Velegnet til laboratorie- og produktionslinjemateriale mikrotestning, denne enhed er et robust 4K Ultra HD autofokus metallurgisk mikroskop til metalanalyse. Den er udstyret med professionel uendelighedskorrigeret optik og modulære rammer støtter on-demand udvidelse af lysfelt, polariserede lystilstande til testning af transparente og ikke-transparente prøver. Forstærket anti-vibrationschassis undertrykker ekstern vibration for at levere driftfri stabil billeddannelse under høj forstørrelse. Praktisk styringslayout og stort arbejdsområde letter langtidskontinuerlig drift. Frit kombinerbare moduler undgår udskiftning af hele enheden, hvilket giver fleksibilitet og omkostningsbesparelser til industriel inspektion og metallurgisk-analyse arbejde.
4K-kamera integreret med trinokulær krop til samtidig okular- og skærmvisning. Tredobbelte udgangsporte: HDMI, USB3.0 og WiFi til ultra-HD mikrobilleder i realtid.
Optisk forstørrelse 50-600 ×, maks. digital forstørrelse 4560 × med fire-trins objektivzoom. Præcision optisk vej afslører bittesmå mikrostrukturer af halvledere, pulvere og fiberprøver.
Indbygget autofokusmodul giver jævn, vibrationsfri fokusering og forbedrer inspektionseffektiviteten for masseprøvetestscenarier.
Tyk støbt aluminiumsbund med afbalanceret vægt sikrer ingen slingre eller forskydning under langvarig udskæring og prøvetagning observation.
Minimalistisk hvid-blå forskningsstil trinokulært design, perfekt egnet til universitetslaboratorier og industri kvalitetskontrolværksteder.
Udbredt i halvledertestning, metalmetallografi, materialefejlsanalyse, akademisk forskning og komponent-kvalitets-inspektionsarbejde.
Understøtter 4K foto- og videooptagelse; dobbelte måletilstande: indbygget måling på skærmen + pc-softwarebaseret måling. Dobbelt lagring via USB-flashdrev og computer. Udstyret med dybdeskarphed-stabling og billedsyning funktioner; sekundær udvikling understøttet til praktisk billedarkivering, sammenligning og avanceret dataanalyse.
Kikkertvisning og synkron elektronisk observation:Synkroniseret visning mellem okular og overvåge. Almindelige metallurgiske mikroskoper understøtter kun visning af okularer; ekstra kameratilbehør er kræves til skærmoutput.
Native 4K ultra-high-definition billedbehandling + autofokus:Leverer 3840 × 2160 4K opløsning plus hardware autofokus til prøver med ujævn tykkelse. Almindelige metallurgiske enheder stoler fuldt ud på manuel fokusering med lavere billedopløsning.
Triple-output grænseflader:HDMI + USB3.0 + trådløs trådløs transmission. Traditionel metallurgisk enheder har for det meste kun PC-USB-forbindelse uden mulighed for trådløs transmission.
Dobbelte måletilstande:Offline indbygget måling på skærmen plus pc-software-baseret måling. Almindelige metallurgiske mikroskoper understøtter kun måling på pc-siden uden hardware-indlejret målefunktion.
Dual-lagringstilstande:Offline USB-flashdrev-lagring og pc-software-lagring; gemme tilgængelige data med eller uden computer. Konventionelle modeller kræver pc til billedlagring.
Avanceret billedbehandlingsalgoritme:Indbygget dybdeskarphed stabling på skærm plus pc-side billedstikning til metallografiske prøver i ujævn højde. Generelle metallurgiske mikroskoper mangler sådanne indlejrede algoritme-funktioner.
Understøttet sekundær udvikling:Multi-channel interfaces muliggør automation-produktionslinje integration. Generelle metallurgiske mikroskoper understøtter ikke sekundær udviklingsintegration.
Modulær udvidelig optisk vej:Understøtter tilføjelse af polariseret lys og andre observationsmoduler uden at udskifte hele enheden. Almindelige digitale mikroskoper mangler dedikeret metallurgisk optisk vej og kan ikke observere fine metallurgiske-mikrostrukturer.
