Forskningskvalitet metallografisk mikroskop med 4K Ultra HD & Autofokus Large-Stage 4K metallurgisk mikroskop. 4K Autofokus Research-Grade Metallurgical Microscope adopterer 5-trins forstørrelsesjustering, med forstørrelse fra 380× til 6080×. Den ekstra store bevægelige scene kan hold store prøver. 4K ultraklare billeder leverer skarpe og delikate mikrostrukturdetaljer. Den trinokulære port kan være forbundet til kameraer og metallografisk analysesoftware, velegnet til observation af store metal, halvledere inspektion, PCB skiveanalyse, videnskabelig forskning og kvalitetskontrol.
Dette instrument er velegnet til mikroskopisk observation af metallografiske mikrostrukturer og overflademorfologi. Det fungerer som et ideelt forskningsværktøj til metallurgi, mineralogi og finmekaniske discipliner.
4K-kamera indbygget i trinokulært hus til samtidig visning via okularer og ekstern skærm. Multi-port output via HDMI, USB3.0 og WIFI transmitterer ultra-HD mikrobilleder i realtid.
Optisk forstørrelse 50-800×; maks. ren-digital forstørrelse når 6080X med sæt med fem objektiver. Præcision optisk sti leverer skarpe detaljer til chip- og wafer-mikroinspektion.
Indbygget hardware autofokusmodul muliggør jævn, vibrationsfri fokusering og øger effektiviteten til masseprøver afprøvning; manuel fokustilstand er også tilgængelig.
Ekstra stort bevægeligt prøve-stage parret med tyk integreret metalbund. Forbliver stabilt til prøver i store størrelser uden vakle under langtidsobservation.
Minimalistisk integreret stiv metalramme i laboratoriestil, perfekt egnet til halvlederværksteder, universiteter laboratorier og QC faciliteter.
Ideel til chip-og-wafer-inspektion; også bredt anvendt til halvledertestning, metallografisk analyse, materialeforskning og kvalitetsvurderingsarbejde.
Understøtter 4K foto- og videooptagelse, dobbeltmålingstilstande (indbygget på skærmen + pc-software). Dobbelt opbevaring via U-disk & computer. Dybde-of-field syntese fungerer både on-monitor og pc-software; billedsammensætningsfunktion er kun tilgængelig ind PC-software. Sekundær udvikling er understøttet til billedarkivering, sammenligning og avanceret analyse.
Prøvestadium:GP-L500-462H anvender bevægende scene i stor størrelse til chips/wafers i stort format med bredt rejsesortiment. Almindelige metallurgiske mikroskoper er udstyret med lille scene kun til små prøver og kræver hyppig genplacering af prøven.
Forstørrelsesområde:380-6080X fem-trins høj forstørrelse, der leverer skarpe detaljer til små inspektion af chipkredsløb. Almindelige metallurgiske mikroskoper har færre forstørrelsesgear og lavere maksimum forstørrelse, hvilket resulterer i slørede billeder under høj effekt.
Billedbehandling og måling:Native 4K-kamera i forskningskvalitet, indbygget måling på skærmen, foto-video lagringsfunktion. Almindelige metallurgiske mikroskoper anvender lavopløsnings 2K-kamera uden indbygget måling, PC-software er obligatorisk for analysearbejde.
Ansøgningsomfang:Optimeret til wafers, halvledere og elektroniske dele med stor præcision inspektion. Almindelige metallurgiske mikroskoper er kun egnede til små metalskiver og fungerer dårligt til store chip-eksemplarer.
Mekanik:Fuldmetalkonstruktion for høj stivhed og vibrationsmodstand. Hardware autofokus modul udstyret. Præcis grov-fin fokusering uden tilbageslag. Stort manuelt XY-trin med lavt slid og minimal frigang. Trinokulær optisk vej opretholder optisk co-alignment, når du skifter objektiver.
Optik:Infinity-korrigerede plan-akromatiske metallurgiske objektiver med anti-dug hård belægning. Reflekterende lys 6V-30W halogenlampe belysning.
Billedbehandling og måling:8,3-megapixel 4K CMOS-kamera i industriel kvalitet. Multi-output grænseflader: HDMI + USB3.0 + WIFI, med fremragende anti-interferensydelse til industrielle miljøapplikationer. Understøtter både indlejret måling på skærmen og pc-software-baseret måling. Dual-path lager: USB-flashdrev og pc-software. Dybde-of-field stabling funktion er tilgængelig på skærmen og via pc-software; billedsammensætningen funktionen understøttes kun af pc-software. Sekundær udviklingsgrænseflade er tilgængelig via USB3.0 / WIFI.
