GP-L700-324K er et 4K-forskningsgradigt metallurgisk mikroskop med lang arbejdsafstand med 4K Ultra HD, udstyret med uendelighedskorrigerede plan-akromatiske lang-arbejdsafstandsmål. 4K Ultra HD metallurgisk mikroskop med lang arbejdsafstand giver rigelig arbejdsafstand og plads leverer flade, skarpe billeder på tværs af hele synsfeltet med velkorrigeret kromatisk aberration og felt krumning. Indbygget 4K billedbehandlingssystem fanger fine mikrodetaljer. Trinokulær port understøtter billedanalyse-software forbindelse. Ideel til metallografisk forskning, halvleder-wafer-inspektion og arbejdsgange til analyse af overfladedefekter.
Dette 4K Ultra HD metallurgiske mikroskop med lang arbejdsafstand er velegnet til test af præcisionskomponenter, integrerede kredsløb og emballagematerialeprodukter.
Mekanik:Fuldmetalkonstruktion for høj stivhed og vibrationsmodstand. Ekstra lang arbejdsafstand for høj-højde-prøve-observation. Præcis grov-fin fokusering uden tilbageslag. Slidbestandig manuel XY mekanisk trin. Trinokulær optisk vej opretholder optisk co-alignment, når du skifter objektiver.
Optik:Infinity-korrigerede plan-akromatiske metallurgiske objektiver med anti-dug hård belægning. Reflekterende lys 6V-30W halogenlampe belysning.
Billedbehandling og måling:8,3-megapixel 4K industrielt CMOS-kamera. Dual-output: HDMI + Gigabit-LAN port, god anti-interferens ydeevne til industrielt miljøbrug. Understøtter indlejret måling på skærmen og PC-software måling. Forkalibreret på fabrikken; parametre fortsætter efter slukning; nej daglig-kalibrering-påkrævet. Dual-path lagring via U-disk og pc-software. Dybde-af-felt syntese og billedsammensætning kun tilgængelig på pc-software. Sekundær-udviklings-interface tilgængelig over Gigabit-LAN.
Driftsmiljø:Arbejdstemperatur 10-35 ℃, relativ luftfugtighed 30-75% RH. Stabil under almindeligt-fabriks-elektromagnetisk-miljø. Undgå kraftige vibrationer, ætsende gasser og kraftigt støv.
Kvalitet og vedligeholdelse:Fuldstændig fabriksinspektion. De optiske moduler må ikke skilles ad. Regelmæssig støvtæt rengøring forlænger levetiden.
1. Forstørrelse:380-3800X fire-hastigheds høj forstørrelse til korn-og-chip-mikrostruktur observation. Almindelige metallurgiske mikroskoper har lavere maksimal forstørrelse og slørede billeder ved høj effekt, og kan ikke observere små metalkorn.
2. Billedbehandlingssystem:Native 4K-kamera i forskningskvalitet, synkroniseret okular- og skærmvisning. Almindelige metallurgiske mikroskoper anvender lavopløsnings 2K-kvalitetskamera og kun okularvisning.
3. Måling og opbevaring:Indbygget på skærmen præcis måling, foto-video-optagelse til test-bevis-arkivering. Almindelige metallurgiske mikroskoper har ingen indbygget måling og kræver pc-software til alt opmålings- og filbesparende arbejde.
4. Anvendelsesområde:Optimeret til præcis inspektion af wafers, halvlederchips og metal korn. Almindelige metallurgiske mikroskoper er kun egnede til simpel metal-skive observation med dårlig ydeevne for prøver af fine spånkvalitet.
4K-kamera indbygget i trinokulært hus til samtidig visning via okular og monitor. Dual-port udgang via HDMI og Gigabit-LAN transmitterer ultraklare mikrografer i realtid.
Præcision flerlags linse optisk vej med fire-trins forstørrelse; maksimal digital forstørrelse op til 3800X, leverer skarpe mikrostrukturdetaljer på mikronniveau til wafer-, spån- og korninspektion.
Koordinerede fokusknapper og forstærket linse-cylinder-samling muliggør stabil, vibrationsfri fokusering, perfekt egnet for fin inspektion under ultrahøj forstørrelse. Manual-focus only.
Overdimensioneret tyk firkantet metalbase giver stabil vægtbalance, hvilket eliminerer forskydninger eller rystelser under langvarig sammenhængende høj effekt observation.
Stiv sort-hvid metalhus med separat aftageligt lyskildemodul, minimalistisk professionelt design til laboratorier og halvleder produktionslinjer.
Optimeret til wafer-and-chip-inspektion; også bredt anvendt til metallografisk analyse, avanceret materialeforskning, akademisk-undervisning og præcisionsindustrielt kvalitetskontrolarbejde.