Ved at anvende en indbygget 3840 × 2160 4K industriel billedsensor, opnår enheden high-fidelity-gendannelse af mikroskopiske morfologier såsom metal-korn-strukturer, halvleder-wafer-mikro-teksturer, pulver-partikel-former og fiber-væv-karakteristika. Det realiserer ensartet fuldfeltsbilleddefinition uden perifer sløring eller signal dæmpning.
Indbygget hardware autofokus-modul er valideret på metallografiske skiver med ujævn tykkelse, halvlederchips og kompositmateriale-prøver. Instrumentet er udstyret med et fire-trins objektiv variabel forstørrelsessystem dækker en samlet forstørrelsesområde på 380-4560 ×. Den opfylder krav til dobbeltapplikationer: laveffekt makroskopisk fuldvisning scanning og ultra-high-power mikroskopisk mikrostruktur finanalyse, fuldt anvendelig til universitets-videnskabelig- forskning, materialeanalyse og industriel højpræcisionskvalitetsinspektion.
Det indlejrede professionelle metallurgiske målemodul understøtter højnøjagtig dimensionsberegning og realtid grafisk annotering. Den integrerer et-klik high-definition snapshot og langtids dynamisk video-optagelse funktioner. Alle inspektionsdata og billedfiler understøtter eksport og permanent arkivering, hvilket giver gyldig dataunderstøttelse til akademisk- eksperimentelle-rapporter og industrielle-kvalitet-sporbarhed-systemer. Dybde-of-field stabling er tilgængelig både på HDMI-skærm og pc-software; billedsammensætning er tilgængelig via pc-software.
Det professionelle trinokulære optiske rør realiserer synkron optisk-okular-observation og digital-monitor-display. Det dobbeltvejs transmitterede og reflekterede belysningssystem er kompatibelt med uigennemsigtige metalprøver, gennemsigtige-pulver-fiber skiver-prøver og halvleder-wafer-materialer. Præcisions XY-aksen mekanisk-bevægelig-stadie har ultraglat transmission og høj positioneringsnøjagtighed, hvilket muliggør effektiv og præcis prøvedetektion. Autofokus-hardwaremodul består langtidsstabilitetsældningstest før levering fra fabrikken.
Halvleder og mikroelektronik:Siliciumwafers, fotolitografiskiver, IC-chips, PCB-plader, FPC fleksible kredsløb. Inspektionsmål: Mikrochip-kredsløb, belægningsfejl, wafer-fejl, kold-loddedefekter, kredsløbsridser og pindeformation; observere mikron-slice-strukturer under maks. 4560 × forstørrelse.
Metallografiske metalprøver:Metallografiske skiver, stållegeringer, bor, fræsere, præcisionsstemplet-hardware. Inspektionsmål: Metallografisk-kornstruktur-analyse, varme-behandling-materiale-identifikation; registrere kantafslag, mikrorevner, grater og sliddybde.
Laboratorieprøver: Pulver og fiber:Metal-pulver, kemisk-pulver, kulfiber, tekstil-fiber, tyndfilmsmaterialer. Inspektionsmål: Overhold partikelmorfologi, fibertekstur, filmdelaminering og mikromateriale-strukturer.
Optoelektroniske og præcisions-plastiske dele:LED-chips, optiske linser, sprøjtestøbte dele, tætningslim. Inspektionsmål: Opdag mikroporer, overfladepletter, ru kanter, limbobler og bittesmå kosmetiske fejl.
Højpræcisions miniaturekomponenter:Stik, terminaler, mikrofjedre, miniature-stemplede-arbejdsstykker. Inspektionsmål: Observer bittesmå mellemrum og krympeflade; udføre pixel-niveau præcis måling af længde, huldiameter og stigning.
Laboratorie- og industriel QC-arkivering:Materiale-forskning-eksperimenter, indkommende-&-færdige-varer prøveudtagning-inspektion; foto- og videoarkivering for defekte bevisoptegnelser og eksport af QC til formel måling rapporter.
Optisk forstørrelse spænder fra 50-600 ×, maks. digital forstørrelse op til 4560 × med indbygget 3840 × 2160 4K-opløsning. Det viser tydeligt bittesmå strukturer såsom metalkorn, wafer-teksturer, ultratynde belægninger og mikrorevner, ideel for høj standard-analyse af chips, nye materialer og galvaniserede dele.