Driftsmiljø:Arbejdstemperatur 10-35 ℃, relativ luftfugtighed 30-75% RH. Stabil under regulær fabriks elektromagnetiske miljø. Undgå kraftige vibrationer, ætsende gasser og kraftigt støv. Hold WIFI-modulet væk fra stærke signal-interferenskilder.
Kvalitet og vedligeholdelse:Fuldstændig fabriksinspektion. Skil ikke optiske moduler ad eller autofokus modul. Regelmæssig støvtæt rengøring forlænger levetiden.
Semiconductor Wafers & Chips (kerneapplikation):
Siliciumwafers, litografiskiver, IC-chips, MOS-rør, PCB'er, FPC fleksible kredsløb, pakkede loddesamlinger.
Inspektionsmål: interne mikrochipkredsløb, waferbelægninger, ætsningsfejl, emballagebobler, koldlodning
led, oxidation og stiftdeformation.
Metallografiske prøver og metalskæringskomponenter:
Metallografiske sektioner, legeret stål, præcisionsstemplede metaldele.
Inspektionsmål: metalkornstruktur, metallografisk analyse af varmebehandling, mikrooverfladerevner,
banebrydende skår, grater, slidspor og indvendige materialeurenheder.
Laboratorieprøver: pulver, fiber og tyndfilm:
Metalpulver, kemisk pulver, kulfiber, tekstilfiber, optisk belægningsfilm.
Observer partikelmorfologi, fibertekstur, filmdelaminering og mikrobelægningsstrukturer.
Optoelektroniske og præcisionsplastikkomponenter:
LED-chips, optiske linser, sprøjtestøbte dele, halvleder-emballagelim.
Registrer mikroporer, overfladepletter, ru kanter, delaminering, bobler og små kosmetiske fejl.
Præcisionsminiaturekomponenter i stor størrelse:
Konnektorer, terminaler, mikrofjedre, storstemplede emner, langdimensionerede dele.
Ekstra stor bevægelig scene rummer overdimensionerede prøver; 4K-pixel-niveau nøjagtig måling af mellemrum, hul
diametre, højdeforskelle og lineære dimensioner.
Academic Labs & Semiconductor Factory QC:
Materialeforskningseksperimenter, fuld inspektion af indgående varer og færdigvarer for halvledere,
metallografisk prøveobservation; foto-/videoarkivering, tilslut til pc for at eksportere professionel måling QC
rapporter.
Denne enhed har indbygget 3840*2160 4K-billeddannelse. Den er velegnet til præcis inspektion af halvledere, PCB'er og materialeskiver samt test-rapport eksport, der tydeligt afslører bittesmå teksturer og mikrodefekter.
Hardware autofokus udstyret. Passer til masseproduktionsinspektion og hyppig prøveudskiftning. Opnår hurtigt fokusering efter prøvebevægelse uden gentagen manuel justering.
Stort bevægeligt trin og vertikal trinokulær metallurgisk optisk vej er designet til store wafers i fuld størrelse PCB'er og metalprøver, der effektivt undertrykker reflekterende blænding.
Dobbelt forstørrelsesområde: 50-800X optisk forstørrelse, 380-6080X digital forstørrelse. Dækker begge dele samlet eksemplar observation og mikro-korn/mikro-defekt inspektion.
Understøtter indbygget måling på enheden og måling af pc-software. Udstyret med HDMI, USB3.0 og WIFI udgang havne. Fotos, videoer og måledata kan gemmes via U-disk eller computer. Sekundær-udvikling understøttet til produktionslinjeintegration og lab-data-sporbarhed.
Neutral-pakning forsendelse er tilgængelig efter anmodning.