4K foto- og videooptagelse, dobbeltmålingstilstande (indbygget på skærmen + pc-software). Dobbelt lagring via U-disk & computer. Dybde-of-field syntese og billedsammensætningsfunktioner kører udelukkende på understøttende pc-software. Sekundær udvikling understøttet over LAN-port til billedarkivering, sammenligning og avanceret dataanalyse.
Halvleder og mikroelektronik (kerneapplikation):
Siliciumwafers, litografiskiver, IC-chips, MOS-rør, PCB'er, FPC fleksible kredsløb, pakkede loddesamlinger.
Inspektionsmål: mikrochip-kredsløbsmønstre, wafer-ætsningsdefekter, belægningsridser, emballage-bobler,
koldloddesamlinger, oxidation og stiftdeformation.
Metallografiske metalprøver og metalskæreværktøj:
Legerede metallografiske sektioner, stålskiver, præcisionsstemplet metalhardware.
Inspektionsmål: metal-korn-struktur, varmebehandling-metallografisk-analyse, mikro-overflade-revner,
banebrydende afslag, grater, slidspor og indvendige materiale-urenheder.
Laboratorieforskningsprøver: Krystal, pulver og tyndfilm:
Enkelt-/poly-krystaller, metalpulver, kemisk pulver, optiske-coating-film, ultra-tynde-film-materialer.
Observer mikro-krystal-gitter, ultra-fine-partikel-morfologi, film-delaminering og mikro-coating-teksturer.
Optoelektroniske præcisions-plastikkomponenter:
LED-chips, optiske-glas-linser, halvleder-emballage-lim.
Opdag mikroporer, nano-ridser, lim-delaminering, bobler og subtile overfladeujævnheder.
Miniature præcisionskomponenter:
Konnektorer, terminaler, mikrofjedre, små præcisionsstemplede emner.
4K-pixel-niveau nøjagtig måling af mellemrum, hul-diametre, pitch og overflade-højde-forskelle; observere subtile
krympe-deformation.
Universitetslaboratorier og High-End Semiconductor QC:
Materiale-forskning-eksperimenter, metallurgi-undervisning-analyse, indgående-og-færdige-varer-wafer-prøveudtagning-inspektion;
foto-video arkivering, eksport præcise målte QC-rapporter via pc.
Udstyret med indbygget 3840*2160 4K ultra-HD-billeddannelse. Velegnet til wafer-metallografisk-inspektion og metal-materiale-analyse; viser tydeligt korngrænser, mikroridser og bittesmå mikrofejl.
Manuelt fokus design passer til laboratorie-forskning-prøver og universitets-materiale-forskning. Ensartet stabil finjustering understøtter langsigtet statisk-prøve-observation.
Uafhængig delt koaksial lyskilde til halvlederskiver, metalprøver og præcise PCB-skiver. Lodret koaksial belysning undertrykker metalreflekterende blænding og genopretter ægte metallografiske teksturer.
Dobbelt forstørrelsesområde: 50-500X optisk forstørrelse, 380-3800X digital forstørrelse. Dækker begge fuldeksemplarer oversigt og mikro-korn / mikro-fejl inspektion.
Understøtter indbygget måling på enheden og måling af pc-software. Udstyret med HDMI og Gigabit-LAN dual-output havne. Fotos, videoer og måledata kan gemmes via kompatibel U-disk eller computer. Sekundær udvikling understøttet til produktionslinjeintegration og lab-data-sporbarhed.
Neutral-pakning forsendelse er tilgængelig efter anmodning.
