35 mm × 30 mm. Velegnet for relativt høje emner. |
| Lyskilde | 6V 30W halogenlampekammer (kun reflekteret lys). |
| Enkel polariseringsfunktion | Push-pull type polarisator og analysator installeret |
| Elektronisk grænseflade | 1X C-mount kamera interface, ikke-justerbar fokus; CTV 0.5X er valgfrit med prisforskel kompensation. |
| Okularer | To WF10X/22 mm vidvinkel plan-felt okularer med individuel dioptrijustering |
| Næsestykke | ★Mingchang fem-hullers objektiv næsestykke |
| Metallurgiske mål | ★ Infinity-korrigerede plan-akromatiske metallurgiske mål ① PL L5X/0,12, arbejdsafstand: 26,1 mm × 1 stk ② PL L10X/0,25, arbejdsafstand: 20,2 mm × 1 stk. ③ PL L20X/0,40, arbejdsafstand: 8,80 mm × 1 stk ④ PL L50X/0,70, arbejdsafstand: 3,68 mm × 1 stk. ⑤ PL L100X/0,85, arbejdsafstand: 0,40 mm (valgfrit, ikke inkluderet i standardpakken) |
| Optisk forstørrelse | 50X, 100X, 200X, 500X (kan skiftes i fire niveauer) |
| Elektronisk forstørrelse | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X (kan skiftes i fire niveauer); valgfrit forstørrelsesområde: 190-1900X. |
GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:
Zhejiang Maitong Intelligent Manufacturing Technology Co., Ltd. – Mikroskopisk dimensionsinspektion til automatiseret præcisionsbearbejdede dele
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensions- og mikrofejldetektion til præcisionsbearbejdet dele
Tianjin University of Commerce – Materiale-laboratorie-undervisning, mikro-billeddannelse og eksperimentel-data-arkivering
Fudan University – Mikro-nano-materialer og biomedicinsk mikroskopisk-observation-forskning
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanalyse af uorganisk-keramik og nye-energi-materialer
DOOV – Mobil-enhed-samling-inspektion, skærm- og komponent-udseende-test
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. blev formelt grundlagt i 2011. Vores stifterteam akkumulerede rige optisk-inspektion-instrument-industri-erfaring med start i 2005. Vi leverer fuld-cyklus-tjenester, der dækker optisk-design, uafhængig-R&D, globalt-salg og omfattende-efter-salg-vedligeholdelse-services. Vores højtuddannet ingeniørgruppe har mere end ti års praktisk erfaring med udvikling af optiske instrumenter til levere gennemprøvet-stabil-teknologi og pålidelig-produkt-kvalitet.
GAOPIN opretholder en bred optisk produktportefølje med mere end hundrede inspektionsorienterede instrumenter betjener industri- og laboratoriekunder over hele verden. Vi udvikler fleksible, omkostningseffektive tilpassede mikroskopi-løsninger at matche forskellige-industrielle-test-mål.
Hurtig verdensomspændende teknisk bistand ydes til oversøiske partnere, herunder virtuelle-online-diskussioner, praktisk- video-walk-throughs og live-fjernoperatør-træning. Vores produktionslokaler er beliggende i Kunshan, Jiangsu provins (tæt på Shanghai). Fabriksbesøg på stedet og virtuelle online-ture er hjerteligt velkomne. Kontakt venligst vores salgsteam for autentiske-prøve-test-billeder taget med dette Long Working Distance Metallurgical Auto-Focus Mikroskop til vurdere reel billeddannelsesevne.
A1: Udstyret med HDMI, USB3.0 og WIFI interfaces. Den understøtter selvstændig skærmdrift eller kablet/trådløs pc kollaborativ-detektion.
A2: Den understøtter 4K ultra-HD foto- og videooptagelse. Filer kan gemmes på FAT32-formateret U-disk inden for 32 GB kapacitet eller computer-opbevaring. Understøtter både skærm- og pc-software præcis måling, inklusive dimensionsmærkning, data-arkivering og rapport-eksport funktioner.
A3: Tjek strømforsyning og matchende adapter; fastgør HDMI-kablet godt og skift skærm til korrekt signalkilde; genstart enhed til at løse sort-skærm, ingen-billede og skærm-flimmer-fejl.
A4: Denne model understøtter hardware autofokus og manuel fokus dual-modes. Aktiver autofokus for hurtig billeddannelse eller finjustering manuelt. Lås objektivlinsen godt fast, læg prøven fladt og rengør regelmæssigt objektivstøv og fingeraftryk for skarpe billeddannelse.
Adresse
Bygning 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tlf
