4K Ultra HD metallurgisk mikroskop i forskningskvalitet

GP-L500-324K er et metallografisk mikroskop i forskningskvalitet med 4K Ultra HD. Det understøtter 5-trins forstørrelse skifte fra 380× til 6080×. Den indbyggede ekstra store bevægelige scene rummer bekvemt store prøver. 4K Ultra HD metallurgisk mikroskop i forskningskvalitet leverer 4K ultra-high-definition billeder med skarpe mikrostrukturdetaljer. Den trinokulære port understøtter kamerainstallation og metallografisk-analyse-software forbindelse. Den er ideel til metallurgiobservation af store materialer, halvleder inspektion, PCB skiveanalyse og industrilaboratorie kvalitetskontrolarbejde.

Anvendelsesområde

Dette 4K Ultra HD-forskningskvalitet metallurgiske mikroskop er velegnet til mikroskopisk observation af metallografiske mikrostrukturer og overflademorfologi. Det fungerer som et ideelt forskningsværktøj til metallurgi, mineralogi og finmekaniske discipliner.

Unikke designfordele

1. Integreret 4K Synchronous CCD Imaging

4K-kamera integreret i trinokulært hus til samtidig visning via okularer og ekstern skærm. Dual-port output via HDMI og Gigabit LAN transmitterer ultra-HD mikrobilleder i realtid.

2. Ultra-høj-forstørrelse HD-optisk system

Optisk forstørrelse 50-800×; maksimal digital forstørrelse når 6080X (ren digital zoom) med fem-objektiv-linse sæt. Præcisions optisk vej giver skarpe detaljer til chip- og wafer-mikroinspektion.

3. Glat præcisions manuel fokusmekanisme

Koaksiale fokusknapper matchet med forstærket linse-cylinder-samling muliggør konstant fokusering og minimerer billedrystelser.

4. Overdimensioneret prøvetrin og kraftig metalbase

Ekstra stort bevægeligt prøve-stage parret med tyk integreret metalbund. Forbliver stabilt til prøver i store størrelser uden vakle under langtidsobservation.

5. Research-Grade All-White Professional Body

Minimalistisk integreret stiv metalramme i laboratoriestil, perfekt egnet til halvlederværksteder, universiteter laboratorier og QC faciliteter.

6. Bredt professionelt anvendelsesområde

Ideel til chip-og-wafer-inspektion, halvledertestning, metallografisk analyse, materialeforskning, akademisk-undervisning og kvalitetsevalueringsarbejde.

7. Alt-i-én digital observation, måling og opbevaring

4K foto- og videooptagelse, dobbeltmålingstilstande (indbygget på skærmen + pc-software). Dobbelt lagring via U-disk & computer. Dybde-of-field syntese og billedsammensætningsfunktioner kører udelukkende på understøttende pc-software. Sekundær-udvikling er understøttet over LAN-port til billedarkivering, sammenligning og avanceret analyse.

Forskelle fra konventionelle metallurgiske mikroskoper

Kikkertvisning plus synkron elektronisk observation:Okularvisning og skærmvisning fungerer synkront. Almindelige metallurgiske mikroskoper understøtter kun okularobservation; ekstra kameratilbehør er kræves til skærmoutput.

Stor scene, ultrahøj forstørrelse og 4K-billeddannelse:Maksimal optisk forstørrelse når 800X; maksimal ren-digital elektronisk forstørrelse når 6080X. Overdimensioneret flytte-scene plads til samples i store dimensioner med indbygget 4K-output. Konventionelle metallurgiske mikroskoper anvender arbejdstrin i lille størrelse med lavere opløsning og begrænset forstørrelse.

Dobbelt-output grænseflader:HDMI + Gigabit-LAN-port. Almindelige metallurgiske mikroskoper har enkelt interface uden netværksport til systemintegration.

Dobbelte måletilstande:Offline indbygget måling på skærmen plus PC-software måling. Almindelige metallurgiske mikroskoper understøtter kun softwaremåling på pc-siden.

Dual-lagringstilstande:Offline U-disk-lagring og PC-software-lagring, datalagring tilgængelig med-eller-uden tilsluttet-computer. Konventionelle modeller kræver pc-tilslutning for at gemme billeder.

Understøttet sekundær udvikling:LAN-port muliggør automatisk systemintegration. Generelt metallurgiske mikroskoper understøtter ikke sekundær udviklingsevne.

Dedikeret metallurgisk optisk vej:Optimeret til metal-korn, belægning og metallografisk materialeanalyse. Almindelige digitale mikroskoper mangler denne specialiserede optiske vej og kan ikke visualisere metallografiske strukturer.