| Punkt | Beskrivelse |
| Produkt model | GP-L700-324K metallurgisk mikroskop med lang arbejdsafstand med 4K Ultra HD |
| Produktkategori | Lodret metallurgisk mikroskop i høj forstørrelse af forskningskvalitet med delt lodret belysning Lys Kilde |
| Kerneteknologier | Trinokulært synkront visningssystem, opdelt uafhængigt koaksialt vertikalt lyskildemodul, højopløsnings metallurgisk objektivobjektivsæt, 4K ultra-HD CMOS billedsensor, dobbeltmålesystem (på enheden indbygget præcis måling + pc-softwaremåling), HDMI+Gigabit-LAN dual-channel signal transmission, dobbeltlagringsløsning, åben arkitektur, der understøtter docking i sekundær udvikling |
| Nøglespecifikationer | Optisk forstørrelse: 50/100/200/500×; Elektronisk forstørrelse: 380/760/1520/3800×; Dobbelt-output grænseflader: HDMI + Gigabit-LAN-port; 4K-optagelsesopløsning: 3840×2160; Fokustilstand: Manuel fokusering; Dobbelte måletilstande: indbygget præcis måling + dedikeret pc-softwaremåling; Dobbelt opbevaring tilstande: U-disk lokal lagring + PC-software lagring; Monitor terminalfunktioner: Dimensionsmåling, HD billedvisning, fotoarkivering; PC-terminalfunktioner: Dimensionsmåling, fotolagring; Bemærkning: Understøtter sekundær udviklingsintegration. |
| Typiske anvendelsesscenarier | Wafer-&-chip-korn observation, halvleder-emballage-defekt-inspektion, metal-korn metallografisk-struktur-analyse, præcision-kredsløb-lille-fejl-detektion, elektronisk-komponent-fejl- analyse, nyt-materiale-laboratorium-videnskabelig-forskning |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Fabriksadresse | Kunshan City, Jiangsu-provinsen, Kina (ved siden af Shanghai) |
| Model | GP-L700-324K |
| Opløsning | 3840×2160 |
| Virkelig effektive pixel | 8,3 megapixel |
| Fokuseringsmetode | Manuel fokus |
| Optisk format | 1/1,7" |
| Pixel størrelse | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Outputmetode | HDMI + Gigabit Ethernet LAN-port |
| Detaljerede funktionelle introduktioner svarende til hver output-grænseflade | ① HDMI tilsluttes til 4K-kompatible skærme. Integreret professionel billedbehandlingsfirmware understøtter
fotooptagelse, videooptagelse, dimensionsmåling, billedafspilning og billedsammenligning, betjent
med musen i realtid. ② Gigabit LAN-port forbindes til routere, switche eller computere til netværk billede transmission. Computere inden for samme netværkssegment kan modtage video i realtid og udløse optagelse via matchende software. |
| Billedhastighed | HDMI: 60fps @3840×2160 Gigabit LAN: 20fps @1920×1080 |
| Dybdefeltsyntese | / |
| Billedsøm | / |
| Målemetode | Indbygget on-monitor målesystem + PC-software måling |
| Målenøjagtighed | 0,001 mm |
| Måleenheder | mm / μm / mil / tomme (4 omskiftelige enheder) |
| Måleværktøjer | Længde, vinkel, radian, cirkel, polygon, polylinje, center-til-center afstand, rektangel, annotering tilføjer, automatisk kantregistrering, skaleringsbjælke og mere |
| Opbevaringsmetode | U-disk lagring + PC-software lagring |
| Vis sprog | Forenklet kinesisk / engelsk (kan skiftes) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Maks. 1,4 GHz hovedstyringsprocessor |
| Operativsystem | Uafhængigt udviklet målefirmware baseret på Linux 3.1 kerne |
| Billednavngivning | Automatisk eller manuel navngivning tilgængelig |
| Visningshoved | 30° skråtstillet trinokulært hoved; interpupiljusteringsområde: 53-75 mm |
| Observationstilstande | Lysfelt / skrå belysning / simpel polarisering |
| Belysningssystem | Belysningssystem med faldende lys, 100-240V bredspændingsindgang, justerbar glødetrådscenter, kontinuerligt justerbar lysintensitet. |
| Stå | ① Skydestativ, koaksial grov-fin fokuseringsmekanisme med låse- og begrænsningsanordninger;
finbevægelses gradueringsværdi: 2 μm. Halogen-lampe reflekteret lys belysning. ② Lysfelt reflektor med variabel blændestop, feltstop og farvefilter-omskifter. ③ Gul, blå, grønne filtre og matteret glasplade leveres til reflekteret lys optisk vej. |
| Mekanisk scene | Grundmål: 300 mm × 240 mm; Scenedimension: 185 mm × 140 mm; X-Y vandring: 35 mm × 30 mm. Velegnet for observere relativt høje emner. |
| Lyskilde | 6V 30W halogenlampekammer (kun reflekteret lys). |
| Enkel polariseringsfunktion | Push-pull type polarisator og analysator installeret |
| Elektronisk grænseflade | 1X C-mount kamera interface, ikke-justerbar fokus; CTV 0.5X er valgfrit med prisforskel kompensation. |
| Okularer | To WF10X/22 mm vidvinkel plan-felt okularer med individuel dioptrijustering |
| Næsestykke | ★Mingchang fem-hullers objektiv næsestykke |
| Metallurgiske mål | ★ Infinity-korrigerede plan-akromatiske metallurgiske mål ① PL L5X/0,12, arbejdsafstand: 26,1 mm × 1 stk ② PL L10X/0,25, arbejdsafstand: 20,2 mm × 1 stk. ③ PL L20X/0,40, arbejdsafstand: 8,80 mm × 1 stk ④ PL L50X/0,70, arbejdsafstand: 3,68 mm × 1 stk. ⑤ PL L100X/0,85, arbejdsafstand: 0,40 mm (valgfrit, ikke inkluderet i standardpakken) |
| Optisk forstørrelse | 50X, 100X, 200X, 500X (kan skiftes i fire niveauer) |
| Elektronisk forstørrelse | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X (kan skiftes i fire niveauer); valgfrit forstørrelsesområde: 190-1900X. |
Ansvarsfraskrivelse:Logoer og navne på virksomheder, universiteter og forskningsinstitutioner, der vises på kun denne hjemmeside angive, at sådanne enheder har købt eller brugt mikroskoper af mærket GAOPIN. Deres udseende skal ikke være fortolket som køb af denne nøjagtige produktmodel og skal ikke indebære nogen kommerciel godkendelse, co-branding, tilknytning eller fælles projektpartnerskab med disse tredjepartsorganisationer.
GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:
Huawei Electronics – Indgående materiale-inspektion og produktionslinje-QC for elektroniske komponenter
Zhejiang Maitong Intelligent Manufacturing Technology Co., Ltd. – Mikroskopisk-dimensionel-inspektion for automatiserede-præcisionsbearbejdede-dele
NIO Shanghai – Præcisionsinspektion for nye-energi-autodele og ledningsnet
Tsinghua University - Undervisning, laboratorie-billeddannelse og eksperimentel-data-arkivering
Dabo Medical – Mikromorfologi-analyse af implantat-medicinske-enheder & biomaterialer
Fudan University – Mikro-nano-materialer og biomedicinsk mikroskopisk-observation-forskning
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. blev officielt grundlagt i 2011. Vores stifter-team akkumulerede rige optisk-inspektion-instrument-industri-erfaring med start i 2005. Vi leverer fuld-cyklus-tjenester, der dækker produktdesign, in-house-R&D, globalt salg og omfattende-eftersalgs-vedligeholdelsesservices. Vores faglært ingeniørteam har mere end ti års erfaring med udvikling af optiske instrumenter for at sikre stabil-teknisk ydeevne og pålidelig produktkvalitet.
GAOPIN leverer mere end hundrede kategorier af optiske-test-instrumenter industri- og laboratoriekunder på verdensplan. Vi udvikler fleksible, omkostningseffektive skræddersyede mikroskopi-løsninger til mangfoldig-industriel-kvalitetskontrol og laboratorie-analyse-projekter.
Til oversøiske købere tilbyder vi lydhør verdensomspændende teknisk support, herunder fjern-online-konsultationer, praktisk- video-tutorials og live-fjernudstyr-drift-træning. Vores produktionsanlæg ligger i Kunshan, Jiangsu Provins (tæt på Shanghai). Fabriksbesøg på stedet og virtuelle online-ture er velkomne. Kontakt venligst vores salgsteam for autentiske-prøve-test-billeder taget med dette Long Working Distance Metallurgical Microscope med 4K Ultra HD til at evaluere real-imaging-ydeevne.
A1: Udstyret med dobbelte grænseflader med HDMI high-definition output og LAN-port. Det understøtter billeddannelse i realtid ved forbinder til en skærm direkte, og computerforbindelse via netværkskabel. Uden USB- og WIFI-grænseflader understøtter den begge dele selvstændig-drift og computer-samarbejde.
A2: Den understøtter 4K ultra-HD foto- og videooptagelse og gemmer filer via FAT32 U-disk (inden for 32G). Den understøtter dual præcis måling på skærm og pc-software, herunder dimensionsmærkning, databesparelse og måling-rapport-eksport funktioner, der opfylder præcise detekterings- og arkiveringskrav.
A3: Kontroller enhedens strømforsyning og matchede adapter, fastgør HDMI-kablet godt, skift skærm til tilsvarende HDMI- signal-kanal, genstart enheden for at løse problemer med sort skærm og ingen billedproblemer.
A4: Ved at bruge højpræcisions manuel-fokus-design, justerer du langsomt fokus-håndhjulet for klar-billeddannelse. Lås objektiv-linse fast, placer prøven fladt, og rengør regelmæssigt støv og pletter på linsen med professionelt værktøj for at sikre klar og nøjagtig billeddannelse.
A5: Sørg for, at enheden og computeren er indstillet til samme-IP-segment, sluk-computer-firewall og aflytning-software, gen-tilslut-netværk-kabel fast, genstart-enhed og understøttende-måling-software til normal-forbindelse.
A6: Enheden understøtter kun FAT32 U-diske inden for 32G og understøtter ikke NTFS og exFAT U-diske med stor kapacitet. For genkendelsesfejl, gentilslut eller formater-U-disk, eller udskift med kompatibel-U-disk til normal-fil-lagring.
Adresse
Bygning 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tlf
