Produkter

Produkter

Digitalt mikroskop med høj forstørrelse med top- og bundbelysning
  • Digitalt mikroskop med høj forstørrelse med top- og bundbelysningDigitalt mikroskop med høj forstørrelse med top- og bundbelysning
  • Digitalt mikroskop med høj forstørrelse med top- og bundbelysningDigitalt mikroskop med høj forstørrelse med top- og bundbelysning

Digitalt mikroskop med høj forstørrelse med top- og bundbelysning

Model:GP-305S-4K
Med fleksible belysningsmuligheder giver GAOPIN GP-305S-4K 4K højforstørrelses HDMI digitale mikroskopløsninger til industriel inspektion. GP-305S-4K 4K digitalt mikroskop med høj forstørrelse med top- og bundbelysning tilbyder et forstørrelsesområde på 47–307X og giver både top- og bundbelysning til detaljeret observation af forskellige emner og overfladefunktioner. Designet til elektronikinspektion, PCB-inspektion, præcisionsdele, montering, reparation og kvalitetskontrol. Store ordrer, brugerdefinerede builds og fuld-pakke sourcing er alle understøttet.

Gaopin GP-305S-4K digitalt mikroskop med høj forstørrelse med top- og bundbelysning. Dette højforstørrelses digitale mikroskop med Top og Bundbelysning giver parfokal zoom fra 47X til 307X, ingen genfokusering påkrævet under forstørrelsesjustering. Udstyret med et 4K højopløsningskamera og præcist monokulært kontinuerlig zoomobjektiv. Basen integrerer topring lys og bundtransmitteret lys, hvilket muliggør fleksibel lysskiftning for uigennemsigtige og semi-transparente prøver. Indbygget målesoftware understøtter måling af længde, vinkel, radius og andre geometriske funktioner. Foto og video fange er tilgængelige til prøvearkivering, velegnet til visuel inspektion og præcisionsmåling i laboratorier og produktionslinjer.

High-Magnification Digital Microscope with Top and Bottom lluminationHigh-Magnification Digital Microscope with Top and Bottom llumination

Forskel fra konventionelle kropsmonterede mikroskoper

Forskel fra almindelige mikroskoper:De fleste standard digitale mikroskoper har kun en enkelt ring lys og kan ikke fange indre konturer af semi-transparente prøver. Dette højforstørrelseselektronmikroskop med Dual Light Source vedtager dobbelt belysning af toplys og bundtransmitteret lys for fleksibel belysning kontrol. Den har 47–307X parfokal zoom for at holde billeder skarpe, mens forstørrelsen ændres. Integreret 4K målesystem understøtter både overfladeinspektion af uigennemsigtige dele og transmitteret observation af tynde film, dækker flere anvendelsesscenarier end almindelige mikroskoper.

Produktapplikationer

Ansøgningsomfang:Velegnet til fejlinspektion og dimensionsmåling af PCB, tynde film, plastik, præcisionshardware og elektroniske komponenter. Den observerer overfladeridser, grater, huldiametre, stift stigning og indre konturer af semi-transparente materialer. Udbredt i QC-stationer af 3C elektronik og materiale test industrier.

Tekniske specifikationer

Model GP-305S-4K
Optisk forstørrelse 47–307×
Opløsning 3840×2160 4K
Målenøjagtighed 0,001–0,005 mm
Produktion HDMI til 4K-skærmmåling + USB 3.0 til pc-måling + LAN-port til pc-måling
Målemetode Live billedmåling
Måleenheder mm, μm, mil, tommer (4 omskiftelige enheder)
Opbevaring Eksternt USB-drev + PC-softwarelagring
Belysning LED transmissiv og reflekterende belysning
Vis sprog Forenklet kinesisk / engelsk (kan skiftes)
Operation Mus-betjente menuer
Måleværktøjer Skala og forskellige værktøjer: længde, vinkel, bue, cirkel, polygon, polylinje, centerafstand, rektangel, tilføje noter, automatisk kantdetektion.
Operativsystem Linux 3.1-baseret, egenudviklet målesystem
Billednavngivning Automatisk eller manuel
Trådkors 100 vandrette og 100 lodrette linjer
Interface 1× USB 3.0, 1× USB 2.0, 1× Gigabit Ethernet
Processor ARM Cortex-A17 quad-core @ max 1,4GHz (hovedprocessor)
ARM Cortex-A7 single-core @ max 900MHz (videoprocessor)
Objektiv GP-305S-4K
Linseforstørrelse Elektronisk forstørrelse Synsfelt Arbejdsafstand
0,7× 47× 10*6 mm 75 mm
1× 68× 7,5*4,2 mm
1,5× 102× 5*2,8 mm
2× 136× 3,7*2 mm
2,5× 170× 3*1,6 mm
3× 204× 2,5*1,4 mm
3,5× 238× 2,1*1,2 mm
4× 273× 1,9*1 mm
4,5× 307× 1,7*0,95 mm

