Dette 4K Ultra HD højforstørrelse metallurgiske mikroskop er ideelt til materialefejlanalyse og kvalitetsrevisionsarbejdsgange, en konkurrencedygtig høj forstørrelse metallografisk mikroskop med 4K Ultra HD. Dobbelt visning via kikkert okularer og ekstern skærm tillader praktisk teamgennemgang. Trådløs dataoverførsel kan realiseres ved at tilslutte en trådløs adapter til dens USB-port. Ensartet koaksial belysning sammen med lysfelt og mørkt felt giver skarp synlighed for korn, belægninger, revner og andre små fejl. Indbyggede billedoptagelses- og måle-analysefunktioner strømliner inspektions arbejdsgange. Anti-vibrationschassis opretholder ensartet billedkvalitet; opgraderingsvenligt modulopbygget layout nedskæringer fremtidig hardwareinvestering.
4K-kamera integreret med trinokulær metallurgisk ramme, understøtter samtidig okular- og skærmvisning. Dobbelt output fra HDMI + Gigabit-LAN-port til at optage ultra-HD mikrobilleder i realtid.
Optisk forstørrelse 50-500 ×, maksimal digital forstørrelse 2000 ×. Præcision optisk vej med professionel metallurgiske objektiver leverer skarp billeddannelse af mikrometalteksturer.
Integreret grov- og finfokuseringsenhed sikrer jævn og stabil fokusering, hvilket i høj grad reducerer billedvibrationer under observation.
Base i et stykke støbt aluminium holder enheden velafbalanceret, fri for slingre eller forskydning under langtids skiveinspektion og materialeobservationsarbejde.
Klassisk hvid-og-blå research-stil krop med standard trinokulært metallurgisk layout, rent og minimalistisk til laboratorier og kvalitetsinspektionsværksteder.
Velegnet til metal-metallografisk analyse, halvleder-wafer-inspektion, materiale-fejl-analyse, universitets-undervisnings-forskning og komponent-kvalitets-test opgaver.
4K (3840 × 2160) foto- og videooptagelse. Indbygget måling på skærmen og pc-software-baseret måling er tilgængelig; dobbelt lagring via USB-flashdrev og computer. Sekundær-udvikling er understøttet for bekvem billedarkivering, sammenligning og dybdegående dataanalyse.
Kikkertvisning og synkron elektronisk observation:Synkroniseret visning mellem okular og overvåge. Almindelige metallurgiske mikroskoper understøtter kun visning af okularer; ekstra kameratilbehør er påkrævet til skærmudgang.
4K ultra-high-definition billedbehandling:3840 × 2160 4K-opløsning til gengivelse af fin mikrostruktur. Almindelige metallurgiske kameraer er for det meste 1080P med begrænset klarhed.
Dobbelt-output grænseflader:HDMI + Gigabit-LAN-port. Normalt kun traditionelle metallurgiske anordninger tilslut til pc uden netværksport for enhedsintegration.
Dobbelte måletilstande:Offline indbygget måling på skærmen plus pc-software-baseret måling. Almindelige metallurgiske mikroskoper understøtter kun måling på pc-siden uden hardware-indlejret målefunktion.
Dual-lagringstilstande:Offline USB-flashdrev-lagring og pc-softwarelagring; databesparelse tilgængelig med eller uden computer. Konventionelle modeller kræver pc til billedlagring.
Understøttet sekundær udvikling:Gigabit-LAN-port muliggør systemintegration til udrulning af automation-produktionslinje. Generelle metallurgiske mikroskoper understøtter ikke sekundær udvikling integration.
Dedikeret metallurgisk optisk vej:Optimeret til analyse af metal, belægning og kornstruktur. Almindelige digitale mikroskoper mangler dedikeret metallurgisk optisk vej og kan ikke observere metallurgisk mikrostrukturer.
Udstyret med et indbygget 4K (3840 × 2160) industrielt kamera og professionelt kalibreret med standard metallurgiske testprøver, producerer systemet ultraklare, jævnt fokuserede billeder. Det genopretter nøjagtigt indviklet mikrostrukturer inklusive korngrænser, lagdelte belægninger og mikrofrakturer med ensartet skarphed fra center til kant.
Konfigureret med flere akromatiske metallurgiske objektiver til mikroanalyse med høj forstørrelse. Den dobbelte visning trinokulært design understøtter synkron visning af okularer og digital skærm, der passer perfekt til industrien scenarier såsom metal-materiale-identifikation, belægningstykkelse-inspektion og kornkvalitetsgradering.
