GP-L500-300C er et metallografisk mikroskop i forskningskvalitet med et ekstra stort bevægeligt trin til prøver i stor størrelse. Metallurgisk mikroskop med stor forstørrelse leverer 1080P HD-billeddannelse for at vise klare mikrostrukturdetaljer. Den trinokulære port understøtter kamerainstallation til arbejdsgange for metallografisk analyse. Den er ideel til metallurgiobservation af store materialer, halvledere inspektion, PCB skiveanalyse og industrilaboratoriekvalitetskontrolscenarier.
Dette metallurgiske mikroskop med stor forstørrelse er velegnet til mikroskopisk observation af metallografiske mikrostrukturer og overflademorfologi. Det fungerer som et ideelt forskningsværktøj til metallurgi, mineralogi og finmekaniske discipliner.
HD-kamera indbygget i trinokulært hus til samtidig visning via okular og monitor. HDMI-mikrobillede i realtid output kombinerer observation og registrering af arbejdsgange.
Optisk forstørrelse 50-800X; maks. ren-digital forstørrelse op til 6080X med sæt med fem objektiver. Præcision optisk sti leverer skarpe detaljer til mikroinspektion af wafer og chip.
Stabile fokusknapper matchet med linse-cylinder-samling sikrer blid fokusering og reducerer billedrystelser.
Overdimensioneret bevægende prøve-stage parret med tyk metalbund. Forbliver stabilt til store prøver uden at slingre under langtidsobservation.
Minimalistisk helhvid stiv stel i industriel stil. Velegnet til halvlederværksteder og universiteter laboratorier.
Optimeret til chip-og-wafer-inspektion; også bredt anvendt til halvledertestning, metallografisk analyse, materialeforskning og kvalitetsvurderingsarbejde.
1080P foto- og videooptagelse, indbygget præcis måling på skærmen, U-disk-lagring. Digital billedbehandling forenkler fil arkivering, billedsammenligning og efteranalysearbejde.
Kikkertvisning plus synkron elektronisk observation:Okularvisning og skærmvisning fungerer synkront. Almindelige metallurgiske mikroskoper understøtter kun okularobservation; ekstra kameratilbehør er kræves til skærmoutput.
Stor scene og ultrahøj forstørrelse:Maksimal optisk forstørrelse når 800X; maksimum ren-digital elektronisk forstørrelse når 6080X. Overdimensioneret bevægende scene rummer prøver i store dimensioner. Konventionelle metallurgiske mikroskoper er udstyret med små arbejdstrin og tilbyder lavere elektronisk forstørrelse.
Direkte HDMI-udgang:Tilslut direkte til skærmen via HDMI-kabel. Generelle metallurgiske mikroskoper kræver separate kameraer og optagelseskort til billedoutput.
Offline måling på skærmen:Dimensionsmåling kan udføres direkte på monitor uden PC tilslutning. Almindelige metallurgiske mikroskoper er udelukkende afhængige af pc-softwaremåling.
Offline U-disk lagring:Gem fotos og videoer på U-disk uden en computer. Traditionelle modeller skal oprette forbindelse til pc for at gemme billedet.
Dedikeret metallurgisk optisk vej:Optimeret til metal-korn, belægning og metallografisk materialeanalyse. Almindelige digitale mikroskoper mangler denne specialiserede optiske vej og kan ikke visualisere metallografiske strukturer.
Mekanik:Kraftig ramme i fuld metal for høj stivhed og anti-vibration. Præcision koaksial grov-fin fokusering med låse- og begrænsningsanordning, finbevægelsesgradueringsværdi: 0,7 μm. Stort format manuel XY-trin med glat bevægelse med lavt slid. Trinokulær optisk vej opretholder optisk co-alignment, når der skiftes mål.
Optik:Infinity-korrigerede plan-akromatiske metallurgiske mål. Reflekteret halogenlampe belysning med justerbar lysstyrke.
