Udviklet til materialemikroinspektion er dette metalanalyse-metallurgiske mikroskop med 4K Ultra HD et højtydende metalanalyse-metallurgisk mikroskop Mikroskop med 4K Ultra HD. Den kan prale af førsteklasses uendelighedskorrigeret optik og leverer skarpe billeder til både gennemsigtige og uigennemsigtig prøver. Modulært design understøtter fleksible eftersalgsopgraderinger af funktioner med lysfelt og polariseret lys. Forstærket anti-vibrationschassis eliminerer billedforskydning under høj forstørrelse. Brugervenlig betjening og rummelig scene muliggør kontinuerlig test i lang tid. Valgbare kombinerede moduler reducerer omkostningerne til udskiftning af hele maskinen, ideel til professionelt industri-inspektion og metallurgisk-analyse arbejde.
4K-kamera integreret med trinokulær metallurgisk ramme, hvilket muliggør samtidig visning af okular og skærm. Dobbelt-output porte: HDMI & Gigabit-LAN til ultraklar mikrobilledoptagelse i realtid.
Optisk forstørrelse 50-600 ×, maks. digital forstørrelse 4560 × med fire-hastigheds objektiv-zoom. Præcision optisk vej fanger bittesmå mikrodetaljer af halvledere, pulvere og fiberprøver.
Tyk støbt aluminiumsbund garanterer afbalanceret vægtfordeling, fri for slingre eller forskydning under lang tid skiveinspektion og materialeanalyse.
Minimalistisk hvid-blå trinokulær layout, professionel laboratorieæstetik til forskningslaboratorier og industri kvalitetskontrolværksteder.
Velegnet til test af halvlederwafer, metal-metallografisk analyse, pulver- og fiberobservation, universitetsforskning og komponentkvalitetstest.
Understøtter native 4K foto- og videooptagelse. Dobbelte måletilstande: indbygget måling på skærmen og PC-software-baseret måling. Dobbelt lagring: USB-flashdrev lokal lagring + PC-software arkivering. Dybdeskarp stabling og billedsammensætning er tilgængelig via pc-software; sekundær-udvikling-interface understøttet for bekvem billedarkivering, sammenligning og avanceret-data-analyse.
Kikkertvisning og synkron elektronisk observation:Synkroniseret visning mellem okular og overvåge. Almindelige metallurgiske mikroskoper understøtter kun visning af okularer; ekstra kameratilbehør er kræves til skærmoutput.
Native 4K ultra-high-definition billedbehandling:Leverer 3840 × 2160 4K opløsning. Mest konventionelle metallurgiske mikroskoper er begrænset til 1080P opløsning.
Dobbelt-output grænseflader:HDMI + Gigabit-LAN netværksport. For det meste traditionelle metallurgiske anordninger har kun PC-USB-forbindelse, mangler netværkstransmissionsevne.
Dobbelte måletilstande:Offline indbygget måling på skærmen plus pc-software-baseret måling. Almindelige metallurgiske mikroskoper understøtter kun måling på pc-siden uden hardware-indlejret målefunktion.
Dual-lagringstilstande:Offline USB-flashdrev-lagring og pc-software-lagring; gemme data med eller uden en værts-pc. Konventionelle modeller kræver pc til billedlagring.
Avancerede billedbehandlingsfunktioner på pc:Dybdeskarphedsstabling og billedsammensætningsfunktioner er tilgængelige via understøttende pc-software. Almindelige metallurgiske mikroskoper har ingen sådanne algoritme-funktioner.
Understøttet sekundær udvikling:Gigabit-LAN muliggør systemintegration til automatiseret produktionslinjeimplementering. Generelle metallurgiske mikroskoper kan ikke understøtte sekundær udvikling integration.
Modulær udvidelig optisk vej:Understøtter tilføjelse af polariseret lys og andre observationsmoduler uden at udskifte hele enheden. Almindelige digitale mikroskoper mangler dedikeret metallurgisk optisk vej og kan ikke observere fine metallurgiske-mikro-strukturer.
