GP-L700-300C er et metallurgisk mikroskop med lang arbejdsafstand med fire-hastigheds justerbar forstørrelse. Metallurgisk mikroskop med lang arbejdsafstand vedtager uendeligt korrigeret optisk system med hurtig fire-gears forstørrelsesskift, der dækker både bredfeltsoverblik og fin mikroskopisk observation. Den trinokulære port understøtter kameramodulopgradering. Velegnet til metallografi analyse, komponentinspektion og arbejdsgange for materiale-videnskab-forskning.
Dette metallurgiske mikroskop med lang arbejdsafstand er velegnet til inspektion af præcisionskomponenter, integrerede kredsløb og emballagemateriale produkter.
Kameramodul indbygget i trinokulært hus til samtidig visning via okular og monitor. HDMI i realtid mikro-billedoutput kombinerer observation og optagelse af arbejdsgange.
Præcision flerlags linse optisk vej med fire-trins forstørrelse; maksimal digital forstørrelse op til 3800X, leverer sprøde detaljer til bittesmå wafer, spåner og korninspektion.
Koordinerede fokusknapper og forstærket linse-cylinder-samling muliggør stabil, rystefri fokusering, ideel til fin inspektion under ultrahøj forstørrelse.
Overdimensioneret firkantet metalbund og solid støttearm giver afbalanceret vægtfordeling, hvilket forhindrer rystelser under lang-timers inspektion med høj forstørrelse.
Stiv sort-hvid metalhus med split-modulært lyskildelayout, der leverer professionelt laboratorieinstrument tekstur.
Optimeret til wafer-, spån- og korninspektion; også bredt anvendt i metallografisk analyse, materialeforskning, akademisk-undervisning og industrielt kvalitetskontrolarbejde.
CCD-modul opgraderer traditionel visuel observation til digital billedbehandling. Understøtter 1080P foto- og videooptagelse med U-skive opbevaring. Digitale billeder forenkler filarkivering, sammenligning og analyse efter eksperiment.
1. Forstørrelse:380-3800X fire-hastigheds høj forstørrelse til korn og spåner mikrostruktur observation. Almindelige metallurgiske mikroskoper har lavere maksimal forstørrelse og slørede billeder ved høj effekt, og kan ikke observere små metalkorn.
2. Billedbehandlingssystem:Indbygget 1080P HD-kamera, synkroniseret okular-og-skærmvisning. Almindelig metallurgiske mikroskoper anvender lavopløsningskamera og kun okularvisning.
3. Måling og opbevaring:Indbygget på skærmen præcis måling, foto-video-optagelse til test-bevis-arkivering. Almindelige metallurgiske mikroskoper har ingen indbygget måling og kræver pc-software til al måling og fillagring.
4. Anvendelsesområde:Optimeret til præcis inspektion af wafers, halvlederchips og metal korn. Almindelige metallurgiske mikroskoper er kun egnede til simpel metal-skive observation med dårlig ydeevne for prøver af fine spånkvalitet.
Halvleder og mikroelektronik (kerneapplikation):
Siliciumwafers, litografiskiver, IC-chips, MOS-rør, PCB'er, FPC fleksible kredsløb, pakkede loddesamlinger.
Inspektionsmål: mikrochip-kredsløbsmønstre, wafer-ætsningsdefekter, belægningsridser, emballagebobler,
koldloddesamlinger, oxidation og stiftdeformation.
Metallografiske metalprøver og metalskærende værktøjer:
Legerede metallografiske sektioner, stålskiver, præcisionsstemplet metalhardware.
Inspektionsmål: metal-kornstruktur, varmebehandling metallografisk-analyse, mikro-overflade-revner,
banebrydende afslag, grater, slidspor og indvendige materialeurenheder.
Laboratorieforskningsprøver: Krystal, pulver og tyndfilm:
Enkelt-/polykrystaller, metalpulver, kemisk pulver, optiske belægningsfilm, ultratynde filmmaterialer.
