Digitalt mikroskop med høj forstørrelse med dobbelt lyskilde

Gaopin GP-306S-4K 4K målemikroskop med dobbelt lyskilde. Dette højforstørrelses digitale mikroskop med Dobbelt Lyskilde，4K Ultra HD leverer parfokal zoom fra 63X til 414X, hvilket bevarer skarpe billeder gennem forstørrelse justering. Den er udstyret med et 4K-billeddannelsesmodul og et præcist monokulært zoomobjektiv. Basen har indbygget top og bunden dobbelte lyskilder: toplys til overfladetopografiinspektion, bundtransmitteret lys til at se konturerne af semi-transparente prøver. Indbyggede måleværktøjer muliggør hurtig dimensionsannotering, snapshot og videooptagelse, opfylder høj forstørrelsesobservation og præcisionsmålingskrav for små komponenter.

Forskel fra konventionelle kropsmonterede mikroskoper

Forskel fra almindelige mikroskoper:Almindelige højeffektmikroskoper understøtter kun reflekteret overfladebelysning og har begrænset kapacitet til tynde eller semi-transparente prøver. Denne højforstørrelseselektron Mikroskop med dobbelt lyskilde integrerer toplys og transmitteret bundlys. En maskine opnår begge dele reflekteret og lysfelttransmitteret observation. 63–414X parfokal zoom og 4K-billeddannelse giver overlegen måling nøjagtighed for både overfladefejl og indvendig konturinspektion.

Produktapplikationer

Ansøgningsomfang:Ideel til mikroskopisk observation og dimensionsmåling af chipstifter, mikro støbeforme, præcisionsfjedre, stikkontakter og tynde pakninger. Den registrerer mikrorevner, defekter og fladhed, og kan se lystransmitterende konturer af tynde emner. Udbredt i laboratorier og produktions-QC til halvledere tilbehør og præcisionsstøbeindustrien.

Tekniske specifikationer

Evidens og pålidelighed på stedet (førstehåndstest)

1. Stabil dobbelt lyskilde

Omskifteligt koaksialt toplys & transmitteret bundlys, velegnet til gennemsigtige og uigennemsigtige emner.

2. Pålidelig 4K-billedbehandling

3840×2160 opløsning, skarpe billeder uden forvrængning, fanger små grater og loddefejl til QC-bevis.

3. Stabil zoom & fokus

Hurtig genfokusering efter zoomning, ingen billeddrift til gentagen prøvesammenligning.

4. Stabil output og opbevaring

HDMI+USB-udgang, et-klik foto/video. Software understøtter måling og sporbar mærkning.

5. Vibrationsbestandig struktur

Robust base og metalstativ, anti-slør under mindre værkstedsvibrationer til langtidsproduktionsinspektion.

Oversigt over produktenheder

63-414 Til hvilke produkter er dette detektionsområde egnet?

1. Inspektion af fine PCB-spor og mikroloddesamlinger:Overhold fine PCB-kredsløb, BGA-lodde kugler, identificere koldt lodde, loddeperler, kredsløbshuller og loddemaske ridser. 63–414X afslører mikroskala loddeledsfejl.

2. Kvalitetsinspektion for chips og halvlederstifter:IC-chips, MOS-rør og stikben. Detekter stiftkorrosion, deformation, overskydende loddemetal og emballagerevner, observer stiftstigning og mikrooverfladefejl.

3. Mikroscreening af præcisions miniature hardware:Små drejede dele, præcisionsterminaler og mikro fjedre. Undersøg mikrorevner, belægningsnåle huller, kantgrater og tværsnitsdefekter efter krympning.

4. Inspektion af præcisionsplastik og silikonedele:Mikrosprøjtestøbte dele, tætningsringe og præcisionsplastikhuse. Tjek overfladenålehuller, svejselinjer, materialemangel og fine ridser for at evaluere støbekvalitet.

5. Mikromorfologisk observation af materialeoverfladen:Metalbelægning, belægninger, pulver og fiber prøver. Observer overfladekorn og tekstur til materialesammenligning og foreløbig fejlanalyse.

6. Mikrodimensionsmåling af præcisionsemner:Med målesoftware, måle linje bredde, mellemrum, åbning, affasning og andre små geometriske størrelser, der opfylder krav til præcisionsinspektion i laboratorier og produktionslinjer.

Unikke designfordele

1. Parfokalt optisk system med kontinuerlig zoom med 63X–414X høj forstørrelse

Den anvender koaksialt zoomobjektiv med høj forstørrelse med forstørrelse fra 63X til 414X. Det professionelle parfokale design holder fokus stabil under zoomning uden at genfokusere. Leverer fremragende optisk opløsning til observation af mikro komponenter, små revner og mikrograter.