Vedtagelse af en indbygget 3840 × 2160 4K industriel billedsensor og kalibreret med national standard metallurgisk kalibreringsglas, opnår enheden high-fidelity restaurering af mikroskopiske morfologier såsom metalkorn strukturer, halvleder-wafer mikro-teksturer, pulver-partikel former og fiber-væv karakteristika. Det indser ensartet fuldfeltsbilleddefinition uden perifer sløring eller signaldæmpning.
Udstyret med et fire-trins objektiv variabel forstørrelsessystem dækker instrumentet en total forstørrelse rækkevidde på 380-4560 ×. Den opfylder kravene til to applikationer: laveffekt makroskopisk fuld-view scanning og ultra-high-power mikroskopisk-mikrostruktur fin-analyse, fuldt anvendelig til universitets-videnskabelig-forskning, materialeanalyse og industriel højpræcisionskvalitetsinspektion.
Det indlejrede professionelle metallurgiske målemodul understøtter højnøjagtig dimensionsberegning og realtid grafisk annotering. Den integrerer et-klik high-definition snapshot og langtids dynamisk video-optagelse funktioner. Alle inspektionsdata og billedfiler understøtter eksport og permanent arkivering, hvilket giver gyldig dataunderstøttelse til akademisk- eksperimentelle-rapporter og industrielle-kvalitet-sporbarhed-systemer.
Det professionelle trinokulære optiske rør realiserer synkron optisk-okular-observation og digital-display-billeddannelse. Det dobbeltvejs transmitterede og reflekterede belysningssystem er kompatibelt med uigennemsigtige metalprøver, gennemsigtige-pulver-fiber skiver-prøver og halvleder-wafer-materialer. Præcisions XY-aksen mekanisk-bevægelig-stadie har ultraglat transmission og høj positioneringsnøjagtighed, hvilket muliggør effektiv og præcis prøvedetektion.
Halvleder og mikroelektronik:Siliciumwafers, fotolitografiskiver, IC-chips, PCB-plader, FPC fleksible kredsløb. Inspektionsmål: Mikrochip-kredsløb, belægningsfejl, wafer-fejl, kold-loddedefekter, kredsløbsridser og pindeformation; observere mikron-slice-strukturer under maks. 4560 × forstørrelse.
Metallografiske metalprøver:Metallografiske skiver, stållegeringer, bor, fræsere, præcisionsstemplet-hardware. Inspektionsmål: Metallografisk-kornstruktur-analyse, varme-behandling-materiale-identifikation; registrere kantafslag, mikrorevner, grater og sliddybde.
Laboratorieprøver: Pulver og fiber:Metal-pulver, kemisk-pulver, kulfiber, tekstil-fiber, tyndfilmsmaterialer. Inspektionsmål: Overhold partikelmorfologi, fibertekstur, filmdelaminering og mikromateriale-strukturer.
Optoelektroniske og præcisions-plastiske dele:LED-chips, optiske linser, sprøjtestøbte dele, tætningslim. Inspektionsmål: Opdag mikroporer, overfladepletter, ru kanter, limbobler og bittesmå kosmetiske fejl.
Højpræcisions miniaturekomponenter:Stik, terminaler, mikrofjedre, miniature-stemplede-arbejdsstykker. Inspektionsmål: Observer bittesmå mellemrum og krympeflade; udføre pixel-niveau præcis måling af længde, huldiameter og stigning.
Laboratorie- og industriel QC-arkivering:Materiale-forskning-eksperimenter, indkommende-&-færdige-varer prøveudtagning-inspektion; foto- og videoarkivering for defekte bevisoptegnelser og eksport af QC til formel måling rapporter.
Maks 600 × optisk forstørrelse og op til 4560 × digital forstørrelse med indbygget 3840 × 2160 4K opløsning. Det klart viser små strukturer såsom metalkorn, wafer-teksturer, ultratynde belægninger og mikrorevner, ideel til høj standard-analyse af chips, nye materialer og galvaniserede dele.
To-måleløsninger: hurtig indbygget måling på monitor, højpræcision professionel måling via PC-software. To-lagringsmetoder: USB-flashdrev lokal-lagring og PC-batch-arkivering til billeder og måledata.