Indbygget hardwareautofokus eliminerer gentagne manuel fokusjusteringer for prøver med ujævn tykkelse. Stort set forbedrer effektiviteten for batch-metallografisk-slice-testning og laboratorieanalysearbejde med flere prøver.
Tredobbelte udgangsporte: HDMI, USB3.0 og WiFi. HDMI til visning på stedet; USB3.0 til højhastigheds-pc-analyse; WiFi muliggør trådløs casting til mobile enheder til spot-sampling-inspektion og team-online-diskussion.
To-måleløsninger: hurtig indbygget måling på monitor, højpræcision professionel måling via PC-software. Understøtter dybdeskarphed-stabling (skærm + pc-side) og pc-side-billedsting for at generere fuldt-fokuserede sammensatte-billeder til ujævn højde-prøver. Sekundær-udvikling-grænseflade reserveret til produktionslinje-system-integration.
Trinokulær synkron-optisk sti muliggør samtidig visning via kikkert-okularer og 4K-monitor. Flere operatører kan kontrollere den samme mikroprøve sammen, perfekt til universitetsmaterialeundervisning og QC-dobbelt- tjek igen. Dobbelt-lagringstilstande: USB-flashdrev lokal-lagring og PC-batch-arkivering for langsigtet kvalitetssporbarhed og rapportgenerering.
Neutral-pakning forsendelse er tilgængelig efter anmodning.
| Entitet | Beskrivelse |
| Produkt | GP-L300-462H 4K Ultra HD autofokus metallurgisk mikroskop til metalanalyse |
| Kategori | Trinokulær 4K autofokus i industriel forskning, højeffekt metallografisk inspektion og måling Mikroskop |
| Kerneteknologier | Trinokulært synkron-observation optisk-system, høj-effekt dedikeret metallurgisk objektiv-linse-gruppe, 4K ultra-high-definition CMOS billeddannelsessensor, hardware autofokus modul, multi-channel-signal-transmission (HDMI+USB3.0+WiFi), dobbelt-digital-målemotor, dybdeskarphedsstabling og image-stitching-algorithm, åben arkitektur, der understøtter sekundær udvikling |
| Nøglespecifikationer | Visuel forstørrelse: 50/100/400/600 ×; Elektronisk forstørrelse: 380/760/3040/4560 ×; Triple-output havne: HDMI + USB3.0 + WiFi; 4K-optagelsesopløsning: 3840 × 2160; Hardware autofokus design; Dobbelte måletilstande: indbygget on-device-måling + professionel-pc-software-måling; Dobbelt lagring: USB-flashdrev lokal-lagring + computer-fil-lagring; Dybdefelt-stabling tilgængelig på HDMI-monitor og PC-software; Billedsøm tilgængelig via pc-software; Skærmterminal understøtter HD-image-preview, foto-&- video-optagelse; PC-terminal understøtter måling og billedarkivering, kompatibel med sekundær-udvikling-integration |
| Typiske applikationer | Halvleder-wafer-inspektion, metal-metallografisk-struktur-analyse, pulver-&-fiber-mikrostruktur- detektion, legering-korn-inspektion, coating-tykkelse-testning, PCB-tværsnit-analyse, præcision- elektronisk-komponent-fejlanalyse, universitetslaboratorium-nyt-materiale-forskning, nyt-energi-materiale- kvalitetskontrol |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Producentens placering | Kunshan, Jiangsu, Kina (nær Shanghai) |
| Produktmærke | GAOPIN |
| Produkt model | GP-L300-462H |
| Opløsning | 3840 × 2160 |
| Effektive pixel | 8,3 megapixel |
| Fokuseringsmetode | Autofokus |
| Sensor optisk format | 1/1,8" |
| Pixel størrelse | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Udgangsgrænseflader | HDMI + USB3.0 + WiFi |
| Detaljerede funktionelle introduktioner svarende til hver output-grænseflade | ① HDMI kan forbindes til 4K-skærme, indlejret professionelt billedbehandlingsprogram, integrerende funktioner
såsom autofokus, fotooptagelse, størrelsesmåling, billedafspilning, billedsammenligning osv. med
musebetjening i realtid. ② USB 3.0 kan tilsluttes en computer og leveres med høj kvalitet professionel billedbehandlingssoftware. Softwaren kan udføre funktioner såsom fotooptagelse, størrelse måling, dybdeskarphedsfusion og billedsammensætning. ③ WiFi-modulet kan tilsluttes en bærbar eller mobiltelefon, og billedtransmission, fotografering og lagring i realtid kan opnås gennem billede behandlingssoftware. |
