Dette højforstørrelse metallurgiske mikroskop med autofokus er bygget til detaljeret materialeprøvegennemgang og er et egnet metallografisk mikroskop med høj forstørrelse med Autofokus. Det muliggør dual-view observation gennem kikkert okularer og ekstern skærm. USB-port kompatibel trådløs-adapter understøtter trådløs-data-transmission. Udstyret med lysfelt- og mørkfelttilstande og endda koaksial belysning afslører den skarpt mikrodefekter såsom korn, belægninger og revner. Det integrerer billede snapshot og måle-analyse funktioner. Antivibrationsstabilt chassis sikrer ensartet billedbehandlingsydelse, mens opgraderingsklar modulært layout sænker omkostningerne til senere opdateringer.
4K-kamera integreret med trinokulært metallurgisk stativ, der realiserer samtidig okular- og skærmvisning. Multi-output porte inklusive HDMI, USB3.0 og WiFi til ultra-HD mikrobillede-optagelse i realtid.
Optisk forstørrelse 50-500 ×, maksimal digital forstørrelse 2000 ×. Præcision optisk vej med professionel metallurgiske objektiver leverer skarp billeddannelse af mikrometalteksturer og kornstrukturer.
Indbygget autofokusmodul muliggør hurtig, stabil fokusering uden manuel betjening, reducerer billedrystelser og booster inspektionseffektivitet for ujævne metallografiske prøver.
Base i et stykke støbt aluminium holder enheden velafbalanceret, fri for slingre eller forskydning under langtids skiveinspektion og materialeobservationsarbejde.
Klassisk hvid-og-blå research-stil krop med standard trinokulært metallurgisk layout, rent og minimalistisk til laboratorier og kvalitetsinspektionsværksteder.
Velegnet til metal-metallografisk analyse, halvleder-wafer-inspektion, materiale-fejl-analyse, universitets-undervisnings-forskning og komponent-kvalitets-test opgaver.
Understøtter 4K (3840 × 2160) foto- og videooptagelse. Indbygget måling på skærmen og pc-software-baseret måling tilgængelig; dobbelt lagring via USB-flashdrev og computer. Understøtter dybdeskarphedsstabling, billedsyning og sekundær udvikling til praktisk billedarkivering, sammenligning og dybdegående dataanalyse.
Kikkertvisning og synkron elektronisk observation:Synkroniseret visning mellem okular og overvåge. Almindelige metallurgiske mikroskoper understøtter kun visning af okularer; ekstra kameratilbehør er påkrævet til skærmudgang.
4K ultra-high-definition billedbehandling + autofokus:Native 4K opløsning plus hardware autofokus til prøver med ujævn overflade. Almindelige metallurgiske enheder er fuldt ud afhængige af manuel fokusering med lavere billedopløsning.
Triple-output grænseflader:HDMI + USB3.0 + trådløs trådløs transmission. Traditionel metallurgisk enheder forbindes normalt kun til pc uden trådløs transmissionsfunktion.
Dobbelte måletilstande:Offline indbygget måling på skærmen plus pc-software-baseret måling. Almindelige metallurgiske mikroskoper understøtter kun måling på pc-siden uden hardware-indlejret målefunktion.
Dual-lagringstilstande:Offline USB-flashdrev-lagring og pc-softwarelagring; databesparelse tilgængelig med eller uden computer. Konventionelle modeller kræver pc til billedlagring.
Avanceret billedbehandlingsalgoritme:Indbygget dybdeskarphedsstabling og billedsyning til metallografiske prøver i ujævn højde. Generelle metallurgiske mikroskoper mangler sådanne indlejrede algoritme-funktioner.
Understøttet sekundær udvikling:Netværkskompatibelt system muliggør automatisering-produktionslinje integration. Generelle metallurgiske mikroskoper understøtter ikke sekundær udviklingsintegration.
Dedikeret metallurgisk optisk vej:Optimeret til metal-korn, belægning og materiale-metallografisk-analyse. Almindelige digitale mikroskoper mangler dedikeret optisk vej og kan ikke observere fint metallurgiske-mikro-strukturer.
Integreret med en indbygget 3840 × 2160 4K billedsensor og kalibreret med standard metallurgiske-opløsning-skabeloner, udstyret opnår fuldfelts ensartet skarphed. Det muliggør klar identifikation af mikroskopiske træk herunder metalliske korngrænser, pletteringsdelaminering, overflademikrorevner og metallurgiske materialer uden perifer defokusering.
Vedtagelse af akromatiske metallurgiske mål af høj kvalitet til mikroskopisk observation og analyse med høj effekt. Den opgraderet trinokulært optisk rør realiserer synkron optisk visning og digital billeddannelse, fuldt anvendelig til metallisk-mikrostruktur-forskning, belægningstykkelse-inspektion, kornkvalitetsgradering og scenarier for industriel kvalitetskontrol.