Billedbehandling og måling:2-megapixel 1080P HD CMOS-sensor, kun HDMI-udgang. Indbygget firmware måling kører på monitor. Forkalibreret på fabrikken; parametre fortsætter efter slukning; ingen daglig kalibrering påkrævet. Datalagring kun via kompatibel U-disk. PC-tilslutning, USB-port og sekundære udviklingsfunktioner er IKKE understøttet til GP-L500-300C.
Kvalitet og vedligeholdelse:Fuldstændig fabriks optisk kalibrering og ydeevneinspektion. Inspektion rapporter og prøvemikrofotografier kan leveres efter anmodning. De optiske moduler må ikke skilles ad. Almindelig støvtæt rengøring forlænger levetiden.
Semiconductor Wafers & Chips (kerneapplikation):
Siliciumwafers, litografiskiver, IC-chips, MOS-rør, PCB'er, FPC fleksible kredsløb, pakkede loddesamlinger.
Inspektionsmål: interne mikrochipkredsløb, waferbelægninger, ætsningsfejl, emballagebobler, koldlodning
led, oxidation og stiftdeformation.
Metallografiske prøver og hardwareskæreværktøjer:
Metallografiske sektioner, legeret stål, bor, fræsere, præcisionsstemplede metaldele.
Inspektionsmål: metal-korn struktur, varmebehandling metallografisk analyse, mikro overflade revner,
banebrydende skår, grater, slidspor og indvendige materialeurenheder.
Laboratorieprøver: pulver, fiber og tyndfilm:
Metalpulver, kemisk pulver, kulfiber, tekstilfiber, optisk belægningsfilm.
Observer partikelmorfologi, fibertekstur, filmdelaminering og mikrobelægningsstrukturer.
Optoelektroniske og præcisions-plastikkomponenter:
LED-chips, optiske linser, sprøjtestøbte dele, halvleder-emballagelim.
Registrer mikroporer, overfladepletter, ru kanter, delaminering, bobler og små kosmetiske fejl.
Præcisionsminiaturekomponenter i stor størrelse:
Konnektorer, terminaler, mikrofjedre, store prægede emner, langdimensionerede dele.
Ekstra stor bevægelig scene rummer overdimensionerede prøver; nøjagtig måling på pixelniveau for mellemrum, huldiametre,
højdeforskelle og lineære dimensioner.
Academic Labs & Semiconductor-Factory QC:
Materialeforskningseksperimenter, fuld inspektion af indgående varer og færdigvarer for halvledere,
metallografisk prøveobservation; foto/video arkivering.
Udvidet stor platform muliggør fuld observation af wafers, store PCB'er og store metalskiver uden prøve skæring. Perfekt til inspektion af halvleder-wafer, printkort og store hardwarekomponenter.
Trinjusterbar forstørrelse: optisk 50x-800x; maksimal digital forstørrelse op til 6080X (ren digital zoom). Fanger arbejdsemnets overordnede udseende og ultrafine detaljer såsom spånkredsløb, metalkorn, mikroridser og belægning porer. Ideel til halvleder-R&D-testning.
Trinokulær synkron lysbane muliggør samtidig observation via binokulære okularer og HDMI-monitor. Velegnet til R&D-teamdiskussion, dobbelt QC-genkontrol og universitetslaboratorieundervisning for at reducere fejlvurderinger.
Enkelt HDMI-udgang med indbygget målefunktion på skærmen. Gem 1080P fotos og videoer direkte på kompatibel U-skive. Plug-and-play med enkle ledninger. Passer til basis-inspektionsstationer i halvlederværksteder og lille materiale laboratorier.
Tykt integreret anti-vibrationslegeme sammen med koaksial manuel grov-fin fokusering. Blød fokusering uden billedskift under lang-timers kontinuerlig inspektion. Velegnet til daglig masseindgående test for wafers og kredsløb brædder og langtids statisk prøve laboratorieanalyse.