Indbygget professionel målealgoritme muliggør dataoverlejring på skærmen og høj præcision metallurgisk-måling. Den dækker flere nøgleindikatorer, herunder belægningstykkelse, kornlængde, revnebredde og mellemlag mellem lag, mens understøtter realtidsannotering, billedarkivering og test-data-eksport. Kompatibel med dybdeskarphedsstabling og billedsammensætningsfunktioner.
Dobbeltvejs transmitteret og reflekteret belysning garanterer kvalificeret belysning til forskellige prøvetyper. Den Højpræcisions bevægeligt trin sikrer fleksibel og præcis feltpositionering. Effektivt forstærket helmetal krop eliminerer vibrationer og leverer stabil ydeevne til langvarig batch-materiale-detektion.
Halvledere og elektroniske komponenter:IC-chips, siliciumwafers, fotolitografiskiver, PCB brædder, FPC fleksible brædder, loddesamlinger, stifter. Inspektionsmål: Overhold interne chipkredsløb, wafer belægninger, koldloddefejl, oxidation, kredsløbsridser og stiftdeformation; analysere mikro-slice strukturer under max 2000 × forstørrelse.
Metalmaterialer og metallografiske prøver:Metallografiske skiver, stemplet metal hardware. Inspektionsmål: Metallografisk-kornstrukturanalyse, varmebehandling-materiale-identifikation; opdage kantafhugning, mikrorevner, grater og sliddybde.
LED optoelektroniske og plaststøbte dele:LED-chips, optisk-plastik dele, indsprøjtning og udstansning produkter. Inspektionsmål: Undersøg bittesmå hak, overfladepletter, ru kanter, mikrofremmede partikler, lim-delaminering og tætning af mikrodefekter.
Højpræcisions miniaturekomponenter:Stik, terminaler, mikrofjedre, bittesmå stemplede emner. Inspektionsmål: Observer små mellemrum og krympeflader; udføre præcis måling af længde på pixelniveau, huldiameter og stigning.
Laboratorie- og industriel QC-arkivering:Metallografisk-skive-eksperiment-analyse, indgående-&-færdige varer prøveudtagning-inspektion; foto- og videoarkivering for defekte bevisoptegnelser og eksport af QC-rapporter til formel måling.
Optisk forstørrelse rækker 50 ×-500 ×, maks. digital forstørrelse op til 2000 ×, med indbygget 3840 × 2160 4K opløsning. Den viser tydeligt metallografiske teksturer, spånbelægninger og bittesmå korn, ideel til mikroanalyse af metal-metallografiske strukturer, wafers, belægninger og pulvermaterialer til materiale-laboratorier og halvleder-indkommende- inspektion.
Trinokulær optisk vej giver mulighed for samtidig visning via kikkert okularer og monitor. Flere operatører kan tjek mikroprøver sammen, perfekt til universitetsuddannelse og dobbeltinspektion af fejl på fabrikker.
Udstyret med HDMI + Gigabit-LAN-porte. HDMI forbinder skærm til visning på stedet; LAN-port understøtter lokalnetværk adgang til fjernbilledadgang og multistationssynkron overvågning, realisering af centraliseret udstyrsstyring for store laboratorier.
To-måleløsninger: indbygget måling på skærmen og pc-software-baseret måling. To lagringsveje: USB flash-drev-lagring og computer-arkivering. Målte data og 4K-billeder kan eksporteres til QC-rapporter, og de enhed understøtter sekundær udvikling til produktionslinje-integration.
Standard metallurgisk trin med flere objektiv-linser passer til metalprøver, wafers, coating-skiver og mikro-elektroniske dele. Præcision koaksial grov- og fin manuel fokusering med stabil krop, meget brugt i undervisningen, indkommende-inspektion og nyt-materiale-forskning.
Neutral-pakning forsendelse er tilgængelig efter anmodning.
