GP-L200-300C er et metallografisk mikroskop med høj forstørrelse. Metallurgisk mikroskop med høj forstørrelse muliggør samtidig observation med kikkert okularer og eksternt display. Indbygget lysfelt og mørkt felt med ensartet koaksial vertikal belysning, den gengiver trofast mikrostrukturer såsom metalkorn, belægninger og revner. Det understøtter billedoptagelse, foto arkivering og dimensionsmåling & analyse. Med solid konstruktion, enkel betjening og udvidelig modulopbygning design, den er ideel til industriel kvalitetsinspektion, materialemetallurgisk analyse, fejlanalyse, undervisning og videnskabelig forskning.

High-definition kamera integreret med trinokulær metallurgisk ramme, der muliggør samtidig okularvisning og digital skærmobservation via HDMI-udgang til mikro-billedoptagelse i realtid.
50-500 × optisk forstørrelse, max 2000 × digital forstørrelse. Udstyret med professionel metallurgisk objektiv linser til gennemsigtig, delikat billeddannelse for at observere mikrometalstrukturer.
Koaksial grov- og finfokuseringsmekanisme giver jævn, stabil fokusering og reducerer effektivt billedvibrationer.
Base af støbt aluminium i ét stykke giver solid belastning, hvilket holder mikroskopet stabilt og fri for forskydninger under langtids metallurgisk skiveinspektion.
Klassisk hvid-og-blå lab-stil krop med standard trinokulært metallurgisk layout, rent og professionelt til laboratorier og kvalitetsværksteder.
Ideel til metal-metallografisk analyse, wafer-slice-inspektion, materialetestning, universitetsforskning og komponent-fejl-analyse arbejde.
Indbygget præcisionsmålingsfunktion, understøtter 1080P foto-/videooptagelse og USB-flashdrev-lagring. Digital billeder er nemme at arkivere, sammenligne og analysere i efterbehandling.
Kikkertvisning og synkron elektronisk observation:Synkronisering i realtid mellem okularet og monitordisplay. Almindelige metallurgiske mikroskoper understøtter for det meste kun okularobservation; ekstra kamera tilbehør er påkrævet til skærmoutput.
Bredt forstørrelsesområde:Op til 500 × optisk forstørrelse og 2000 × elektronisk forstørrelse til mikrostruktur observation. Konventionelle modeller har begrænset mulighed for elektronisk zoom.
HDMI direkte udgang:Tilslut direkte til skærmen via HDMI. Generelle metallurgiske mikroskoper har brug for ekstra kamera og optagelseskort til videoudgang.
Indbygget offline måling:Dimensionsmåling direkte på skærmen. Almindelig metallurgisk mikroskoper understøtter kun pc-baseret måling uden hardware-indlejret målefunktion.
Offline USB-flashdrev-lagring:Tag billeder og videoer til USB-flashdrev uden computer. Traditionelle modeller kræver pc til billedlagring.
Dedikeret metallurgisk optisk vej:Optimeret til analyse af metal, belægning og kornstruktur. Almindelige digitale mikroskoper mangler metallurgisk optisk system og kan ikke observere metallurgiske mikrostrukturer.
Ved at anvende et indfødt 1920 × 1080 Full-HD industrielt kamera er mikroskopet fuldt kalibreret med standard metallurgiske testprøver. Det fanger tydeligt korngrænser, belægningsdelaminering, mikrorevner og materiale metallografiske strukturer, der leverer ensartede skarpe detaljer på tværs af hele synsfeltet.
Udstyret med flere akromatiske metallurgiske objektiver til højpræcision høj forstørrelsesmikroskopi detektion. Det professionelle trinokulære design muliggør synkron dobbeltobservation via okularer og eksterne monitorer, perfekt velegnet til metal-materiale analyse, belægningstykkelse inspektion, korn-rating og forskellige professionelle scenarier for metallurgisk test.
Det indbyggede professionelle målesystem overlejrer dimensionsdata i realtid på skærmen. Det leverer nøjagtig måling af kernemetallurgiske indikatorer, herunder belægningstykkelse, kornlængde, revnebredde og delamineringsafstand og understøtter annotering i realtid, billedarkivering og eksport af testdata.