Neutral-pakning forsendelse er tilgængelig efter anmodning.
| Punkt | Beskrivelse |
| Produkt | GP-L500-300C Metallografisk mikroskop af forskningskvalitet |
| Kategori | Trinokulært metallurgisk inspektionsmikroskop med stor platform til industriel forskning |
| Kerneteknologier | Trinokulært synkront visningssystem, bevægeligt prøvetrin med stort område, høj effekt metallurgisk objektivsæt, HD CMOS-billedsensor, indbygget digitalt præcisionsmålingsmodul, HDMI-realtid video output, U-disk lokal billedlagringsteknologi |
| Nøglespecifikationer | Visuel forstørrelse: 50/100/200/500/800×; Elektronisk forstørrelse: 380/760/1520/3800/6080× (6080X er ren digital zoom); Udgangsgrænseflade: Kun HDMI; Optagelsesopløsning: 1920*1080; Manuel fokusering; Indbygget præcis måling funktion, U-disk opbevaring; Skærmterminal understøtter HD-billedforhåndsvisning, fotooptagelse og video optagelse. |
| Typiske applikationer | Wafer- og halvlederchipmikrostrukturinspektion, observation af elektroniske komponenter i stor størrelse, metal metallografisk kornanalyse, emballagekredsløbsdetektion, PCB-tværsnitsinspektion, nyt-energi-materiale afprøvning, laboratorieforskning af avanceret materiale |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Producentens placering | Kunshan, Jiangsu, Kina (ved siden af Shanghai) |
| Model | GP-L500-300C |
| Opløsning | 1920×1080 |
| Virkelig effektive pixel | 2 megapixel |
| Fokuseringsmetode | Manuel fokus |
| Optisk format | 1/2" |
| Pixel størrelse | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Outputmetode | HDMI |
| Detaljerede funktionelle introduktioner svarende til hver output-grænseflade | HDMI kan tilsluttes 4K-kompatible skærme. Integreret professionel billedbehandlingsfirmware understøtter fotooptagelse, videooptagelse, dimensionsmåling, billedafspilning og billedsammenligning, betjent af mus i realtid. |
| Billedhastighed | HDMI: 60fps @1920*1080 |
| Dybdefeltsyntese | / |
| Billedsøm | / |
| Målemetode | Indbygget målesystem på skærmen |
| Målenøjagtighed | 0,001 mm |
| Måleenheder | mm / μm / mil / tomme (4 omskiftelige enheder) |
| Måleværktøjer | Længde, vinkel, radian, cirkel, polygon, polylinje, center-til-center afstand, rektangel, annotering tilføjer, automatisk kantregistrering, skaleringsbjælke og mere |
| Opbevaringsmetode | U-disk opbevaring |
| Vis sprog | Forenklet kinesisk / engelsk (kan skiftes) |
| Processor | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max 1,3 GHz |
| Operativsystem | Uafhængigt udviklet målefirmware baseret på Linux 3.1 kerne |
| Billednavngivning | Automatisk eller manuel navngivning tilgængelig |
| Visningshoved | 30° skråtstillet trinokulært hoved; interpupiljusteringsområde: 53 mm-75 mm |
| Observationstilstande | Lysfelt / skrå belysning / simpel polarisering |
| Belysningssystem | Belysningssystem for faldende lys, der kun reflekteres, 100-240V bredspændingsindgang, justerbar glødetråd center, kontinuerligt justerbar lysintensitet. |
| Stå | ① Skydestativ, lav håndposition koaksial grovfinfokuseringsmekanisme, med låse- og
begrænsende
enheder; finbevægelses gradueringsværdi: 0,7 μm. Halogen-lampe reflekteret lys belysning. ② Lysfelt reflektor med variabel blændestop, feltstop og farvefilter-omskifter. ③ Gul, blå, grøn filtre og matteret glasplade leveres til reflekteret lys optisk vej. |
| Mekanisk scene | ★ Mekanisk bevægende scene. Scenedimension: 280 mm × 270 mm; X-Y vandring: 204 mm × 204 mm (8-tommer vandring). Glas Prøvebærerplade kun til observation af reflekteret lys, velegnet til store arbejdsemner. |
| Lyskilde | 6V 30W halogenlampekammer (kun reflekteret lys) |
| Enkel polariseringsfunktion | Push-pull type polarisator og analysator installeret |