| Entitet | Beskrivelse |
| Produkt | GP-L200-324K 4K metallografisk mikroskop med høj forstørrelse med 4K Ultra HD |
| Kategori | Industrielt trinokulært 4K metallografisk inspektions- og målemikroskop med høj forstørrelse |
| Kerneteknologier | Trinokulært synkront observation optisk system, professionel metallurgisk objektiv-objektivgruppe, 4K ultra-high-definition CMOS-billeddannelse, dual-digital-målemaskine (på skærmen og pc-software), HDMI + Gigabit-LAN dual-signal-transmission, dual-storage-teknologi, understøtter åbent system sekundær udvikling |
| Nøglespecifikationer | Visuel forstørrelse: 50/100/200/500 ×; Elektronisk forstørrelse: 200/400/800/2000 ×; Dual-output: HDMI + Gigabit-LAN; 4K-optagelsesopløsning 3840 × 2160; Manuel fokusering; Dobbelte måletilstande: indbygget måling på enheden + professionel pc-softwaremåling *(0,001 mm, mindre målingstolerance kan opnås under større forstørrelse. Resultater er underlagt kalibrering, forstørrelse og prøve betingelser)*; Dobbelt-lagring: USB-flash-drev lokal-lagring + computer-fil-lagring; Monitor-terminal understøtter billed-forhåndsvisning, dimensionel-måling, foto-fangst og fil-gem; PC-terminal understøtter måling og billedarkivering, kompatibel med sekundær-udviklings-integration |
| Typiske applikationer | Metal-metallografisk-struktur-analyse, legering-korn- og-materiale-tekstur-observation, belægningstykkelse-måling, halvleder-wafer-detektion, PCB-tværsnitsinspektion, præcisions-hardware-fejl-analyse, universitet-laboratorie-materiale-forskning, ny-energi-materiale-kvalitet- afprøvning |
| Fabrikant | Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. |
| Producentens placering | Kunshan, Jiangsu, Kina (nær Shanghai) |
| Produktmærke | GAOPIN |
| Produkt model | GP-L200-324K |
| Opløsning | 3840 × 2160 (4K) |
| Effektive pixel | 8,3 megapixel |
| Fokuseringsmetode | Manuel fokus (koaksial grov- og finjustering) |
| Sensor optisk format | 1/1,7" |
| Pixel størrelse | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Udgangsgrænseflader | HDMI + Gigabit-LAN |
| Billedhastighed | HDMI: 60 fps @ 3840 × 2160 LAN-port: 20 fps @1920 × 1080 |
| Måleoperation | Indbygget on-monitor målesystem + PC-software-baseret måling |
| Målenøjagtighed | 0,001 mm *(Mindre måletolerance kan opnås ved højere forstørrelse. Resultater forbeholdt. kalibrering, forstørrelse og prøveforhold)* |
| Måleenheder | mm / μm / mil / tomme (4-vejs omskiftelig) |
| Måleværktøjer | Længde, vinkel, radius, cirkel, polygon, polylinje, center-til-center afstand, rektangel, annotering, automatisk kantdetektion, skaleringsbjælke |
| Opbevaringsmetode | USB-flashdrev + PC-softwarelagring |
| Billednavngivningstilstand | Automatisk eller manuel navngivning af billedfiler |
| Vis sprog | Forenklet kinesisk / engelsk (kan skiftes) |
| Processor | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max.1,4 GHz hovedkontrolprocessor |
| Firmware OS | Uafhængigt udviklet målesystem bygget på Linux 3.1 kerne |
| Observationshoved | 30° skråtstillet trinokulært observationsrør, 360° roterbar, justerbar interpupillær afstand |
| Observationsmetode | Lysfelt / skrå belysning / transmitteret belysning / simpel polarisering |
| Belysningssystem | Reflekteret og transmitteret dobbeltvejsbelysningssystem, 100-240 V bredspænding; justerbar glødetrådscentreret, kontinuerligt justerbar lysintensitet |
| Stativramme | Transmitteret og reflekteret stativ med to formål; koaksial grov-fin fokus mekanisme; grovjustering slagtilfælde 33 mm, finjusteringsnøjagtighed 0,002 mm med låsning & endestop; halogen-lampe belysning; Lysfeltsreflektor med variabel blændestop, feltstop og farvefilterkonvertering; Udstyret med blåt filter til observation af reflekteret lys |
| Mobil platform | Dobbeltlags mekanisk bevægende scene; scenestørrelse: 140 × 132 mm; X-Y slaglængde: 76 × 50 mm; glas scene til transmitteret og reflekteret observation |
| Lyskilde | 6V-30W halogenlampe til reflekteret lys; 6V-30W halogenlampe til gennemlys |
| Simpel polarisering | 30° polarisatorindsats (reflekteret lys) + 360° roterbar analysatorindsats til polariseret observation |
| Elektronisk grænseflade | 0,5X C-mount interface, justerbar fokus [Valgfrit: 1X C-mount] |
| Okular | Højøjepunkt-fladfelt-okular med stort felt PL10X/18 mm (et okular med skalamærke) |
| Metallurgisk objektivlinse | Lang-arbejdsafstand fladfelt akromatisk metallurgiske objektiver: 5X / 0,13 WD15,5 mm; 10X / 0,25 WD8,7 mm; 20X / 0,40 WD8,8 mm; 50X / 0,60 WD5,1 mm |
| Optisk forstørrelse | 50 ×, 100 ×, 200 ×, 500 × fire-niveau justerbar |
| Elektronisk forstørrelse | Ca. 200 ×, 400 ×, 800 ×, 2000 × fire-niveau justerbar (kan udvides til 400-4000 ×) |
GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensions- og mikrofejldetektion til præcisionsbearbejdet dele
Forskningsinstituttet for Fysisk og Kemisk Teknik i Nuklear Industri – Mikromorfologi-observation & præcisions-komponent-analyse af specialmaterialer
DOOV – Mobil-enhed-samling-inspektion, skærm- og komponent-udseende-test
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics, CAS – Avanceret-optisk-forskning & optisk-komponent-karakterisering
Tsinghua University – Undervisning, laboratorie-billeddannelse og eksperimentel-data-arkivering
Beijing Institute of Technology – Videnskabelig-forskning-analyse for militær-grade-materialer og optoelektroniske enheder
Mål og okular:Tør linserne forsigtigt af med linsepapir og linserenser. Rør aldrig ved optisk linser med bare hænder eller brug almindelige papirservietter til rengøring.