Det dedikerede metallurgiske-måle-system giver real-time on-screen-parameter-overlay og multi-dimensionel-data-analyse. Den måler præcist kritiske metallurgiske parametre såsom filmtykkelse, korndimension, brudbredde og lagdelingsgab og understøtter øjeblikkelig annotering, lagring af prøvebilleder og inspektion-data-eksport. Kompatibel med dybdeskarphedsstabling og billedsammensætningsfunktioner.
Dobbeltvejs transmitteret og reflekteret belysning garanterer kvalificeret belysning til forskellige prøvetyper. Den præcision XY-akse mekanisk-trin leverer jævn bevægelse og hurtig mål-positionering. Den stive fuld-metal-chassis giver fremragende anti-vibrations-ydeevne, hvilket sikrer stabil og pålidelig drift under længere tid professionel-metallurgisk-testning.
Halvledere og elektroniske komponenter:IC-chips, siliciumwafers, fotolitografiskiver, PCB brædder, FPC fleksible brædder, loddesamlinger, stifter. Inspektionsmål: Overhold interne chip-kredsløb, wafer-belægninger, kold-loddedefekter, oxidation, kredsløbsridser og stiftdeformation; analysere mikro-slice-strukturer under max 2000 × forstørrelse.
Metalmaterialer og metallografiske prøver:Metallografiske skiver, bor, fræsere, stemplet metal hardware. Inspektionsmål: Metallografisk-kornstruktur-analyse, varme-behandling-materiale-identifikation; registrere kantafslag, mikrorevner, grater og sliddybde.
LED optoelektroniske og plaststøbte dele:LED-chips, optisk-plastik dele, indsprøjtning og udstansning produkter. Inspektionsmål: Undersøg bittesmå hak, overfladepletter, ru kanter, mikrofremmede partikler, lim-delaminering og tætning-mikro-fejl.
Højpræcisions miniaturekomponenter:Stik, terminaler, mikrofjedre, bittesmå stemplede emner. Inspektionsmål: Observer bittesmå mellemrum og krympeflade; udføre præcis måling af længde på pixelniveau, huldiameter og stigning.
Laboratorie- og industriel QC-arkivering:Metallografisk-skive-eksperiment-analyse, indgående-&-færdige varer prøveudtagning-inspektion; foto-&-video-arkivering for defekte-bevis-optegnelser og eksport af QC-rapporter til formel måling.
Optisk forstørrelse spænder fra 50 ×-500 ×, maks. digital forstørrelse op til 2000 ×. Indbygget autofokus eliminerer gentagen manuel fokusering for ujævne prøver. Native 4K 3840 × 2160 opløsning fanger tydeligt metallografiske teksturer, wafer-coatings og mikro-chip-spor, hvilket i høj grad øger laboratorieinspektionseffektiviteten for bulkprøver.
Tredobbelte udgangsporte: HDMI, USB3.0 og WiFi. HDMI-tilslutningsmonitor til visning på stedet; USB3.0 muliggør højhastigheds-pc- analyse; WiFi-trådløs casting til telefoner og tablets til kabelfri-fjernobservation, velegnet til spot-sampling og gruppe-undervisning-diskussion.
To-måleløsninger: indbygget on-monitor-måling og pc-software-baseret-måling. Udstyret med dybdeskarphedsstabling og billedsammensætning for at producere fuldt fokuserede billeder af ujævne prøver og problemfri panoramaudsigt af store prøver. Understøtter sekundær udvikling til produktionslinje-integration, ideel til ny-materiale-forskning og coating-tolerance-analyse.
Trinokulært-synkront design giver mulighed for samtidig visning via kikkert-okularer og 4K-monitor. Lærere og QC-inspektører kan observere den samme mikroprøve sammen, perfekt til universitetsuddannelse og dobbeltinspektion af fejl på fabrikker.
To-lagringsmuligheder: direkte USB-flashdrev-lagring til 4K-fotos/videoer og pc-software-arkivering for masse-billeder-&-målingsdata. Opsamlede optegnelser og dimensionsrapporter kan eksporteres og opbevares på lang sigt, opfylde sporbarhed-krav om fabrik-QC, universitet-lab-rapporter og halvleder-indgående-inspektion.