Trinokulær synkron-optisk sti muliggør samtidig visning via kikkert-okularer og 4K-monitor. Flere operatører kan kontrollere den samme mikroprøve sammen, perfekt til universitetsmaterialeundervisning og QC-dobbelt-gen-tjek og R&D-team-diskussion for at reducere fejlvurderinger.
Professionelt metallurgisk trin med flere formål passer til metalprøver, PCB-belægninger, halvlederchips, mineralskiver og tyndfilmsmaterialer. Koaksial grov-og-fin manuel fokusering med tung-anti-vibrations-krop, stabil til indkommende-inspektion, nyt-materiale-forskning og lang-statisk-lab-analyse.
Udstyret med Gigabit-LAN-port, understøtter netværksbilledtransmission og sekundær-udviklingsdocking. Velegnet til multi-station-lab-management og automatiseret-fabrik-arbejdsstation integration-projekter.
Neutral-pakning forsendelse er tilgængelig efter anmodning.
| Entitet | Beskrivelse |
| Produkt | GP-L300-324K metalanalyse metallurgisk mikroskop med 4K Ultra HD |
| Kategori | Trinokulært 4K højeffekt metallografisk inspektions- og målemikroskop i industriel forskning |
| Kerneteknologier | Trinokulært synkron-observation optisk-system, høj-effekt dedikeret metallurgisk objektiv-linse-gruppe, 4K ultra-high-definition CMOS-billedsensor, dual-digital-målemotor (på skærmen og PC-software), HDMI + Gigabit-LAN dual-channel-signaltransmission, dual-storage-teknologi, PC-side dybdeskarphed stabling & billedsammensætningsalgoritme, åben arkitektur, der understøtter sekundær udvikling |
| Nøglespecifikationer | Visuel forstørrelse: 50/100/400/600 ×; Elektronisk forstørrelse: 380/760/3040/4560 ×; Dobbelt-output havne: HDMI + Gigabit-LAN; Capture-opløsning: 3840 × 2160 (4K); Manuel fokusering; Dobbelte måletilstande: indbygget on-device-measurement + professional-PC-software-measurement *(0,001 mm, Mindre måletolerance kan være opnås under større forstørrelse. Resultater er underlagt kalibrering, forstørrelse og prøve betingelser)*; Dobbelt lagring: USB-flashdrev lokal lagring *(Kun FAT32-formateret USB-flashdrev op til 32 GB understøttet)* + computer-fil-lagring; Skærmterminal understøtter HD-image-preview, dimensional-måling, foto-&- video-optagelse; PC-terminal understøtter måling, dybdeskarphedsstabling, billedsyning og billedarkivering, kompatibel med sekundær-udvikling-integration |
| Typiske applikationer | Halvleder-wafer-inspektion, metal-metallografisk-struktur-analyse, pulver-&-fiber-mikrostruktur- detektion, legering-korn-inspektion, materiale-belægning-tykkelse-testning, PCB-tværsnit-analyse, præcision-elektronisk-komponent-fejlanalyse, universitetslaboratorium-nyt-materiale-forskning, ny-energi-materiale-kvalitetskontrol |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Producentens placering | Kunshan, Jiangsu, Kina (nær Shanghai) |
| Produktmærke | GAOPIN |
| Produkt model | GP-L300-324K |
| Opløsning | 3840 × 2160 |
| Effektive pixel | 8,3 megapixel |
| Fokuseringsmetode | Manuel fokus |
| Sensor optisk format | 1/1,7" |
| Pixel størrelse | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Udgangsgrænseflader | HDMI + Gigabit-LAN |
| Detaljerede funktionelle introduktioner svarende til hver output-grænseflade | ① HDMI kan forbindes til 4K-skærme, indlejret professionelt billedbehandlingsprogram, integrerende funktioner
såsom autofokus, fotooptagelse, størrelsesmåling, billedafspilning, billedsammenligning osv. med
musebetjening i realtid. ② LAN Gigabit Ethernet-port, som kan tilsluttes routere, switche, eller computere til netværkstransmission af videobilleder. Computere inden for samme netværkssegment kan samtidig overføre billeder i realtid gennem billedbehandlingssoftware og udføre funktioner som f.eks som tage billeder og gemme dem. |