| Billedhastighed | HDMI: 60@3840*2160 USB3.0: 30@3840*2160 60@1920*1080 Wifi: 30@3840*2160 60@1920*1080 |
| Dybde-of-field stabling | Tilgængelig via HDMI-monitorterminal og pc-software |
| Billed-stikning | Kun tilgængelig via pc-software |
| Måleoperation | Indbygget on-monitor målesystem + PC-software-baseret måling |
| Målenøjagtighed | 0,002-0,005 mm |
| Måleenheder | mm / μm / mil / tomme (4-vejs omskiftelig) |
| Måleværktøjer | Længde, vinkel, radius, cirkel, polygon, polylinje, center-til-center afstand, rektangel, annotering, automatisk kantdetektion, skaleringsbjælke |
| Opbevaringsmetode | USB-flashdrev + PC-softwarelagring |
| Billednavngivningstilstand | Automatisk eller manuel navngivning af billedfiler |
| Vis sprog | Forenklet kinesisk / engelsk (kan skiftes) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1,4 GHz hovedkontrolprocessor |
| Firmware OS | Uafhængigt udviklet målesystem bygget på Linux 3.1 kerne |
| Observationshoved | 30° skråtstillet trinokulært observationsrør, 360° roterbar, justerbar interpupillær afstand (53-75 mm) |
| Observationsmetode | Lysfelt / skrå belysning / transmitteret belysning / simpel polarisering |
| Belysningssystem | Reflekteret og transmitteret dobbeltvejsbelysningssystem, 100-240 V bredspænding; justerbar glødetrådscentreret, kontinuerligt justerbar lysintensitet |
| Stativramme | ① Dobbeltramme til transmission og refleksion, lav håndposition grov og mikrofokusering
mekanisme.
Grov mikrofokusering, udstyret med låse- og begrænsningsanordninger, mikrogitterværdi: 2um. Halogen. ② Lysfeltreflektor med variabel blændestop, feltstop og farvefilterkonverteringsenhed. ③ Konfigurer blåt filter og matteret glasplade til refleksion. |
| Mobil platform | Dobbeltlags mekanisk bevægende scene; scenestørrelse: 210 × 140 mm; X-Y slaglængde: 75 × 50 mm; glas scene til transmitteret og reflekteret observation |
| Lyskilde | 6V-30W halogenlampe til reflekteret lys; 12V-50W halogenlampe til gennemlys |
| Simpel polarisering | 30° polarisatorindsats (reflekteret lys) + 360° roterbar analysatorindsats til polariseret observation |
| Elektronisk grænseflade | 1X C-mount interface, ikke-justerbart fokus [Valgfrit: 0,5X C-mount for pris-kompensation] |
| Okular | To WF10X/22 mm vidvinkel fladfelt okularer (et okular med skalamærke) |
| Metallurgisk objektivlinse | ★ Akromatisk objektiv med uendeligt fladt felt ① PL L5X/0,12 arbejdsafstand: 26,1 mm pr stykke; ② PL L10X/0,25 arbejdsafstand: 20,2 mm 1 stk ③ PL L40X/0,60 arbejdsafstand: 3,98 mm pr stykke; ④ PL L60X/0,70 arbejdsafstand: 3,18 mm 1 stk ⑤ PL L100X/0,85 arbejdsafstand: 0,40 mm 0 stk. [standard ikke inkluderet valgfri] |
| Optisk forstørrelse | 50 ×, 100 ×, 400 ×, 600 × fire-niveau justerbar |
| Elektronisk forstørrelse | Ca. 380 ×, 760 ×, 3040 ×, 4560 × fire-niveau justerbar (kan udvides til 190-2280 ×) |
GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Avanceret-optisk-forskning & optisk-komponent-karakterisering
Dabo Medical – Mikromorfologi-analyse af implantat-grade medicinske enheder og biomaterialer
DOOV – Mobil-enhed-samling-inspektion, skærm- og komponent-udseende-test
GREE Electric Appliances (Hefei) – Præcisions-dimensions-måling og defekt-inspektion for husholdningsapparater-komponenter
Linseteknologi – Mikrofejldetektion til glasdækplader og telefonbeskyttende paneler
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensions- og mikrofejldetektion til præcisionsbearbejdede dele
Mål og okular:Tør linserne forsigtigt af med linsepapir og linserenser. Rør aldrig ved optisk linser med bare hænder eller brug almindelige papirservietter til rengøring.