Neutral-pakning forsendelse er tilgængelig efter anmodning.
| Entitet | Beskrivelse |
| Produkt | GP-L200-462H 4K metallografisk mikroskop med høj forstørrelse med autofokus |
| Kategori | Industriel trinokulær højforstørrelse 4K autofokus metallografisk inspektion og måling Mikroskop |
| Kerneteknologier | Trinokulært synkront observation optisk system, professionelt metallurgisk objektiv-objektivsæt, 4K ultra-high-definition CMOS-billeddannelse, autofokus-modul, multi-channel-signal-transmission, dual-digital- målemotor, dybdeskarphedsstabling og billedstikningsalgoritme, understøtter åbent system sekundær udvikling |
| Nøglespecifikationer | Visuel forstørrelse: 50/100/200/500 ×; Elektronisk forstørrelse: 200/400/800/2000 ×; Tredobbelt output: HDMI + USB3.0 + WiFi; 4K-optagelsesopløsning 3840 × 2160; Autofokus design; Dobbelte måletilstande: indbygget on-device-measurement + professional-PC-software-measurement *(0,001 mm, Mindre måletolerance kan opnås under større forstørrelse. Resultater er underlagt kalibrering, forstørrelse og prøve betingelser)*; Dobbelt-lagring: USB-flash-drev lokal-lagring + computer-fil-lagring; Monitor-terminal understøtter billed-forhåndsvisning, dimensionsmåling, foto-&-video-optagelse; PC-terminal understøtter måling og billedarkivering, kompatibel med sekundær-udviklings-integration |
| Typiske applikationer | Metal-metallografisk-struktur-analyse, legering-korn- og-materiale-tekstur-observation, belægningstykkelse-måling, halvleder-wafer-detektion, PCB-tværsnitsinspektion, præcisions-hardware-fejl-analyse, universitet-laboratorie-materiale-forskning, ny-energi-materiale-kvalitet- afprøvning |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Producentens placering | Kunshan, Jiangsu, Kina (nær Shanghai) |
| Produktmærke | GAOPIN |
| Produkt model | GP-L200-462H |
| Opløsning | 3840 × 2160 (4K) |
| Effektive pixel | 8,3 megapixel |
| Fokuseringsmetode | Autofokus |
| Sensor optisk format | 1/1,8" |
| Pixel størrelse | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Udgangsgrænseflader | HDMI + USB3.0 + WiFi |
| Billedhastighed | HDMI: 60 fps @ 3840 × 2160 USB3.0: 30 fps @3840 × 2160 / 60 fps @1920 × 1080 WiFi: 30 fps @ 3840 × 2160 / 60 fps @1920 × 1080 |
| Måleoperation | Indbygget on-monitor målesystem + PC-software-baseret måling |
| Målenøjagtighed | 0,002-0,005 mm *(Mindre måletolerance kan opnås ved højere forstørrelse. Resultater emne til kalibrering, forstørrelse og prøveforhold)* |
| Måleenheder | mm / μm / mil / tomme (4-vejs omskiftelig) |
| Måleværktøjer | Længde, vinkel, radius, cirkel, polygon, polylinje, center-til-center afstand, rektangel, annotering, automatisk kantdetektion, skaleringsbjælke |
| Opbevaringsmetode | USB-flashdrev + PC-softwarelagring |
| Billednavngivningstilstand | Automatisk eller manuel navngivning af billedfiler |
| Vis sprog | Forenklet kinesisk / engelsk (kan skiftes) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1,4 GHz hovedkontrolprocessor |
| Firmware OS | Uafhængigt udviklet målesystem bygget på Linux 3.1 kerne |
| Observationshoved | 30° skråtstillet trinokulært observationsrør, 360° roterbar, justerbar interpupillær afstand |
| Observationsmetode | Lysfelt / skrå belysning / transmitteret belysning / simpel polarisering |
| Belysningssystem | Reflekteret og transmitteret dobbeltvejsbelysningssystem, 100-240 V bredspænding; justerbar glødetrådscentreret, kontinuerligt justerbar lysintensitet |
| Stativramme | Transmitteret og reflekteret stativ med to formål; koaksial grov-fin fokus mekanisme; grovjustering slagtilfælde 33 mm, finjusteringsnøjagtighed 0,002 mm med låsning & endestop; halogen-lampe belysning; Lysfeltsreflektor med variabel blændestop, feltstop og farvefilterkonvertering; Udstyret med blåt filter til reflekteret-lys-observation |
| Mobil platform | Dobbeltlags mekanisk bevægende scene; scenestørrelse: 140 × 132 mm; X-Y slaglængde: 76 × 50 mm; glas scene til transmitteret og reflekteret observation |
| Lyskilde | 6V-30W halogenlampe til reflekteret lys; 6V-30W halogenlampe til gennemlys |
| Simpel polarisering | 30° polarisatorindsats (reflekteret lys) + 360° roterbar analysatorindsats til polariseret observation |
| Elektronisk grænseflade | 0,5X C-mount interface, justerbar fokus [Valgfrit: 1X C-mount] |
| Okular | Højøjepunkt-fladfelt-okular med stort felt PL10X/18 mm (et okular med skalamærke) |
| Metallurgisk objektivlinse | Lang-arbejdsafstand fladfelt akromatisk metallurgiske objektiver: 5X / 0,13 WD15,5 mm; 10X / 0,25 WD8,7 mm; 20X / 0,40 WD8,8 mm; 50X / 0,60 WD5,1 mm |
| Optisk forstørrelse | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × fire-niveau justerbar |
| Elektronisk forstørrelse | Ca. 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × fire-niveau justerbar (kan udvides til 400-4000 ×) |
GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:
NIO Shanghai – Præcisionsinspektion for nye-energi-autodele og ledningsnet-samlinger
GREE Electric Appliances (Hefei) – Præcisions-dimensions-måling og defekt-inspektion for husholdningsapparater-komponenter
Huawei Electronics – Indgående materiale-inspektion og produktionslinje-QC for elektroniske komponenter
DOOV – Mobil-enhed-samling-inspektion, skærm- og komponent-udseende-test
Linseteknologi – Mikrofejldetektion til glasdækplader og telefonbeskyttende paneler
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Optoelektronisk komponenttest og fejlanalyse
Mål og okular:Tør linserne forsigtigt af med linsepapir og linserenser. Rør aldrig ved optisk linser med bare hænder eller brug almindelige papirservietter til rengøring.