Observer mikro-krystal-gitter, ultra-fine-partikel morfologi, film delaminering og mikro-coating teksturer.
Optoelektroniske og præcisions-plastikkomponenter:
LED-chips, optiske glaslinser, halvleder-emballeringslim.
Opdag mikroporer, nano-ridser, lim-delaminering, bobler og subtile overfladeujævnheder.
Miniature præcisionskomponenter:
Konnektorer, terminaler, mikrofjedre, små præcisionsstemplede emner.
Nøjagtig måling på pixelniveau for mellemrum, huldiametre, stigning og overfladehøjdeforskelle; observere subtile
krympe-deformation.
Universitetslaboratorier og High-End Semiconductor QC:
Materiale-forskning eksperimenter, metallurgi-undervisning-analyse, indgående-og-færdige-vare wafer prøveudtagning-inspektion;
foto-video arkivering.
Mekanik:Fuldmetalkonstruktion for høj stivhed og vibrationsmodstand. Ekstra lang arbejdsafstand til prøveobservation i høj højde. Præcis grov-fin fokusering uden tilbageslag. Slidbestandig manuel XY mekanisk trin. Trinokulær optisk vej opretholder optisk co-alignment, når du skifter objektiver.
Optik:Infinity-korrigerede plan-akromatiske metallurgiske objektiver med anti-dug hård belægning. Reflekterende lys 6V-30W halogenlampe belysning.
Billedbehandling og måling:Industrielt HDMI 1080P kamera med god anti-interferens ydeevne til brug af industrielt miljø. Firmware-baseret måling på skærm; fabrik præ-kalibreret; parametre fortsætter efter power-off; ingen daglig kalibrering påkrævet. Gem kun snapshots og videoer via kompatibel U-disk.
Driftsmiljø:Arbejdstemperatur 10-35 ℃, relativ luftfugtighed 30-75% RH. Stabil under regulær fabriks elektromagnetiske miljø. Undgå kraftige vibrationer, ætsende gasser og kraftigt støv.
Kvalitet og vedligeholdelse:Fuldstændig fabriksinspektion. De optiske moduler må ikke skilles ad. Regelmæssig støvtæt rengøring forlænger levetiden.
| Punkt | Beskrivelse |
| Produkt model | GP-L700-300C Metallurgisk mikroskop med lang arbejdsafstand |
| Produkttype | Vertikalt metallurgisk mikroskop i høj forstørrelse i forskningskvalitet med separat koaksial vertikal belysning |
| Kerneteknologi | Trinokulært synkront visningssystem, uafhængig koaksial lodret lyskilde, høj opløsning metallurgisk objektiv-objektivsæt, HD CMOS-billedsensor, indbygget digital-præcisionsmålemodul, HDMI-videoudgang i realtid, U-disk lokal billedlagring |
| Kerneparametre | Optisk forstørrelse: 50/100/200/500×; Elektronisk forstørrelse: 380/760/1520/3800×; Output interface: Kun HDMI; Optagelsesopløsning: 1920*1080; Fokustilstand: Manuel fokus; Mål: Indbygget præcis måling funktion; Opbevaring: U-disk lager; Funktioner: HD-billedforhåndsvisning, fotooptagelse og videooptagelse på monitor. |
| Ansøgningsfelter | Observation af wafer og spånkorn, inspektion af halvlederemballage, metalkorn metallografisk analyse, præcision-kredsløb mikro-defekt-detektion, elektronisk-komponent-fejl-analyse, materiale-laboratorium- forskning |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Fabriksplacering | Kunshan City, Jiangsu-provinsen, Kina (ved siden af Shanghai) |
| Model | GP-L700-300C |
| Opløsning | 1920×1080 |
| Virkelig effektive pixel | 2 megapixel |
| Fokuseringsmetode | Manuel fokus |
| Optisk format | 1/2" |
| Pixel størrelse | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Outputmetode | HDMI |
