4K digitalt mikroskop med høj forstørrelse med top- og bundbelysning

Gaopin GP-307S-4K 4K digitalt mikroskop med høj forstørrelse med top- og bundbelysning. Denne 4K Ultra High-Magnification Digital Mikroskop med top- og bundbelysning har parfokal zoom fra 95X til 614X, den højeste forstørrelsesmodel i denne serie. Den er udstyret med et 4K-kamera og premium monokulært zoomobjektiv. Basen integrerer to lyskilder: toplys for mikrooverflademorfologiinspektion, bundtransmitteret lys til semi-transparente tynde prøver. Indbygget måling Systemet understøtter dimensionsmåling på mikronniveau, snapshot og videolagring, designet til høj forstørrelse inspektion af ultrasmå emner.

Forskel fra konventionelle kropsmonterede mikroskoper

Forskel fra almindelige mikroskoper:Standard digitale mikroskoper kan næsten ikke nå stabile forstørrelse omkring 600X og de fleste mangler transmitteret bundlys for at se konturer af semi-transparente prøver. Dette 4K digitalt mikroskop med høj forstørrelse med top- og bundbelysning opnår 95–614X parfokal zoom med stabile skarpe billeder ved høj forstørrelse. Dobbelt lyskilder kan skiftes frit. En maskine klarer begge reflekterende overfladeinspektion og transmitteret konturobservation, der understøtter præcisionsmåling på mikronniveau, bedre end almindelige digitale mikroskoper.

Tekniske specifikationer

Produktapplikationer

Ansøgningsomfang:Anvendes til mikrodefektinspektion og mikronniveau dimensionsmåling af mikrochips, skærende værktøjskanter, fiberendeflader, elektroniske minidele og tynde optiske film. Det observerer mikroridser, afslag, stregbredde og lystransmitterende konturer. Velegnet til halvleder, optisk komponent og præcisionsskæreværktøjsindustrien.

Oversigt over produktenheder

95-614 Til hvilke produkter er dette detektionsområde egnet?

1. Inspektion af ultrafine PCB-spor og BGA-mikroloddesamlinger:Observer ultrafine PCB-spor og BGA loddekugler, detekterer mikrokoldt lodning, revner i loddekuglen, kredsløbshuller og loddemaskenåle. 95-614X er velegnet til inspektion af fine fejl i mikroskala.

2. Inspektion af halvlederchipstifter og emballage:IC-chips, wafer-stifter og præcision stikben. Tjek stiftkorrosion, bittesmå afslag, overskydende loddemetal og pakkerevner, observer mikromorfologien af stifter.

3. Metallografisk observation af krympetværsnit af præcisionsterminaler:Skåret ledningsnet kobberterminaler, kontroller kobbertrådsbrud, krympehuller, ujævn belægningstykkelse og mikrodeformation af tværsnit til analyse af selefejl.

4. Screening af mikrodefekter for miniature præcisionshardware:Mikrodrejede dele, mikrohul komponenter og præcisionskontakter. Opdag mikrorevner, belægning af nålehuller, fine grater og sliberidser på overflader.

5. Mikromorfologisk observation af materialebelægninger og pulvere:Metalbelægning, filmbelægning, pulver- og fiberprøver. Observer partikelform og belægningporer til materialesammenligning og fejlanalyse.

6. Måling af små præcisionsdimensioner:Samarbejd med målesoftware for at måle fint linjebredde, mikrohuls indre diameter, bittesmå mellemrum og belægningstykkelse, der opfylder højpræcisionsmålinger krav til laboratorier og kvalitetsinspektionsstationer.

Evidens og pålidelighed på stedet (førstehåndstest)

1. Stabil 4K-billeddannelse

3840×2160 opløsning, forvrængningsfri til langtidsarbejde, fanger mikrofejl til QC-bevis.

2. Pålidelig parfokal zoom

95–614× parfokal zoom. Ingen hyppig genfokusering på forstørrelsesændringer, ingen billeddrift til højpræcisionsinspektion.

3. Stabil dobbelt lyskilde

Omskifteligt koaksialt toplys & transmitteret bundlys, fungerer til både transparente og uigennemsigtige prøver med jævn belysning.

4. Stabil multi-port måleoutput

HDMI+USB3.0+LAN, dynamisk billedmåling, konvertering af flere enheder, foto-/videooptagelse til sporbare optagelser.

5. Vibrationsbestandig base

Dedikeret prøvetrin og metalstativ, anti-slør under mindre værkstedsvibrationer til observation med høj forstørrelse.

Unikke designfordele

1. 95X–614X parfokalt kontinuerlig zoomobjektiv

Fokus forbliver konsekvent under zoomning, ideel til inspektion af mikrokomponenter, små revner og præcisionsstifter.

2. Dobbelt uafhængigt justerbare lyskilder

Topring reflekteret lys + bundtransmitteret lys med separat lysstyrkekontrol, kompatibel med transparent og uigennemsigtige prøver, hvilket reducerer refleksion og skygger.

3. Native 4K Ultra HD-billeddannelse og indbygget måling

Direkte dimensionsmåling på monitor. Understøtter længde, vinkel, radius og arealmåling, ingen pc kræves til QC på stedet.

4. HDMI + USB Dual Synchronous Output

HDMI til forhåndsvisning i realtid; USB muliggør dybdestabling, billedarkivering og eksport af målerapporter til værksted og laboratoriebrug.

5. Transparent Stage & Heavy Duty Metal Stand

Lystransmitterende base til observation af transmitteret lys. Vibrationsbestandig metalstøtte sikrer stabil billeddannelse under lang kontinuerlig inspektion.