Bygget med transmitteret og reflekteret dobbeltvejsbelysning, kompatibel med uigennemsigtige metalprøver og gennemsigtig-indlagt eksemplarer. Det præcise metallurgiske mikroskop med høj forstørrelse har en jævn XY-aksebevægelse for hurtig og præcis områdepositionering. Den kraftigt metalhus i fuld metal garanterer stabil, jitterfri drift under langvarigt industrimateriale detektion.
Halvledere og elektroniske komponenter:IC-chips, siliciumwafers, fotolitografiskiver, PCB brædder, FPC fleksible brædder, loddesamlinger, stifter. Inspektionsmål: Overhold interne chipkredsløb, wafer belægninger, koldloddefejl, oxidation, kredsløbsridser og stiftdeformation; analysere mikro-slice strukturer under max 2000 × forstørrelse.
Metalmaterialer og metallografiske prøver:Metallografiske skiver, bor, fræsere, stemplet metal hardware. Inspektionsmål: Metallografisk-kornstrukturanalyse, varmebehandlingsmateriale identifikation; registrere kantafslag, mikrorevner, grater og sliddybde.
LED optoelektroniske og plaststøbte dele:LED-chips, optisk-plastik dele, indsprøjtning og udstansning produkter. Inspektionsmål: Undersøg bittesmå hak, overfladepletter, ru kanter, mikrofremmede partikler, lim-delaminering og tætning af mikrodefekter.
Højpræcisions miniaturekomponenter:Stik, terminaler, mikrofjedre, bittesmå stemplede emner. Inspektionsmål: Observer små mellemrum og krympeflader; udføre præcis måling af længde på pixelniveau, huldiameter og stigning.
Laboratorie- og industriel QC-arkivering:Metallografisk-slice-eksperimentanalyse, indgående-&-færdige varer prøveudtagning-inspektion; foto- og videoarkivering for defekte bevisoptegnelser og eksport af QC-rapporter til formel måling.
Max 500 × optisk forstørrelse og 2000 × digital forstørrelse. Velegnet til mikroanalyse af metal-metallografiske-strukturer, wafers, belægninger og pulver-materialer til materiale-laboratorier og halvleder-indgående-inspektion.
Trinokulær synkron optisk vej: observer prøver med binokulære okularer, mens du udsender billeder til monitor via HDMI. Understøtter samtidig visning af flere personer til træning, diskussion og dobbelttjek af defekter.
Indbygget præcisionsmålingsfunktion med direkte HDMI-visning. Tag billeder og videoer i fuld HD, der er gemt direkte til USB-flashdrev. Fuldstændig måling og billedarkivering på stedet med simpelt arbejdsstationslayout.
Standard metallurgisk trin med flere objektiv-linser, kompatibel med metalprøver, PCB-belægninger, halvleder-chips og mikro-skiver. Udbredt i materiale-laboratorier, hardware-coating-test, universitets-forskning og elektronisk chip QC.
Præcision, grov og fin manuel fokusering undgår billedskift. Solid stabil krop til langvarig laboratorietestning. Integreret Full-HD-visning, foto-og-video-optagelse til rutine-mikroanalyse og masseprøve-geninspektion.
Neutral-pakning forsendelse er tilgængelig efter anmodning.