| Detaljerede funktionelle introduktioner svarende til hver output-grænseflade | ① HDMI tilsluttes til 4K-kompatible skærme. Integreret professionel billedbehandlingsfirmware understøtter fotooptagelse, videooptagelse, dimensionsmåling, billedafspilning og billedsammenligning, betjent med musen i realtid. |
| Billedhastighed | HDMI: 60fps @1920*1080 |
| Dybdefeltsyntese | / |
| Billedsøm | / |
| Målemetode | Indbygget målesystem på skærmen |
| Målenøjagtighed | 0,001 mm |
| Måleenheder | mm / μm / mil / tomme (4 omskiftelige enheder) |
| Måleværktøjer | Længde, vinkel, radian, cirkel, polygon, polylinje, center-til-center afstand, rektangel, annotering tilføjer, automatisk kantregistrering, skaleringsbjælke og mere |
| Opbevaringsmetode | U-disk opbevaring |
| Vis sprog | Forenklet kinesisk / engelsk (kan skiftes) |
| Processor | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max 1,3 GHz |
| Operativsystem | Uafhængigt udviklet målefirmware baseret på Linux 3.1 kerne |
| Billednavngivning | Automatisk eller manuel navngivning tilgængelig |
| Visningshoved | 30° skråtstillet trinokulært hoved; interpupiljusteringsområde: 53-75 mm |
| Observationstilstande | Lysfelt / skrå belysning / simpel polarisering |
| Belysningssystem | Belysningssystem med faldende lys, 100-240V bredspændingsindgang, justerbar glødetrådscenter, kontinuerligt justerbar lysintensitet. |
| Stå | ① Skydestativ, koaksial grov-fin fokuseringsmekanisme med låse- og begrænsningsanordninger;
finbevægelses gradueringsværdi: 2 μm. Halogen-lampe reflekteret lys belysning. ② Lysfelt reflektor med variabel blændestop, feltstop og farvefilter-omskifter. ③ Gul, blå, grønne filtre og matteret glasplade leveres til reflekteret lys optisk vej. |
| Mekanisk scene | Grundmål: 300 mm × 240 mm; Scenedimension: 185 mm × 140 mm; X-Y vandring: 35 mm × 30 mm. Velegnet for observere relativt høje emner. |
| Lyskilde | 6V 30W halogenlampekammer (kun reflekteret lys). |
| Enkel polariseringsfunktion | Push-pull type polarisator og analysator installeret |
| Elektronisk grænseflade | 1X C-mount kamera interface, ikke-justerbar fokus; CTV 0.5X er valgfrit med prisforskel kompensation. |
| Okularer | To WF10X/22 mm vidvinkel plan-felt okularer med individuel dioptrijustering |
| Næsestykke | ★Mingchang fem-hullers objektiv næsestykke |
| Metallurgiske mål | ★ Infinity-korrigerede plan-akromatiske metallurgiske mål ① PL L5X/0,12, arbejdsafstand: 26,1 mm × 1 stk ② PL L10X/0,25, arbejdsafstand: 20,2 mm × 1 stk. ③ PL L20X/0,40, arbejdsafstand: 8,80 mm × 1 stk ④ PL L50X/0,70, arbejdsafstand: 3,68 mm × 1 stk. ⑤ PL L100X/0,85, arbejdsafstand: 0,40 mm (valgfrit, ikke inkluderet i standardpakken) |
| Optisk forstørrelse | 50X, 100X, 200X, 500X (kan skiftes i fire niveauer) |
| Elektronisk forstørrelse | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X (kan skiftes i fire niveauer); valgfrit forstørrelsesområde: 190-1900X. |
Udstyret med indbygget 1920*1080 HD-billeddannelse. Velegnet til observation af metallografisk struktur og grundlæggende spånkorn inspektion; viser tydeligt metalkorn og små overfladeteksturer af spåner.
Manuelt fokusdesign passer til statiske laboratorieprøver og lavfrekvent arbejdsemneudskiftning. Stabil finjustering muliggør langsigtet præcis statisk prøveobservation.