Evidens og pålidelighed på stedet (førstehåndstest)

1. Dual lyskilde belysning pålidelighedstest

Udstyret med koaksialt toplys og transmitteret bundlys. Felttest bekræfter frit skift mellem de to belysningstilstande. Den håndterer både inspektion af reflekterende overfladedefekter og transparent prøvetransmission observation, der løser problemer med ujævn belysning på tværs af lyse/mørke felter. Ridser, indvendige revner og kredsløbsspor er alle tydeligt afbildede, tilpasset til flere prøvetyper.

2. 4K High-Definition Imaging Stabilitetstest

Ved at anvende en 4K-billedsensor viser langvarig kontinuerlig drift på stedet skarpe, forvrængningsfri billeddetaljer. Mikrograter, loddesamlinger og fine mellemrum fanges stabilt, hvilket giver højopløselige inspektionsbilleder for defekter bevis- og kvalitetsarkivering.

3. Kontinuerlig zoom Gentag fokusering pålidelighedstest

Den kontinuerligt variable zoomobjektivgruppe blev gentagne gange verificeret gennem flere zoom- og genfokuseringscyklusser. Billedbehandling vender hurtigt tilbage til skarphed efter zoom uden billeddrift, velegnet til gentagen sammenlignende inspektion og stabil bevarelse af multi-gruppe sammenlignende beviser.

4. Pålidelighedstest for billedoutput og evidenslagring

Understøtter HDMI-realtidsvisning og USB-pc-forbindelse. Test på stedet muliggør foto- og videooptagelse med et enkelt klik, gemmer direkte originale inspektionsoptagelser. Den medfølgende pc-software understøtter dimensionsmåling og trådkors mærkning, bevarelse af komplette sporbare inspektionsregistre for at imødekomme kvalitetsrapportdokumentationsbehov.

5. Stativ anti-vibrationsstruktur pålidelighedstest

Metalløftestativet parret med en solid base blev testet under simulerede lette værkstedsvibrationsforhold. Mindre vibrationer forårsager ikke mærkbar billedsløring, med stabil fokuslås, der sikrer ensartet billedkvalitet under lang kontinuerlig observation og billedoptagelse.

Oversigt over produktenheder

Punkt Beskrivelse
Produkt model GP-305S-4K digitalt mikroskop med høj forstørrelse med top- og bundbelysning
Produktkategori Industrielt 4K digitalt målemikroskop med høj forstørrelse
Kerneteknologi 4K HD CMOS-billeddannelse;
Selvudviklet Linux billedmålingssystem;
Digital multifunktion måling motor;
Højhastigheds dobbelt ARM-processorarkitektur;
Justerbar LED-ring lys;
Gigabit Ethernet synkron transmission i realtid.
Nøglespecifikationer 4K opløsning 3840×2160, 60 fps;
Optisk forstørrelse 0,7–4,5× trinløst justerbar med positionering; total forstørrelse 47–307×;
Målenøjagtighed 0,001–0,005 mm; mm / μm / mil / tomme omskiftelig;
Tre udgange: HDMI, USB 3.0, Gigabit Ethernet;
Eksternt USB-drev + PC / netværk-software dobbelt lagring;
1/1,7" billedsensor, 1,85 μm pixelstørrelse, 2 GB DDR3-hukommelse;
Indbygget 100 vandrette og 100 lodrette trådkors.
Typiske applikationer PCB defekt inspektion, chip inspektion, BGA mikro-loddeforbindelse inspektion;
Præcis hardware dimension QC; metal hul / hårgrænse mikro-dimension måling;
Glasridsinspektion, elektronisk inspektion af komponenter;
Formdimensionsmåling, laboratoriepræcisionsdimension analyse;
Inspektion af ny energikomponent, krystalinspektion.
Fabrikant Kunshan Gaopin Precision Instruments Co., Ltd.
Adresse Kunshan, Jiangsu-provinsen, Kina (ved siden af ​​Shanghai)

47-307 Til hvilke produkter er dette detektionsområde egnet?

1. PCB printkort visuel defekt inspektion:Overhold kobberfolie åbent kredsløb, kortslutning, koldloddeforbindelse, loddekugle, ridse- og loddemaskeskade. 47–307X balancerer bredt synsfelt og lille loddemiddel fælles detaljer.