Hovedkrop og scene:Fjern straks prøverester og metallurgisk pulver. Tør huset af med en tør blød klud; undgå væskesprøjt. Kontroller regelmæssigt, at trinskruerne er stramme for at forhindre skift forårsaget af kollisioner.
Transmitteret og reflekteret lyskilde:Sluk lyskilden, når mikroskopet er inaktivt. Blæs støv lysvinduet af og rør ikke direkte ved pæren.
Mekanisk fokusmekanisme:Drej ikke fokushåndhjulet med overdreven kraft. Fortsæt med at glide rene spor; smør dem aldrig selv.
Opbevaringsmiljø:Opbevares på et tørt, godt ventileret sted for at modstå fugt og skimmelsvamp. Dæk til enhed med et støvdæksel efter brug.
A1: Den tilbyder 50-500 × visuel forstørrelse og 200-2000 × elektronisk forstørrelse. Okular og monitor synkron observation er tilgængelig for rutine- og præcisionsinspektion.
A2: Det understøtter HDMI-video-output og Gigabit-LAN-port-forbindelse. Det kan arbejde uafhængigt med en skærm eller tilslutte til en PC via LAN til billedtransmission og softwarekontrol.
A3: Den understøtter 4K-optagelse, videooptagelse og højpræcisionsmåling. Den matchede software realiserer dybdeskarphed stabling og billedstikning. Det understøtter USB-flash-drev og pc-lagring, rapport-eksport og sekundær-udvikling.
A4: Slørede billeder er forårsaget af ujævne prøver, høj forstørrelse, støvede linser eller forkert fokus. Flad prøver, reducere forstørrelse, rengør objektivet og juster fokus for at få et klart billede.
A5: Intet HDMI-billede: Tjek strømforsyning, kabelforbindelse og monitor-signalkilde, og genstart derefter enheden. LAN-forbindelse- fejl: Hold pc og enhed i samme netværkssegment, sluk firewall og bekræft IP-indstillinger.
A6: Ideel til metallografisk analyse, chips, præcisionselektronik, pulvermetallurgi og fibertestning. Velegnet til industriel-kvalitetsinspektion, videnskabelig-forskning og undervisning.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., grundlagt i 2011, hvis grundlægger har akkumuleret brancheekspertise siden 2005, er en tech-fokuseret virksomhed med speciale i design, R&D, salg og eftersalgsservice inden for industri mikroskoper. Vores kerneingeniørteam bringer over ti års specialiseret erfaring, hvilket sikrer moden teknologi og pålidelig kvalitet. Med mere end hundrede optiske produktmodeller og en global kundebase, GAOPIN kontinuerligt leverer skræddersyede, omkostningseffektive mikroskopiløsninger. Vi leverer hurtigt svar global teknisk support igennem onlinekonferencer, videostøttet vejledning og fjerntræningssessioner. Vores produktionsbase er placeret i Kunshan, Jiangsu-provinsen (tæt på Shanghai). Både fabriksinspektioner på stedet og virtuelle anlægsrundvisninger er tilgængelige for kunder. Du er velkommen til at kontakte os for eksempler på testbilleder taget med denne GP-L200-324K 4K høj forstørrelse metallografisk mikroskop med 4K Ultra HD til at evaluere billedbehandlingsydelse på egen hånd.
Adresse
Bygning 2, Shuanglian International Business Center, Huaqiao Town, Kunshan City, Kina
Tlf