Udstyret med separat koaksial lyskilde og trinokulær metallurgisk optisk vej til metalprøver, chip skiver og små-mellemstore PCB'er. Lodret koaksial belysning reducerer metalreflekterende blænding og genopretter ægte metallografisk teksturer.
Fire gears forstørrelsesområde: 50-500X optisk forstørrelse, 380-3800X digital forstørrelse. Dækker begge dele fuld prøveoversigt og inspektion af mikrokorn/mikrofejl.
Indbygget præcisionsmålingsfunktion, HDMI-realtidsudgang og U-disk til lagring af inspektionsfotos og måledata til grundlæggende laboratorie-arkiveringsformål.
Neutral-pakning forsendelse er tilgængelig efter anmodning.
GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:
DOOV – Mobil-enhed-samling-inspektion, skærm- og komponent-udseende-test
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanalyse af uorganisk-keramik og nye-energi-materialer
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Avanceret-optisk-forskning & optisk-komponent-karakterisering
GREE Electric Appliances (Hefei) – Præcisionsdimensionsmåling og fejlinspektion for husholdningsapparater-dele
Tsinghua University - Undervisning, laboratorie-billeddannelse og eksperimentel-data-arkivering
NIO Shanghai – Præcisionsinspektion for nye energireservedele og ledningsnet
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. blev officielt grundlagt i 2011. Vores stifter-team akkumulerede rige optisk-inspektion-instrument-industri-erfaring med start i 2005. Vi leverer fuld-cyklus-tjenester, der dækker produktdesign, in-house-R&D, globalt salg og omfattende-eftersalgs-vedligeholdelsesservices. Vores faglært ingeniørteam har mere end ti års erfaring med udvikling af optiske instrumenter for at sikre stabil-teknisk ydeevne og pålidelig produktkvalitet.
GAOPIN leverer mere end hundrede kategorier af optiske-test-instrumenter industri- og laboratoriekunder på verdensplan. Vi udvikler fleksible, omkostningseffektive skræddersyede mikroskopi-løsninger til mangfoldig-industriel-kvalitetskontrol og laboratorie-analyse-projekter.
Til oversøiske købere tilbyder vi lydhør verdensomspændende teknisk support, herunder fjern-online-konsultationer, praktisk- video-tutorials og live-fjernudstyr-drift-træning. Vores produktionsanlæg ligger i Kunshan, Jiangsu Provins (tæt på Shanghai). Fabriksbesøg på stedet og virtuelle online-ture er velkomne. Kontakt venligst vores salgsteam for autentiske-prøve-test-billeder taget med dette Long-Working-Distance Metallurgical Microscope til evaluere real-imaging-ydeevne.
A1: Optisk forstørrelse: 50-500×; Elektronisk forstørrelse: 380-3800×. Synkron observation via okular og overvåge er tilgængelig for præcis mikroinspektion.
A2: Kun HDMI high-definition videoudgang til selvstændig skærmdrift. Alt-i-et design sikrer enkel og nem operation.
A3: Den understøtter 1080P foto- og videooptagelse og indbygget præcis måling på skærmen. Filer kan gemmes via FAT32-formateret U-disk med en kapacitet på 32 GB.
A4: Placer prøven fladt, reducer forstørrelsen korrekt, rengør objektivets overflade og juster langsomt fokus håndhjul til skarp billeddannelse.
A5: Sikre stabil strømforsyning; fastgør HDMI-kablet godt; vælg den korrekte skærmsignalkilde og genstart enheden.
A6: Kun 32 GB eller mindre FAT32-formateret U-disk er kompatibel. Genindsæt eller omformater U-disk for at løse lagringsrelateret problemer.
A7: Udbredt i metallografisk analyse, præcisionselektronik, hardware-inspektion, overflade-defekt-detektion, industriel-kvalitetskontrol, videnskabelig-forskning og undervisningsarbejde.
Adresse
Bygning 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tlf