| Elektronisk grænseflade | CTV 1X kameragrænseflade med fast fokus; CTV 0.5X er valgfrit med prisforskelskompensation. |
| Okularer | To WF10X/22 mm vidvinkel plan-felt okularer med individuel dioptrijustering |
| Næsestykke | ★Mingchang fem-hullers objektiv næsestykke |
| Metallurgiske mål | ★ Infinity-korrigerede plan-akromatiske metallurgiske mål ① PL L5X/0,12, arbejdsafstand: 26,1 mm × 1 stk ② PL L10X/0,25, arbejdsafstand: 20,2 mm × 1 stk. ③ PL L20X/0,40, arbejdsafstand: 8,80 mm × 1 stk ④ PL L50X/0,70, arbejdsafstand: 3,68 mm × 1 stk. ⑤ PL L80X/0,80, arbejdsafstand: 1,25 mm × 1 stk |
| Optisk forstørrelse | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (kan skiftes i fem niveauer) |
| Elektronisk forstørrelse | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (omskiftelig i fem niveauer); valgfri rækkevidde: 190-3040X. |
GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:
Tianjin University of Commerce – Materiale-laboratorieundervisning, mikrobilleddannelse og eksperimentel dataarkivering
DOOV – Inspektion af montering af mobil enhed, test af skærm og komponentudseende
GREE Electric Appliances (Hefei) – Præcisionsdimensionsmåling og fejlinspektion af dele til husholdningsapparater
Lens Technology Co., Ltd. – Mikrofejldetektion til glasdækselplader og telefonbeskyttende paneler
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensions- og mikrofejldetektion til præcisionsbearbejdet dele
Dabo Medical – Mikromorfologisk analyse for implantat-type medicinske enheder og biomaterialer
A1: Kun HDMI-interface er monteret til skærmvisning i realtid.
A2: Det understøtter 1080P high-definition foto- og videooptagelse. Filer kan gemmes på FAT32-formateret U-disk indeni 32 GB kapacitet. Indbygget måleværktøj på skærmen understøtter dimensionsmærkning, datalagring og målerapport eksport.
A3: Fejlfinding uden billede: Kontroller strømforsyning, HDMI-kabel og monitorsignalkilde, og genstart derefter enheden. Fejlfinding af sløret billede: Juster håndhjulet med manuel fokus, lås objektivlinsen, læg prøven fladt og ren linsen overflade. U-disk-genkendelsesfejl: Udskift eller omformater U-disk (skal være FAT32 og ≤32 GB).
A4: Velegnet til metallografisk observation, metalmaterialeanalyse, pulvermetallurgitestning, præcision-elektronisk-komponentinspektion, videnskabelig-forskning og undervisningsforsøg.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. blev officielt grundlagt i 2011. Vores grundlæggerhold akkumulerede erfaring med optisk teknologi fra 2005. Vi er en producent af industrielt inspektionsudstyr, der leverer tjenester i hele sortimentet: uafhængigt optisk design, produkt-F&U, internationalt salg og langsigtet eftersalgssupport til industrielle mikroskoper. Vores interne ingeniørspecialister har over ti års erhvervserfaring for udvikling af optiske instrumenter, der sikrer stabil teknisk ydeevne og ensartet produktpålidelighed.
GAOPIN leverer mere end hundrede kategorier af optiske instrumenter til verdensomspændende kunder. Vi leverer fleksible, omkostningseffektive skræddersyede mikroskopiløsninger til at tilfredsstille forskellige industrielle tests og laboratorieforskning krav. Globale oversøiske købere kan få hurtig respons teknisk support inklusive online-videokonsultation, trin-for-trin betjeningsvejledning og fjerntræning af udstyr. Vores fabrik ligger i Kunshan, Jiangsu-provinsen (tæt på Shanghai). Fabriksbesøg på stedet og virtuelle online-ture er velkomne. Kontakt os venligst for ægte prøveafprøvning billeder fanget af dette metallografiske mikroskop af forskningskvalitet til vurdering af billedkvalitet.
Adresse
Bygning 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tlf