| Punkt | Beskrivelse |
| Produkt | GP-L500-462H Metallografisk mikroskop i forskningskvalitet med 4K Ultra HD og autofokus |
| Kategori | Industriel forskning-grade stor platform 4K autofokus metallurgisk inspektion og måling Mikroskop |
| Kerneteknologier | Trinokulært optisk synkront visningssystem, bevægeligt prøvetrin med stort område, høj effekt metallurgisk objektivsæt, 4K ultra-HD CMOS billedsensor, hardware autofokus modul, tredobbelt kanal transmission (HDMI+USB3.0+WIFI), dobbeltmålesystem, dybdeskarphedssyntese og billedsammensætningsalgoritme, åben arkitektur, der understøtter sekundær udvikling |
| Nøglespecifikationer | Visuel forstørrelse: 50/100/200/500/800×; Elektronisk forstørrelse: 380/760/1520/3800/6080× (6080X er ren digital zoom); Triple-output porte: HDMI + USB3.0 + WIFI; 4K-optagelsesopløsning: 3840×2160; Hardware udstyret med autofokus; Dobbelte måletilstande: indbygget præcis måling + dedikeret pc-software måling; Dual-storage modes: U-disk lokal lagring + PC-software lagring; Skærmterminal understøtter dimensionelle måling, forhåndsvisning af HD-billeder, foto-video-optagelse, syntese af dybdeskarphed; PC-terminal understøtter dimensionsmåling, fillagring, dybdeskarphedssyntese og billedsammensætning; Understøtter hele enheden sekundær udviklingsintegration. |
| Typiske applikationer | Halvleder-wafer-og-chip-mikrostrukturinspektion, observation af elektroniske komponenter i stor størrelse, metal metallografisk kornstrukturanalyse, emballagekredsløbsdetektion, PCB-tværsnitsinspektion, præcision-elektronisk-komponent-fejlanalyse, ny-energi-materiale kvalitetstest, universitets-avanceret-materiale-laboratorieforskning |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Producentens placering | Kunshan, Jiangsu, Kina (ved siden af Shanghai) |
| Model | GP-L500-462H |
| Opløsning | 3840×2160 |
| Virkelig effektive pixel | 8,3 megapixel |
| Fokuseringsmetode | autofokus |
| Optisk format | 1/1,8" |
| Pixel størrelse | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Outputmetode | HDMI + USB3.0 + WIFI |
| Detaljerede funktionelle introduktioner svarende til hver output-grænseflade | ① HDMI tilsluttes til 4K-kompatible skærme. Integreret professionel billedbehandlingsfirmware understøtter
hardwaredrevet autofokus, fotooptagelse, videooptagelse, dimensionsmåling, billedafspilning
og
billedsammenligning, betjent af mus i realtid. ② USB 3.0 tilsluttes til computer, medfølger professionel billedbehandlingssoftware af høj kvalitet til fotooptagelse, dimensionsmåling, dybdeskarphedsfusion og billedsammensætning. ③ WIFI-modul forbindes til bærbare computere eller mobile enheder; realtid billedtransmission, fotografering og lagring via matchende software. |
| Billedhastighed | HDMI: 60fps @3840×2160 USB3.0: 30fps @3840×2160; 60fps @1920×1080 WIFI: 30fps @3840×2160; 60 fps @1920×1080 |
| Dybdefeltsyntese | Understøttet af både HDMI on-monitor firmware og pc-software |
| Billedsøm | Kun understøttet på pc-softwaresiden |
| Målemetode | Indbygget on-monitor målesystem + PC-software måling |
| Målenøjagtighed | 0,002-0,005 mm |
| Måleenheder | mm / μm / mil / tomme (4 omskiftelige enheder) |
| Måleværktøjer | Længde, vinkel, radian, cirkel, polygon, polylinje, center-til-center afstand, rektangel, annotering tilføjer, automatisk kantregistrering, skaleringsbjælke og mere |
| Opbevaringsmetode | U-disk lagring + PC-software lagring |
| Vis sprog | Forenklet kinesisk / engelsk (kan skiftes) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz hovedstyringsprocessor |
| Operativsystem | Uafhængigt udviklet målefirmware baseret på Linux 3.1 kerne |
| Billednavngivning | Automatisk eller manuel navngivning tilgængelig |
| Visningshoved | 30° skråtstillet trinokulært hoved; interpupiljusteringsområde: 53 mm-75 mm |
| Observationstilstande | Lysfelt / skrå belysning / simpel polarisering |
| Belysningssystem | Belysningssystem for faldende lys, der kun reflekteres, 100-240V bredspændingsindgang, justerbar glødetråd center, kontinuerligt justerbar lysintensitet. |
| Stå | ① Skydestativ, lav håndposition koaksial grovfinfokuseringsmekanisme, med låse- og
begrænsende
enheder; finbevægelses gradueringsværdi: 0,7 μm. Halogen-lampe reflekteret lys belysning. ② Lysfelt reflektor med variabel blændestop, feltstop og farvefilter-omskifter. ③ Gul, blå, grøn filtre og matteret glasplade leveres til reflekteret lys optisk vej. |