Evidens og pålidelighed på stedet (førstehåndstest)

Mekanik:Fuldmetalkonstruktion for høj stivhed og vibrationsmodstand. Præcision grov-fin fokusering uden tilbageslag. Manuelt XY-trin i stor størrelse med lavt slid og minimal frigang. Trinokulær optisk vej opretholder optisk co-alignment, når du skifter mål.

Optik:Infinity-korrigerede plan-akromatiske metallurgiske objektiver med anti-dug hård belægning. Reflekterende lys 6V-30W halogenlampe belysning.

Billedbehandling og måling:8,3-megapixel 4K industrielt CMOS-kamera. Dual-output: HDMI + Gigabit-LAN port, god anti-interferens ydeevne til brug i industrielt miljø. Understøtter indlejret måling på skærmen og PC-software måling. Forkalibreret på fabrikken; parametre fortsætter efter slukning; ingen daglig kalibrering påkrævet. Dual-path lagring via U-disk og pc-software. Dybde-of-field-syntese og billedsyntese er tilgængelige kun på pc-software. Sekundær-udviklingsgrænseflade er tilgængelig via LAN-port.

Driftsmiljø:Arbejdstemperatur 10-35 ℃, relativ luftfugtighed 30-75% RH. Stabil under regulær fabriks elektromagnetiske miljø. Undgå kraftige vibrationer, ætsende gasser og kraftigt støv.

Kvalitet og vedligeholdelse:Fuldstændig fabriksinspektion. De optiske moduler må ikke skilles ad. Regelmæssig støvtæt rengøring forlænger levetiden.

Egnede inspektionsopgaver til 380-6080× forstørrelse

Semiconductor Wafers & Chips (kerneapplikation):
Siliciumwafers, litografiskiver, IC-chips, MOS-rør, PCB'er, FPC fleksible kredsløb, pakkede loddesamlinger.
Inspektionsmål: interne mikrochipkredsløb, waferbelægninger, ætsningsfejl, emballagebobler, koldlodning led, oxidation og stiftdeformation.

Metallografiske prøver og hardwareskæreværktøjer:
Metallografiske sektioner, legeret stål, bor, fræsere, præcisionsstemplede metaldele.
Inspektionsmål: metal-korn struktur, varmebehandling metallografisk analyse, mikro overflade revner, banebrydende skår, grater, slidspor og indvendige materialeurenheder.

Laboratorieprøver: pulver, fiber og tyndfilm:
Metalpulver, kemisk pulver, kulfiber, tekstilfiber, optisk belægningsfilm.
Observer partikelmorfologi, fibertekstur, filmdelaminering og mikrobelægningsstrukturer.

Optoelektroniske og præcisions-plastikkomponenter:
LED-chips, optiske linser, sprøjtestøbte dele, halvleder-emballagelim.
Registrer mikroporer, overfladepletter, ru kanter, delaminering, bobler og små kosmetiske fejl.

Præcisionsminiaturekomponenter i stor størrelse:
Konnektorer, terminaler, mikrofjedre, storstemplede emner, langdimensionerede dele.
Ekstra stor bevægelig scene rummer overdimensionerede prøver; 4K-pixel-niveau nøjagtig måling af mellemrum, hul diametre, højdeforskelle og lineære dimensioner.

Academic Labs & Semiconductor-Factory QC:
Materialeforskningseksperimenter, fuld inspektion af indgående varer og færdigvarer for halvledere, metallografisk prøveobservation; foto-/videoarkivering, tilslut til pc for at eksportere professionel måling QC-rapporter.

Sådan vælger du denne model

Til inspektion af prøver i stor størrelse med ekstra bred bevægelig plade

Udvidet stor platform muliggør fuld observation af wafers, store PCB'er og store metalskiver uden prøveskæring. Perfekt til halvleder-wafer, printkort og stor hardware-komponent-inspektion.

Til multi-range ultra-høj forstørrelse chip mikro-analyse

Trinjusterbar forstørrelse: optisk 50x-800x; maksimal digital forstørrelse op til 6080X (ren digital zoom). Fanger arbejdsemnets overordnede udseende og ultrafine detaljer såsom spånkredsløb, metalkorn, mikroridser og belægning-porer. Ideel til halvleder-R&D-test.

Til synkron visning af flere personer med trinokulær optisk vej

Trinokulær synkron optisk vej muliggør samtidig observation via binokulære okularer og HDMI-monitor. Velegnet til R&D-team-diskussion, dobbelt-QC-recheck og universitet-laboratorie-undervisning for at reducere fejlvurderinger.