2. Kvalitetsinspektion for præcisions elektroniske komponenter:Modstande, kondensatorer, dioder og chip stifter. Registrer pinoxidation, deformation, overskydende loddemetal og emballagerevner.

3. Grat- og revneinspektion for små hardwaredele:Mikrostemplingsdele, drejede dele, skruer og fjedre. Tjek kantgrater, afslag, overfladerevner og belægningsafskalning.

4. Fejlinspektion for plastinjektionsdele:Præcisions plastkomponenter og stik huse. Tjek vaskemærker, bobler, materialemangel, ridser og blink.

5. Prøveobservation og simpel dimensionsmåling:Observer mikrostruktur af prøver. Med målefunktion, måle mellemrum, linjebredde og partikelstørrelse.

6. Mikroobservation af kulturelle relikvier og materialer:Stoffibre, belægninger og pulverprøver. Observer overfladetekstur og partikelmorfologi til undervisning i prøver og foreløbig materialeanalyse.

Unikke designfordele

Integreret dobbelt lys base

Indbygget bundlys + topringlys med separat lysstyrkekontrol. Til reflekterende dele som PCB guldfingre og gennemsigtige prøver såsom film og glas. Leveres med glasscene og prøveclips.

Parfokal kontinuerlig zoomobjektiv

47–307× zoom, ingen genfokusering ved ændring af forstørrelse. Standard C-fatning til valgfrit koaksialt lys.

Native 4K industrielt kamera

HDMI & USB dobbelt udgang, forhåndsvisning med lav latens, foto- og videooptagelse. Fremragende varmeafledning i lange timer værkstedseftersyn.

Måling på skærmen

Mål længde, vinkel og areal direkte på skærmen uden pc. Trådkorsoverlejring og billedannotering understøttes.

Præcisions modulopbygget stativ

Glat finfokus, stabil positionering. Kompatibel med polarisator. Ideel til PCB, halvleder, præcisionshardware og tyndfilmsinspektion.

Daglig vedligeholdelse af elektronmikroskopet

· Optisk linsepleje:Brug kun professionelt optisk linsevæv eller mikrofiber støvfri klud til aftør linsens overflader. Brug aldrig papirhåndklæder eller ru klud for at undgå at ridse linsebelægningen. Til fingeraftryk og olie pletter, påfør en lille mængde optisk rensemiddel på kluden. Dryp ikke væske direkte på linsen. Undgå at røre den optiske overflade af linsen med hånden.

· Vedligeholdelse af kamera, objektivrør og stativ:Rengør 4K-kameraet, zoomrøret og metalsøjlen med tør støvfri blød klud. Udsæt ikke hele enheden for vand. Hold alkohol, acetone og andet stærkt ætsende opløsningsmidler væk for at beskytte maling og trykte mærker. Hold alle stik tørre for at forhindre metaloxidation og dårlig kontakt.

· Pleje af scene og dobbelt lyskilde:Fjern støv fra den hvide scene og øvre og nedre LED dobbelt lysring med tør blød klud. Rengør lysvinduet på samme måde som linsen, brug ikke ætsende væske. Træk ikke i lysledningen med magt.

· Vedligeholdelse af fokusmekanisme:Rens jævnligt støv på fokusknapper og søjlestyreskinner. En lille mængden af tørt fedt kan påføres. Flydende smøremidler er forbudt, for at forhindre oliedryp og forurening linser, lyskilder og prøver. Betjen forsigtigt fokusknappen, drej den ikke med magt for at undgå skader på gearet.

· Strøm og miljø:Brug den originale strømadapter. Anbring udstyret i tørt, støvfattigt miljø, væk fra høj temperatur, luftfugtighed og kraftige vibrationer. Sluk og tag adapteren ud, når den ikke er i bruge i lang tid.

Sådan vælger du en model

1. Emner til observation af variabel forstørrelse:Prøver, der kræver 47×–307× forstørrelse til efterse små overfladeridser og defekter.

2. Gennemsigtige og uigennemsigtige prøver:Vedtager dobbelt lyskilde. Velegnet til uigennemsigtige dele som metal og plast, samt gennemsigtige og semi-transparente emner såsom film og glas.

3. Nøjagtig dimensionsmåling påkrævet:Produkter, der skal måles på mikronniveau længde, vinkel og bue, med dataindsamling og generering af inspektionsposter.

4. Mellemstore og små præcisionskomponenter:PCB-plader, elektroniske komponenter, forme, præcision hardware og andre mellemsmå præcisionsemner.