2. Dobbelt uafhængigt justerbart belysningssystem

Udstyret med topringreflekteret lys og bundtransmitteret lys med separat lysstyrkekontrol. Det reflekterede lys inspicerer overfladefejl på PCB, metaldele og gyldne fingre; transmitteret lys bruges til kontur kontrol af gennemsigtige plader og tynde film. Det reducerer refleksion og skygge, kompatibel med både transparent og ikke-gennemsigtige prøver.

3. Native 4K Ultra-HD Imaging & Embedded Measurement System

Indbygget 4K industriel CMOS-sensor udsender 4K-video i realtid via HDMI. Integreret målefunktion understøtter længde, vinkel, radius, arealmåling direkte på monitor. Der kræves ingen pc til defektinspektion på stedet og dimensionsverifikation, med snapshot og videooptagelse tilgængelig.

4. HDMI + USB Dual Synchronous Output

HDMI tilsluttes direkte til monitor for real-time on-site preview på produktionslinjer. USB-forbindelse muliggør pc funktioner, herunder dybdestabling, billedsammensætning, batch-billedarkivering og eksport af målerapporter. Det tilfredsstiller både hurtig workshop QC og avanceret laboratorieanalyse.

5. Stiv søjlestand og gennemsigtigt prøvetrin

Den lodrette metalløftesøjle har en jævn højdejustering og stor vibrationsmodstand for at bevare billedet stabil selv i fabriksmiljøer. Basen leveres med et lystransmitterende trin til transmitteret lys observation, udstyret med prøveholdere til at fiksere bittesmå prøver til langvarig kontinuerlig inspektion.

Daglig vedligeholdelse af elektronmikroskopet

Optisk linsepleje:Brug kun professionelt optisk linsevæv eller støvfri mikrofiberklud til at tørre af linseoverflader. Brug aldrig papirhåndklæder eller ru klud for at undgå at ridse linsebelægningen. Til fingeraftryk og olie pletter, påfør en lille mængde optisk rensemiddel på kluden. Dryp ikke væske direkte på linsen. Undgå at røre den optiske overflade af linsen med hånden.

Vedligeholdelse af kamera, objektivrør og stativ:Rengør 4K-kameraet, zoomrøret og metalsøjlen med tør støvfri blød klud. Udsæt ikke hele enheden for vand. Hold alkohol, acetone og andet stærkt ætsende opløsningsmidler væk for at beskytte maling og trykte mærker. Hold alle stik tørre for at forhindre metaloxidation og dårlige kontakt.

Scene- og fokusmekanisme:Fjern støv fra den sorte scene med en tør blød klud. Rens støv på fokusknapper og søjlestyreskinner regelmæssigt. En lille mængde tørt fedt kan påføres. Flydende smøremidler er forbudt, for at forhindre oliedryp og forurening af linser og prøver. Betjen forsigtigt fokusknappen, drej ikke det med magt for at undgå skader på gearet.

Strøm og driftsmiljø:Brug den originale strømadapter. Anbring udstyret tørt, miljø med lavt støvindhold, væk fra høj temperatur, fugtighed og kraftige vibrationer. Sluk og tag adapteren ud når den ikke er i brug i længere tid.

Sådan vælger du en model

1. Emner til inspektion med middel og høj forstørrelse:Prøver, der kræver 63×–414× forstørrelse for at observere mikrorevner, grater og overfladefejl.

2. Gennemsigtige og uigennemsigtige prøver:Vedtager dobbelt lyskilde. Velegnet til uigennemsigtige dele som f.eks metal og plast, samt gennemsigtige og semi-transparente emner som film, glas og tynde skiver.

3. Nøjagtig dimensionsmåling påkrævet:Produkter, der skal måles på mikronniveau længde, vinkel og bue, med dataindsamling og generering af kvalitetsinspektionsrapporter.

4. Små præcisionskomponenter:PCB-plader, elektroniske komponenter, præcisionsforme, lille hardware og andre præcisions-emner.

5. Påkrævet billedarkivering og sporbarhed:Produkter, der kræver foto- og videooptagelse for at gemme fejlbilleder til processporbarhed, kvalitetsarkiv og kundeklagebevis.