| Entitet | Beskrivelse |
| Produkt | GP-L200-300C Metallografisk mikroskop med høj forstørrelse |
| Kategori | Industrielt trinokulært metallografisk inspektionsmikroskop, digital måling med høj forstørrelse Mikroskop |
| Kerneteknologier | Trinokulært optisk visningssystem, metallurgisk objektiv-objektivgruppe, Full-HD CMOS-billeddannelse, indbygget digital-målemaskine, HDMI-realtids-billedudgang, USB-flashdrev lokalt lager teknologi |
| Nøglespecifikationer | Visuel forstørrelse: 50/100/200/500 ×; Elektronisk forstørrelse: 200/400/800/2000 ×; Udgangsport: HDMI; Optagelsesopløsning: 1920 × 1080; Manuel fokusering, indbygget præcis måling *(0,001 mm, mindre måletolerance kan opnås under højere forstørrelse. Resultater underlagt kalibrering, forstørrelse og prøveforhold)*; USB-flashdrev opbevaring; Understøtter forhåndsvisning af billeder i realtid, fotooptagelse og videooptagelse på skærmen; **Ingen understøttelse af pc/netværksport; Kun USB-flashdrev støtter FAT32-format, maks. kapacitet 32 GB** |
| Typiske applikationer | Metal-materiale-metallografisk-struktur analyse, legering-korn observation, metal-coating-tykkelse detektion, halvleder-wafer-inspektion, PCB-tværsnitsobservation, nyt-materiale-lab-forskning, hardware-materiale-kvalitetskontrol |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Producentens placering | Kunshan, Jiangsu, Kina (nær Shanghai) |
| Produktmærke | GAOPIN |
| Produkt model | GP-L200-300C |
| Opløsning | 1920 × 1080 (Fuld-HD) |
| Effektive pixel | 2-megapixel |
| Fokuseringsmetode | Manuel fokus (koaksial grov- og finjustering) |
| Sensor optisk format | 1/2" |
| Pixel størrelse | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Udgangsgrænseflader | HDMI |
| Detaljerede funktionelle introduktioner svarende til hver output-grænseflade | ① HDMI kan forbindes til 4K-skærme, indlejret professionelt billedbehandlingsprogram, integrerende funktioner såsom autofokus, fotooptagelse, størrelsesmåling, billedafspilning, billedsammenligning osv. med musebetjening i realtid. |
| Billedhastighed | HDMI: 60 fps @ 1920 × 1080 |
| Måleoperation | Indbygget målesystem på skærmen |
| Målenøjagtighed | 0,001 mm |
| Måleenheder | mm / μm / mil / tomme (4-vejs omskiftelig) |
| Måleværktøjer | Længde, vinkel, radius, cirkel, polygon, polylinje, center-til-center afstand, rektangel, annotering, automatisk kantdetektion, skaleringsbjælke |
| Opbevaringsmetode | USB flash-drev |
| Billednavngivningstilstand | Automatisk eller manuel navngivning af billedfiler |
| Vis sprog | Forenklet kinesisk / engelsk (kan skiftes) |
| Processor | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Max.1,3 GHz |
| Firmware OS | Uafhængigt udviklet målesystem bygget på Linux 3.1 kerne |
| Observationshoved | 30° skråtstillet trinokulært observationsrør, 360° roterbar, justerbar interpupillær afstand |
| Observationsmetode | Lysfelt / skrå belysning / transmitteret belysning / simpel polarisering |
| Belysningssystem | Reflekteret og transmitteret dobbeltvejsbelysningssystem, 100-240 V bredspænding; justerbar glødetrådscentreret, kontinuerligt justerbar lysintensitet |
| Stativramme | Transmitteret og reflekteret stativ med to formål; koaksial grov-fin fokus mekanisme; grovjustering slagtilfælde 33 mm, finjusteringsnøjagtighed 0,002 mm med låsning & endestop; halogen-lampe belysning; Lysfeltsreflektor med variabel blændestop, feltstop og farvefilterkonvertering; Udstyret med blåt filter til observation af reflekteret lys |
| Mobil platform | Dobbeltlags mekanisk bevægende scene; scenestørrelse: 140 × 132 mm; X-Y slaglængde: 76 × 50 mm; glas scene til transmitteret og reflekteret observation |
| Lyskilde | 6V-30W halogenlampe til reflekteret lys; 6V-30W halogenlampe til gennemlys |
| Simpel polarisering | 30° polarisatorindsats (reflekteret lys) + 360° roterbar analysatorindsats til polariseret observation |
| Elektronisk grænseflade | 0,5X C-mount interface, justerbar fokus [Valgfrit: 1X C-mount] |
| Okular | Højøjepunkt-fladfelt-okular med stort felt PL10X/18 mm (et okular med skalamærke) |
| Metallurgisk objektivlinse | ★ Lang arbejdsafstand fladfelt akromatisk metallografisk objektivlinse ① 5XLMPL5X/0.13WD15.5mm 1 stykke; ② 10XLMPL10X/0,25 WD8,7mm 1 stk. ③ 20XLMPL20X/0,40 WD8,8mm 1 stk; ④ 50XLMPL50X/0,60 WD5.1mm 1 stk |
| Optisk forstørrelse | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × fire-niveau justerbar |
| Elektronisk forstørrelse | Ca. 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × fire-niveau justerbar (kan udvides til 400-4000 ×) |
Ansvarsfraskrivelse:Logoer og navne på virksomheder, universiteter og forskningsinstitutioner, der vises på kun denne hjemmeside angive, at sådanne enheder har købt eller brugt mikroskoper af mærket GAOPIN. Deres udseende skal ikke være fortolket som køb af denne nøjagtige produktmodel og skal ikke indebære nogen kommerciel godkendelse, co-branding, tilknytning eller fælles projektpartnerskab med disse tredjepartsorganisationer.
GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:
Teknisk Institut for Fysik og Kemi, CAS – Mikroskopisk forskning i lavtemperatur og specialfunktionel materialer
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Optoelektronisk komponenttest og fejlanalyse
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensions- og mikrofejldetektion til præcisionsbearbejdet dele
CATL – Mikrodefektinspektion for lithiumbatterielektroder og -celler
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Avanceret-optisk-forskning & optisk-komponent-karakterisering
ZHENGKUNHANG Industrial MRO Supermarket (Shanghai) Co., Ltd. – Udseende og mikrokvalitetsverifikation af industriel standard-dele
Mål og okular:Tør linserne forsigtigt af med linsepapir og linserenser. Rør aldrig ved optisk linser med bare hænder eller brug almindelige papirservietter til rengøring.
Hovedkrop og scene:Fjern straks prøverester og metallurgisk pulver. Tør huset af med en tør blød klud; undgå væskesprøjt. Kontroller regelmæssigt, at trinskruerne er stramme for at forhindre skift forårsaget af kollisioner.
Transmitteret og reflekteret lyskilde:Sluk lyskilden, når mikroskopet er inaktivt. Blæs støv lysvinduet af og rør ikke direkte ved pæren.
Mekanisk fokusmekanisme:Drej ikke fokushåndhjulet med overdreven kraft. Fortsæt med at glide rene spor; smør dem aldrig selv.
Opbevaringsmiljø:Opbevares på et tørt, godt ventileret sted for at modstå fugt og skimmelsvamp. Dæk til enhed med et støvdæksel efter brug.
A1: Det understøtter kun HDMI high-definition output. Det fungerer uafhængigt med en skærm uden computerforbindelse, med enkel betjening til forskellige præcisionsdetekteringsscenarier.
A2: Det understøtter Full-HD foto- og videooptagelse. Filer kan gemmes via 32 GB max FAT32-formateret USB-flashdrev. Indbygget præcis måling på skærmen understøtter dimensionsmærkning, dataarkivering og rapporteksport.
A3: Tjek strømforsyning og adapter, fastgør HDMI-kablet og skift til den korrekte signalkanal. Genstart enheden til løse problemer med sort skærm, ingen billeder og skærmflimmer.
A4: Det vedtager præcist design med manuel fokus. Juster langsomt fokushåndhjulet for at opnå et klart billede. Placer prøven fladt og rengør regelmæssigt objektivstøv, fingeraftryk og pletter for at holde billeder skarpe og gennemsigtige.
A5: Denne enhed understøtter ikke computerforbindelse eller netværksportfunktion. Med en indbygget uafhængig drift system, kan den fuldføre optagelse, optagelse, måling og lagring direkte via monitorforbindelse.
A6: Kun FAT32-formaterede USB-flashdrev inden for 32 GB understøttes; NTFS- og exFAT-formater er inkompatible. Tilslut igen eller formater USB-flashdrevet, eller udskift det med et kompatibelt USB-flashdrev til normal fillagring.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., grundlagt i 2011, hvis grundlægger har akkumuleret brancheekspertise siden 2005, er en tech-fokuseret virksomhed med speciale i design, R&D, salg og eftersalgsservice inden for industri mikroskoper. Vores kerneingeniørteam bringer over ti års specialiseret erfaring, hvilket sikrer moden teknologi og pålidelig kvalitet. Med mere end hundrede optiske produktmodeller og en global kundebase, GAOPIN kontinuerligt leverer skræddersyede, omkostningseffektive mikroskopiløsninger. Vi leverer hurtigt svar global teknisk support igennem onlinekonferencer, videostøttet vejledning og fjerntræningssessioner. Vores produktionsbase er placeret i Kunshan, Jiangsu-provinsen (tæt på Shanghai). Både fabriksinspektioner på stedet og virtuelle anlægsrundvisninger er tilgængelige for kunder. Du er velkommen til at kontakte os for eksempler på testbilleder taget med denne GP-L200-300C høj forstørrelse metallografisk mikroskop til at evaluere billeddannelsesydelse på første hånd.
Adresse
Bygning 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tlf