| Mekanisk scene | ★ Mekanisk bevægende scene. Scenedimension: 280 mm × 270 mm; X-Y vandring: 204 mm × 204 mm (8-tommer vandring). Glas Prøvebærerplade kun til observation af reflekteret lys, velegnet til store arbejdsemner. |
| Lyskilde | 6V 30W halogenlampekammer (kun reflekteret lys) |
| Simpel polarisering | Træk-skub polarisator og polarisator |
| Elektronisk grænseflade | CTV 1X kameragrænseflade med fast fokus; CTV 0.5X er valgfrit med prisforskelskompensation. |
| Okularer | To WF10X/22 mm vidvinkel plan-felt okularer med individuel dioptrijustering |
| Næsestykke | ★Mingchang fem-hullers objektiv næsestykke |
| Metallurgiske mål | ★ Infinity-korrigerede plan-akromatiske metallurgiske mål ① PL L5X/0,12, arbejdsafstand: 26,1 mm × 1 stk ② PL L10X/0,25, arbejdsafstand: 20,2 mm × 1 stk. ③ PL L20X/0,40, arbejdsafstand: 8,80 mm × 1 stk ④ PL L50X/0,70, arbejdsafstand: 3,68 mm × 1 stk. ⑤ PL L80X/0,80, arbejdsafstand: 1,25 mm × 1 stk |
| Optisk forstørrelse | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (kan skiftes i fem niveauer) |
| Elektronisk forstørrelse | Ca. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (omskiftelig i fem niveauer); valgfri rækkevidde: 190-3040X. |
GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:
Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikroanalyse af uorganisk keramik og nye energimaterialer
Forskningsinstituttet for Fysisk og Kemisk Teknik i Nuklear Industri – Mikromorfologisk observation & præcisions-komponentanalyse for specialmaterialer
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Avanceret-optisk-forskning og optisk-komponent karakterisering
Tsinghua University - Undervisning, laboratorie-billeddannelse og eksperimentel-data-arkivering
Beijing Institute of Technology – Videnskabelig-forskning-analyse for militære materialer og optoelektroniske enheder
DOOV – Mobil-enhed-samling-inspektion, skærm- og komponent-udseende-test
A1: Udstyret med HDMI-, USB3.0- og WIFI-grænseflader. Den understøtter direkte skærm og kablet/trådløs pc forbindelse.
A2: Den understøtter 4K ultra-HD foto- og videooptagelse. Filer kan gemmes på FAT32-formateret U-disk inden for 32 GB kapacitet eller computerlager. Understøtter både skærm- og pc-software præcisionsmåling, med databesparelse og rapport-eksport funktioner.
A3: Det understøtter hardwareautofokus, dybdeskarphedssyntese, billedsammensætning på pc-siden og sekundær udvikling. Bredt anvendt til metallografisk-analyse, halvleder-inspektion, præcision-komponent-inspektion, videnskabelig forskning, undervisning og avanceret industriel præcisionsdetektion.
A4: Fejlfinding uden billeder: Kontroller strømforsyningen, HDMI-kabel og monitorsignalkilde, og genstart derefter enheden. Fejlfinding af sløret billede: Juster håndhjulet med manuel fokus, læg prøven flad og ren linsens overflade. Netværksfejl fejlfinding: Indstil pc og enhed inden for samme IP-segment, sluk firewall og tilslut netværkskablet igen. U-disk-fejl fejlfinding: Udskift eller omformater U-disk (skal være FAT32 og ≤32 GB).
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. blev officielt stiftet i 2011. Vores stiftende medlemmer akkumulerede hands-on viden om optiske instrumenter, der starter i 2005. Vi leverer fuld-cyklus-support, der dækker skræddersyet optisk design, in-house-R&D, internationalt-salg og omfattende-efter-salg-vedligeholdelse-services. Vores faglært-ingeniør-team besidder mere end ti års mikroskopi-udviklings-ekspertise, hvilket sikrer stabil-teknisk ydeevne og konsekvent produktpålidelighed.
GAOPIN leverer mere end 100 kategorier af optiske testinstrumenter, der betjener industri- og laboratoriekunder kloden rundt. Vi fokuserer på at levere fleksible, omkostningseffektive skræddersyede mikroskopi-inspektions-løsninger til tilfredsstille diverse-test-krav.
Til oversøiske købere tilbyder vi lydhør verdensomspændende teknisk support, herunder fjern-online-konsultationer, praktisk-video-tutorials og live-fjernudstyr-drift-træning. Vores produktionsanlæg ligger i Kunshan, Jiangsu-provinsen, med bekvem transport-adgang til Shanghai. On-site-fabriksbesøg og virtuelle-online-ture er velkommen. Kontakt venligst vores salgsteam for autentiske-eksempel-test-billeder taget af denne Research-grad metallografisk mikroskop med 4K Ultra HD og autofokus for at evaluere real-billed-ydeevne.
Adresse
Bygning 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tlf