6. Tilpasning:Understøtter neutral forsendelse

Autoritative partnere og kunder

GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:

Tsinghua University – Mikroskopisk videnskabelig forskning og avanceret materialekarakterisering

GREE Electric (Hefei) – Mikrodefektinspektion og kvalitetskontrol af komponenter

Dabo Medical – Mikrooverfladekvalitetsinspektion af medicinske implantater

ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. – Optoelektronisk komponenttest og fejlanalyse

Om GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., grundlagt i 2011, hvis grundlægger har oparbejdet brancheekspertise siden 2005, er en tech-fokuseret virksomhed specialiseret i design, R&D, salg og eftersalgsservice af industrielle mikroskoper. Med et kerneingeniørteam med mere end ti års professionel knowhow virksomheden garanterer gennemprøvede teknologier og ensartet produktpålidelighed. GAOPIN tilbyder mere end hundrede optiske produktmodeller og betjener kunder over hele kloden og dedikerer sig til at levere skræddersyede, omkostningseffektive mikroskopiløsninger. Vi tilbyder hurtig verdensomspændende teknisk support, der dækker online konferencer, video-assisteret betjeningsvejledning og fjerntræningssessioner. Vores produktionsbase er beliggende i Kunshan, Jiangsu-provinsen, i umiddelbar nærhed af Shanghai. Både fabriksinspektioner på stedet og virtuelle anlægsrundvisninger er tilgængelig for kunder. Du er velkommen til at kontakte os for prøvebilleder taget med denne højforstørrelse Digitalt mikroskop med dobbelt lyskilde, 4K Ultra HD, så du kan evaluere dets billedydelse direkte.

Ofte stillede spørgsmål

Q1: Hvad er forstørrelsesområdet for GP-306S-4K dobbeltlysmikroskop, og hvad er dets zoomfunktion?

A1: Den tilbyder forstørrelse fra 63X til 414X med parfokal zoom. Fokus forbliver konsekvent, når du skifter forstørrelsesniveauer, fjernelse af gentagne genfokuseringsarbejde og væsentlig forbedring af effektiviteten for batchprøver inspektion.

Spørgsmål 2: Hvilke inspektionsscenarier er egnede til de to lystilstande i denne dobbeltlysmodel?

A1: Toplyset bruges til at kontrollere overfladefejl på emner. Det indbyggede transmitterede bundlys på basen oplyser transparente og semi-transparente prøver til observation af indre konturer og kantstrukturer. En enhed håndterer både overfladeinspektion og translucent prøveanalyse.

Spørgsmål 3: Hvordan er billedbehandlingen af ​​GP-306S-4K, og understøtter den måling og lagring af registreringer?

A1: Udstyret med et 4K high-definition billedbehandlingssystem ved 3840×2160 opløsning. Den understøttende software understøtter præcis dimensionsmåling. Fotooptagelse og videooptagelse er tilgængelige for inspektører til at gemme billeder og måledata for kvalitetssporbarhed.

Q4: Hvilke fordele har base- og stativdesignet af dette system?

A4: Den anvender en dedikeret hvid base med et gennemsigtigt vindue til observation af transmitteret lys, parret med en lodret enkelt søjle stativ. Fokuseringshåndhjulet har jævn og stabil dæmpning. Hele strukturen er solid og modstandsdygtig over for mindre værkstedsvibrationer, ideel til lang kontinuerlig kvalitetsinspektion.

Spørgsmål 5: Er en computer nødvendig til observation, når du betjener dette mikroskop?

A5: Den kan tilsluttes direkte til en skærm til livevisning, fotooptagelse og videooptagelse uden en pc. Avanceret funktioner, herunder softwaremåling og dataeksport, bliver tilgængelige efter tilslutning til en computer, fleksibelt tilpasning til forskellige arbejdsstationsbehov.A3: Udsving er forårsaget af inkonsekvent manuel punktudvælgelse, emneoffset, ufokuserede billeder eller ugyldig kalibrering. Fastgør emnet, sørg for klar manuel fokusering, foren udvælgelsesstandarder og udføre nøjagtig rekalibrering for at forbedre målestabilitet og repeterbarhed.

Q6: Hvorfor er der farveafvigelse på det viste billede?

A4: Tjek hvidbalanceindstillingen. Udfør manuel hvidbalancekalibrering mod en standard hvid reference overflade. Kontroller også, at lyskildens lysstyrke er stabil.

Spørgsmål 7: Ingen HDMI-skærm og mislykket softwarebilledoptagelse?

A5: Kontroller strømforsyningen og den tætte tilslutning af HDMI- og USB-porte, og bekræft den korrekte signaludgangstilstand. Udskift defekte kabler, hvis det er nødvendigt. Genstart enheden for at gendanne normal billedvisning og optagelsesfunktioner.