5. Billedarkivering påkrævet:Produkter, der kræver foto- og videooptagelse for at gemme defekte billeder til kvalitetsrapporter, processporbarhed og klagebevis.

6. Tilpasning:Understøtter neutral forsendelse

Autoritative partnere og kunder

Authoritative Partners & Clients

GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:

Xi'an Jiaotong University – Mikromorfologisk videnskabelig analyse af materialer

Dovov – Mikrokvalitetsinspektion for udseende og interne komponenter i forbrugerelektronik

AVIC Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Mikrostrukturinspektion og fejlanalyse af stik

Shanghai Institute of Ceramics, CAS – Mikrostrukturforskning af uorganiske ikke-metalliske materialer

Ofte stillede spørgsmål

Q1: Hvad er forstørrelsesområdet for GP-305S-4K dobbeltlysmikroskop, og hvilke fordele tilbyder parfokal zoom?

A1: Den giver forstørrelse fra 47X til 307X med parfokal zoom. Fokus forbliver stabilt, mens der skiftes forstørrelsesniveauer, hvilket eliminerer gentagen omfokusering. Det reducerer driftstrin og forbedrer inspektionseffektiviteten under batchprøvetestning.

Spørgsmål 2: Hvilke typer prøver er egnede til inspektion under opsætningen med dobbelt lys?

A2: Den øverste ringlampe bruges til at kontrollere overfladefejl på emner. Det indbyggede transmitterede bundlys tændt basen oplyser transparente og semi-transparente prøver for at observere indre konturer og kantstrukturer. En enhed understøtter både overfladeinspektion og gennemsigtig prøveanalyse.

Spørgsmål 3: Hvad med dette mikroskops billeddannelsesydelse, og understøtter det måling og registrering?

A3: Den har et 4K high-definition billedbehandlingssystem med 3840×2160 opløsning. Den understøttende software aktiverer præcis dimensionsmåling. Fotooptagelse og videooptagelse er tilgængelige for at gemme billeder og måling data til kvalitetssporbarhed og dokumenthåndtering.

Q4: Hvad er designhøjdepunkterne for basen og stativet for GP-305S-4K?

A4: Den anvender en dedikeret hvid base med et gennemsigtigt vindue til transmitteret lys, parret med en lodret enkelt søjle stativ. Fokuseringshåndhjulet har afbalanceret, jævn dæmpning. Hele enheden er solid og modstandsdygtig overfor mindre værkstedsvibrationer, perfekt til lang-timers kontinuerlig inspektion.

Q5: Er en pc påkrævet for at se prøver med GP-305S-4K?

A5: Ingen computer er obligatorisk for grundlæggende betjening. Tilslut den til en skærm for livevisning, fotooptagelse og video optagelse. Avancerede funktioner inklusive softwaremåling og dataeksport bliver tilgængelige efter tilslutning til en PC, fleksibel tilpasning til forskellige arbejdsstationsopsætninger.

Om GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., grundlagt i 2011, hvis grundlægger har oparbejdet brancheekspertise siden 2005, er en tech-fokuseret virksomhed specialiseret i design, R&D, salg og eftersalgsservice af industrielle mikroskoper. Med et kerneingeniørteam med mere end ti års professionel knowhow virksomheden garanterer gennemprøvede teknologier og ensartet produktpålidelighed. GAOPIN tilbyder mere end hundrede optiske produktmodeller og betjener kunder over hele kloden og dedikerer sig til at levere skræddersyede, omkostningseffektive mikroskopiløsninger. Vi tilbyder hurtig verdensomspændende teknisk support, der dækker online konferencer, video-assisteret betjeningsvejledning og fjerntræningssessioner. Vores produktionsbase er beliggende i Kunshan, Jiangsu-provinsen, i umiddelbar nærhed af Shanghai. Både fabriksinspektioner på stedet og virtuelle anlægsrundvisninger er tilgængelig for kunder. Du er velkommen til at kontakte os for prøvebilleder taget med denne højforstørrelse Digitalt mikroskop med top- og bundbelysning, så du kan evaluere dets billedbehandlingsydelse direkte.

Send forespørgsel
Kontaktoplysninger
Send dit krav om et fabriksdirekte tilbud. OEM eller tilpassede mikroskopsystemer, bulkordrer, eksportforsendelse - GAOPIN svarer med et skræddersyet forslag.
X
Vi bruger cookies til at tilbyde dig en bedre browsingoplevelse, analysere trafik på webstedet og tilpasse indhold. Ved at bruge denne side accepterer du vores brug af cookies. Privatlivspolitik
AfviseAcceptere