Hovedkrop og scene:Fjern straks prøverester og metallurgisk pulver. Tør huset af med en tør blød klud; undgå væskesprøjt. Kontroller regelmæssigt, at trinskruerne er stramme for at forhindre skift forårsaget af kollisioner.
Transmitteret og reflekteret lyskilde:Sluk lyskilden, når mikroskopet er inaktivt. Blæs støv lysvinduet af og rør ikke direkte ved pæren.
Mekanisk fokusmekanisme:Drej ikke fokushåndhjulet med overdreven kraft. Fortsæt med at glide rene spor; smør dem aldrig selv.
Opbevaringsmiljø:Opbevares på et tørt, godt ventileret sted for at modstå fugt og skimmelsvamp. Dæk til enhed med et støvdæksel efter brug.
Software og kalibrering:Kalibrer måleskalaen, før du udfører målinger. Helt tæt på tilhørende software, før strømmen afbrydes. Skil ikke enheden ad uden tilladelse; kontakt eftersalgsservice support i tilfælde af funktionsfejl.
A1: Visuel forstørrelse: 50-500 ×; Elektronisk forstørrelse: 200-2000 ×. Synkron observation via okular og monitor er tilgængelig for rutine- og præcisionsinspektion.
A2: Den understøtter HDMI, USB3.0 og WiFi-output. Det kan arbejde direkte med skærme og pc'er, eller opnå trådløst skærmprojektion via WiFi-forbindelse.
A3: Den understøtter 4K-optagelse, videooptagelse og højpræcisionsmåling. Den matchede software realiserer dybdeskarphed stabling og billedstikning. Den understøtter USB-flashdrev og pc-lagring, rapport-eksport og sekundær udvikling. Velegnet til metalmetallografi, spåner, fibre, pulvermetallurgi, præcisionselektronikinspektion, videnskabelig forsknings- og undervisningsscenarier.
A4: Kontroller strømforsyningsstatus og HDMI-kabelforbindelser, bekræft, at skærmen er skiftet til den korrekte signal-input-kanal. Genstart mikroskopværten. Hvis fejlen fortsætter, bedes du kontakte eftersalgsservice.
A5: Ideel til metallografisk analyse, chips, præcisionselektronik, pulvermetallurgi og fibertestning. Velegnet til industriel-kvalitetsinspektion, videnskabelig-forskning og undervisningsarbejde.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., grundlagt i 2011, hvis grundlægger har akkumuleret brancheekspertise siden 2005, er en tech-fokuseret virksomhed med speciale i design, R&D, salg og eftersalgsservice inden for industri mikroskoper, herunder det højforstørrelse metallografiske mikroskop med autofokus. Vores kerneingeniørteam bringer over ti års specialiseret erfaring, hvilket sikrer moden teknologi og pålidelig kvalitet. Med mere end én hundrede optiske produktmodeller og en global kundebase, GAOPIN leverer løbende skræddersyede, omkostningseffektive mikroskopi løsninger. Vi leverer hurtig-respons global teknisk support gennem online konferencer, video-assisteret vejledning, og fjerntræningssessioner. Vores produktionsbase er beliggende i Kunshan, Jiangsu-provinsen (tæt på Shanghai). Begge dele fabriksinspektioner på stedet og virtuelle fabriksrundvisninger er tilgængelige for kunder. Du er velkommen til at kontakte os vedr prøve testbilleder taget med dette GP-L200-462H 4K autofokus metallurgisk mikroskop for at evaluere billeddannelse ydeevne førstehånds.
Adresse
Bygning 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tlf