Hovedkrop og scene:Fjern straks prøverester og metallurgisk pulver. Tør huset af med en tør blød klud; undgå væskesprøjt. Kontroller regelmæssigt, at trinskruerne er stramme for at forhindre skift forårsaget af kollisioner.
Transmitteret og reflekteret lyskilde:Sluk lyskilden, når mikroskopet er inaktivt. Blæs støv lysvinduet af og rør ikke direkte ved pæren.
Mekanisk og autofokusmodul:Drej ikke fokushåndhjulet med overdreven kraft. Fortsæt med at glide rene spor; smør dem aldrig selv. Adskil ikke autofokusmodulet uden tilladelse.
Opbevaringsmiljø:Opbevares på et tørt, godt ventileret sted for at modstå fugt og skimmelsvamp. Dæk til enhed med et støvdæksel efter brug.
Software og kalibrering:Luk associeret software fuldstændigt, før strømmen afbrydes. Gør ikke adskille enheden uden tilladelse; kontakt eftersalgsservicesupport i tilfælde af funktionsfejl.
A1: Visuel forstørrelse: 50-600 ×; Elektronisk forstørrelse: 380-4560 ×. Synkron visning via okular og overvåge er tilgængelig.
A2: Det understøtter HDMI, USB3.0 og WiFi-output. Den kan tilsluttes direkte til en skærm, kablet til en pc eller forhåndsvisning billeder trådløst via WiFi.
A3: Den understøtter 4K (3840 × 2160) ultra-HD-optagelse og -optagelse med indbygget skærmmåling og PC-software-baseret måling. Filer kan gemmes på USB-flashdrev eller via pc-software. PC-softwaren understøtter dybdeskarphedsstabling og billedstikning. Enheden understøtter sekundær udvikling, velegnet til metallografisk-analyse, metal-materialer, pulver-metallurgi, halvleder-komponenter-observation, forskning og undervisningsscenarier.
A4: Bekræft normal strømforsyning, fastgør HDMI-kablet, vælg den korrekte skærmsignalkilde, og genstart enhed til at gendanne billeddannelse.
A5: Til USB-forbindelse skal du bruge originalt USB3.0-kabel og -port, installere understøttende software, lukke besatte programmer og genstart enheden. For WiFi-forbindelse skal du oprette forbindelse til enhedens hotspot i stedet for ekstern router og parre igen.
A6: Kun FAT32-formaterede USB-flashdrev inden for 32 GB understøttes. Genindsæt eller formater USB-flashdrevet til prøv igen.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., grundlagt i 2011, hvis grundlægger har akkumuleret brancheekspertise siden 2005, er en tech-fokuseret virksomhed med speciale i design, R&D, salg og eftersalgsservice inden for industri mikroskoper. Vores kerneingeniørteam bringer over ti års specialiseret erfaring, hvilket sikrer moden teknologi og pålidelig kvalitet. Med mere end hundrede optiske produktmodeller og en global kundebase, GAOPIN kontinuerligt leverer skræddersyede, omkostningseffektive mikroskopiløsninger. Vi leverer hurtigt svar global teknisk support igennem onlinekonferencer, videostøttet vejledning og fjerntræningssessioner. Vores produktionsbase er placeret i Kunshan, Jiangsu-provinsen (tæt på Shanghai). Både fabriksinspektioner på stedet og virtuelle anlægsrundvisninger er tilgængelige for kunder. Du er velkommen til at kontakte os for eksempler på testbilleder taget med denne GP-L300-462H 4K autofokus metalanalyse Metallurgisk mikroskop med 4K Ultra HD og autofokus for at evaluere billedkvaliteten på egen hånd.
Adresse
Bygning 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tlf