| Billedhastighed | HDMI: 60 fps @ 3840 × 2160 Gigabit-LAN: 20 fps @1920 × 1080 |
| Dybde-of-field stabling | Kun tilgængelig via pc-software |
| Billed-stikning | Kun tilgængelig via pc-software |
| Måleoperation | Indbygget on-monitor målesystem + PC-software-baseret måling |
| Målenøjagtighed | 0,001 mm |
| Måleenheder | mm / μm / mil / tomme (4-vejs omskiftelig) |
| Måleværktøjer | Længde, vinkel, radius, cirkel, polygon, polylinje, center-til-center afstand, rektangel, annotering, automatisk kantdetektion, skaleringsbjælke |
| Opbevaringsmetode | USB-flashdrev + PC-softwarelagring |
| Billednavngivningstilstand | Automatisk eller manuel navngivning af billedfiler |
| Vis sprog | Forenklet kinesisk / engelsk (kan skiftes) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1,4 GHz hovedkontrolprocessor |
| Firmware OS | Uafhængigt udviklet målesystem bygget på Linux 3.1 kerne |
| Observationshoved | 30° skråtstillet trinokulært observationsrør, 360° roterbar, justerbar interpupillær afstand (53-75 mm) |
| Observationsmetode | Lysfelt / skrå belysning / transmitteret belysning / simpel polarisering |
| Belysningssystem | Reflekteret og transmitteret dobbeltvejsbelysningssystem, 100-240 V bredspænding; justerbar glødetrådscentreret, kontinuerligt justerbar lysintensitet |
| Stativramme | ① Dobbeltramme til transmission og refleksion, lav håndposition grov og mikrokoaksial
fokusering
mekanisme. Grov mikrokoaksial fokusering, udstyret med låse- og begrænsningsenheder, mikrogitterværdi:
2 um. Halogenlampe belysning. ② Lysfeltreflektor med variabel blændestop, feltstop og farvefilterkonverteringsenhed. ③ Konfigurer blåt filter og matteret glasplade til refleksion. |
| Mobil platform | Dobbeltlags mekanisk bevægende scene; scenestørrelse: 210 × 140 mm; X-Y slaglængde: 75 × 50 mm; glas scene til transmitteret og reflekteret observation |
| Lyskilde | 6V-30W halogenlampe til reflekteret lys; 12V-50W halogenlampe til gennemlys |
| Simpel polarisering | 30° polarisatorindsats (reflekteret lys) + 360° roterbar analysatorindsats til polariseret observation |
| Elektronisk grænseflade | 1X C-mount interface, ikke-justerbart fokus [Valgfrit: 0,5X C-mount for pris-kompensation] |
| Okular | To WF10X/22 mm vidvinkel fladfelt okularer (et okular med skalamærke) |
| Metallurgisk objektivlinse | ★ Akromatisk objektiv med uendeligt fladt felt ① PL L5X/0,12 arbejdsafstand: 26,1 mm pr stykke; ② PL L10X/0,25 arbejdsafstand: 20,2 mm 1 stk ③ PL L40X/0,60 arbejdsafstand: 3,98 mm pr stykke; ④ PL L60X/0,70 arbejdsafstand: 3,18 mm 1 stk ⑤ PL L100X/0,85 arbejdsafstand: 0,40 mm 0 stk. [standard ikke inkluderet valgfri] |
| Optisk forstørrelse | 50 ×, 100 ×, 400 ×, 600 × fire-niveau justerbar |
| Elektronisk forstørrelse | Ca. 380 ×, 760 ×, 3040 ×, 4560 × fire-niveau justerbar (kan udvides til 190-2280 ×) |
GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Avanceret-optisk-forskning & optisk-komponent-karakterisering
DOOV – Mobil-enhed-samling-inspektion, skærm- og komponent-udseende-test
NIO Shanghai – Præcisionsinspektion for nye-energi-autodele og ledningsnet-samlinger
Beijing Institute of Technology – Videnskabelig-forskning-analyse for militær-grade-materialer og optoelektroniske enheder
GREE Electric Appliances (Hefei) – Præcisions-dimensions-måling og defekt-inspektion for husholdningsapparater-komponenter
Teknisk Institut for Fysik og Kemi, CAS – Mikroskopisk forskning om lavtemperatur- og special-funktionelle-materialer
Mål og okular:Blæs støv af med en luftblæser, og tør derefter linser forsigtigt af med linsepapir og linserenser. Rør aldrig ved optiske linser med bare hænder eller brug almindelige papirservietter til rengøring.