Til fleksibel arbejdsstationsopsætning med valgfri pc-tilslutning

Enkelt-HDMI-udgang med indbygget on-monitor-målefunktion. 4K-fotos og -videoer kan gemmes direkte på kompatibel U-disk. Plug-and-play installation passer til basis-inspektions-stationer i halvleder-værksteder og små-materiale-laboratorier.

Til stabil langtids industriel test med kraftigt stel

Tykt integreret anti-vibrationslegeme sammen med manuel grov-fin fokusering. Glat fokuseringsydelse uden billedskift under lang-timers kontinuerlig inspektion. Holdbar til daglig masseindgående test for wafers og printplader og langtids statisk-prøve-laboratorie-analyse.

Tilpasningsmuligheder

Neutral-pakning forsendelse er tilgængelig efter anmodning.

Oversigt over produktenheder

Tekniske specifikationer

Autoritative partnere og kunder

GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:

Tsinghua University - Undervisning, laboratorie-billeddannelse og eksperimentel-data-arkivering

Fudan University – Mikro-nano-materialer og biomedicinsk mikroskopisk-observation-forskning

Dabo Medical – Mikromorfologi-analyse for implantat-type medicinske enheder og biomaterialer

Tianjin University of Commerce – Materiale-laboratorie-undervisning, mikro-billeddannelse og eksperimentel-data-arkivering

Xi'an Jiaotong University – Avanceret-materialevidenskab og præcisionsoptik eksperimentel-observation

GREE Electric Appliances (Hefei) – Præcisionsdimensionsmåling og fejlinspektion for husholdningsapparater-dele

Ofte stillede spørgsmål

Q1: Interface konfiguration og forbindelsesmetode?

A1: Udstyret med HDMI + Gigabit-LAN-port. Den understøtter direkte skærm og netværksforbindelse med computer.

Q2: Hvad er billeddannelses-, opbevarings- og målefunktionerne?

A2: Den understøtter 4K ultra-HD foto- og videooptagelse. Filer kan gemmes på FAT32-formateret U-disk inden for 32 GB kapacitet. Understøtter både skærm- og pc-softwaremåling med datalagring og rapport-eksportfunktioner.

Q3: Hvordan fejlfinder man almindelige fejl?

A3: Fejlfinding uden billede: Kontroller strømforsyning, HDMI-kabel og monitorsignalkilde, og genstart derefter enheden. Fejlfinding af sløret billede: Juster håndhjulet med manuel fokus, læg prøven flad og ren linsens overflade. Netværksfejl fejlfinding: Indstil pc og enhed inden for samme IP-segment, sluk firewall og tilslut netværkskablet igen. U-disk-fejl fejlfinding: Udskift eller omformater U-disk (skal være FAT32 og ≤32 GB).

Spørgsmål 4: Hvad er applikationsscenarierne? Understøtter det sekundær udvikling?

A4: Sekundær udvikling understøttes over LAN-port. Udbredt til metallografisk analyse, metalmateriale test, pulvermetallurgi, halvlederinspektion, præcisionskomponentinspektion, videnskabelig forskning og undervisnings-eksperimenter.

Om GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. blev formelt grundlagt i 2011. Vores grundlægger-lederskab-team akkumulerede optisk-inspektionsudstyr-industri-erfaring med start i 2005. Vi leverer end-to-end-løsninger, der dækker optisk-system-design, uafhængig-R&D, verdensomspændende-produktdistribution og langsigtet-efter-salg-vedligeholdelse- tjenester. Vores dedikerede kerneingeniør-personale besidder mere end ti års praktisk-udviklingserfaring i optiske instrumenter, der sikrer stabil gennemprøvet teknologi og pålidelig kvalitet.

GAOPIN opretholder et bredt produktsortiment bestående af over 100 forskellige optiske inspektionsinstrumenter, der betjener industri- og laboratoriekunder på tværs af internationale markeder. Vi fokuserer meget på at udvikle skræddersyede, omkostningseffektive-mikroskopi-løsninger til at tilfredsstille unikke-inspektions-krav fra forskellige industrier.

Til oversøiske partnere tilbyder vi fast-track-global-teknisk-bistand, herunder online-videokonferencer, trin-for-trin-operationel-video-vejledning og live-fjernbruger-træning. Vores produktionsbase ligger i Kunshan, Jiangsu Provinsen, med praktiske transportforbindelser til Shanghai. On-site-fabriksinspektioner og virtuelle-online-ture er velkommen. Kontakt venligst vores salgsteam for autentiske-prøve-test-billeder taget af denne metallografiske forskning mikroskop med 4K Ultra HD til at evaluere real-billed-ydeevne.