Hovedkrop og scene:Fjern straks prøverester og metallurgisk pulver. Tør huset af med en tør blød klud; undgå væskesprøjt. Kontroller regelmæssigt, at trinskruerne er stramme for at forhindre skift forårsaget af kollisioner.
Transmitteret og reflekteret lyskilde:Sluk lyskilden, når mikroskopet er inaktivt. Blæs støv lysvinduet af og rør ikke direkte ved pæren.
Mekanisk fokusmekanisme:Drej ikke fokushåndhjulet med overdreven kraft. Fortsæt med at glide rene spor; smør dem aldrig selv.
Opbevaringsmiljø:Opbevares på et tørt, godt ventileret sted for at modstå fugt og skimmelsvamp. Dæk til enhed med et støvdæksel efter brug.
Software og kalibrering:Kalibrer måleskalaen, før du udfører målinger. Helt tæt på tilhørende software, før strømmen afbrydes. Skil ikke enheden ad uden tilladelse; kontakt eftersalgsservice support i tilfælde af funktionsfejl.
A1: Visuel forstørrelse: 50-600 ×; Elektronisk forstørrelse: 380-4560 ×. Synkron visning via okular og overvåge er tilgængelig.
A2: Den understøtter HDMI-video-output og Gigabit-LAN-port. Den kan tilsluttes direkte til skærmen eller få adgang til kameraet via LAN-netværk med en computer.
A3: Optagelsesopløsning: 3840 × 2160 (4K). Den understøtter indbygget skærmmåling og pc-softwarebaseret måling. Filer kan gemmes på USB-flashdrev eller via pc-software.
A4: ①Tjek strømforsyningen til mikroskop; ②Sørg for, at HDMI-kablet er tilsluttet ordentligt; ③Vælg den korrekte HDMI-indgangskilde til overvåge; ④Genstart mikroskopværten.
A5: ①Tilslut netværkskabel mellem enhed og switch / pc; ②Indstil PC-IP til det samme netværkssegment som kameraet; ③ Drej slukket PC-firewall; ④Bekræft enheds-IP-indstillinger, og tilslut igen.
A6: Denne model vedtager manuel fokus design. Drej fokus-håndhjulet langsomt. Sørg for, at objektivet klikker på plads. Placer prøven fladt og rent støv på objektivlinsen.
A7: Brug FAT32-formateret USB-flashdrev med en kapacitet på 32 GB. Genindsæt eller formater USB-flashdrev for at prøve igen.
A8: Ja, sekundær udvikling er understøttet. Velegnet til metallografisk analyse, metalmaterialer, pulvermetallurgi, halvleder-komponenter-observation, videnskabelig-forskning og undervisningsscenarier.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., grundlagt i 2011, hvis grundlægger har akkumuleret brancheekspertise siden 2005, er en tech-fokuseret virksomhed med speciale i design, R&D, salg og eftersalgsservice inden for industri mikroskoper. Vores kerneingeniørteam bringer over ti års specialiseret erfaring, hvilket sikrer moden teknologi og pålidelig kvalitet. Med mere end hundrede optiske produktmodeller og en global kundebase, GAOPIN kontinuerligt leverer skræddersyede, omkostningseffektive mikroskopiløsninger. Vi leverer hurtigt svar global teknisk support igennem onlinekonferencer, videostøttet vejledning og fjerntræningssessioner. Vores produktionsbase er placeret i Kunshan, Jiangsu-provinsen (tæt på Shanghai). Både fabriksinspektioner på stedet og virtuelle anlægsrundvisninger er tilgængelige for kunder. Du er velkommen til at kontakte os for eksempler på testbilleder taget med denne GP-L300-324K Metal Analysis Metallurgical Mikroskop med 4K Ultra HD for at evaluere billedkvaliteten på egen hånd.
Adresse
Bygning 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tlf