Daglig vedligeholdelse af elektronmikroskopet

· Optisk linsepleje:Brug kun professionelt optisk linsevæv eller mikrofiber støvfri klud til aftør linsens overflader. Brug aldrig papirhåndklæder eller ru klud for at undgå at ridse linsebelægningen. Til fingeraftryk og olie pletter, påfør en lille mængde optisk rensemiddel på kluden. Dryp ikke væske direkte på linsen. Undgå at røre den optiske overflade af linsen med hånden.

· Vedligeholdelse af kamera, objektivrør og stativ:Rengør 4K-kameraet, zoomrøret og metalsøjlen med tør støvfri blød klud. Udsæt ikke hele enheden for vand. Hold alkohol, acetone og andet stærkt ætsende opløsningsmidler væk for at beskytte maling og trykte mærker. Hold alle stik tørre for at forhindre metaloxidation og dårlig kontakt.

· Pleje af scene og dobbelt lyskilde:Fjern støv fra den hvide scene og øvre og nedre LED dobbelt lysring med tør blød klud. Rengør lysvinduet på samme måde som linsen, brug ikke ætsende væske. Træk ikke i lysledningen med magt.

· Vedligeholdelse af fokusmekanisme:Rens jævnligt støv på fokusknapper og søjlestyreskinner. En lille mængden af tørt fedt kan påføres. Flydende smøremidler er forbudt, for at forhindre oliedryp og forurening linser, lyskilder og prøver. Betjen forsigtigt fokusknappen, drej den ikke med magt for at undgå skader på gearet.

· Strøm og miljø:Brug den originale strømadapter. Anbring udstyret i tørt, støvfattigt miljø, væk fra høj temperatur, luftfugtighed og kraftige vibrationer. Sluk og tag adapteren ud, når den ikke er i bruge i lang tid.

Sådan vælger du en model

1. Arbejdsstykker med høj forstørrelse:Prøver, der kræver 95×–614× forstørrelse til inspektion af bittesmå ridser og mikrorevner.

2. Gennemsigtige og uigennemsigtige prøver:Velegnet til uigennemsigtige dele som metal og plastik som transparente og semi-transparente emner som film og glas, takket være to lyskilder.

3. Påkrævet dimensionsmåling:Produkter, der kræver måling på mikronniveau af længde, vinkel og bue, med dataindsamling og generering af inspektionsposter.

4. Mikropræcisionskomponenter:Mikro elektroniske komponenter, chipstifter, bittesmå forme, præcision hardware og andre miniature arbejdsemner.

5. Påkrævet billedarkivering:Produkter, der kræver foto- og videooptagelse for fejlbeviser, kvalitet rapporter, kundeklagebevis og processporbarhed.

6. Tilpasning:Understøtter neutral forsendelse

Autoritative partnere og kunder

GAOPIN mikroskoper bruges af førende virksomheder, forskningsinstitutter og universiteter. Vores samarbejde relationer omfatter:

Beijing Institute of Technology – Mikroskopisk forskning i præcisionsenheder og nye materialer

CATL – Mikrodefektinspektion for lithiumbatterielektroder og -celler

Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. – Dimensions- og mikrofejldetektion til præcisionsbearbejdning dele

Fudan University – Mikroskopisk observation og forskning i materialer og biologiske prøver

Huawei Technologies Co., Ltd. – indgående materiale og produktionslinje QC

Tsinghua University – undervisning, laboratoriebilleddannelse og eksperimentel arkivering

Om GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd., grundlagt i 2011, hvis grundlægger har oparbejdet brancheekspertise siden 2005, er en tech-fokuseret virksomhed specialiseret i design, R&D, salg og eftersalgsservice af industrielle mikroskoper. Med et kerneingeniørteam med mere end ti års professionel knowhow virksomheden garanterer gennemprøvede teknologier og ensartet produktpålidelighed. GAOPIN tilbyder mere end hundrede optiske produktmodeller og betjener kunder over hele kloden og dedikerer sig til at levere skræddersyede, omkostningseffektive mikroskopiløsninger. Vi tilbyder hurtig verdensomspændende teknisk support, der dækker online konferencer, video-assisteret betjeningsvejledning og fjerntræningssessioner. Vores produktionsbase er beliggende i Kunshan, Jiangsu-provinsen, i umiddelbar nærhed af Shanghai. Både fabriksinspektioner på stedet og virtuelle anlægsrundvisninger er tilgængelig for kunder. Du er velkommen til at kontakte os for eksempler på testbilleder taget med denne 4K Ultra Digitalt mikroskop med høj forstørrelse med top- og bundbelysning, så du kan evaluere dets billedbehandlingsydelse direkte.

Ofte stillede spørgsmål

Spørgsmål 1: Hvilke inspektionsfordele giver det dobbelte lysdesign af GP-307S-4K mikroskop?

A1: Enheden er udstyret med topbelysning og bundtransmitteret lys. Toplys er til overfladefunktion observation, mens bunden transmitteret lys bruges til at se indre konturer af transparent eller semi-transparent prøver. Et mikroskop håndterer prøver af forskellige materialer.

Q2: Hvad er forstørrelsesområdet og parfokal zoom-funktionen i dette mikroskop?

A2: Den tilbyder forstørrelse fra 95X til 614X med parfokal zoom. Fokus forbliver konsekvent, når du ændrer forstørrelse, fjerner behovet for gentagen omfokusering og øger inspektionshastigheden.

Spørgsmål 3: Understøtter GP-307S-4K dimensionsmåling, og hvad er dens billeddannelsesstandard?

A3: Den anvender et 4K billedbehandlingssystem med 3840×2160 opløsning. Matchende software understøtter præcis måling. Brugere kan tage billeder og videoer for at gemme prøvebilleder og inspektionsposter til kvalitetsarkiv.

Q4: Hvad er egenskaberne ved stativet og basen til dette system?

A4: Den leveres med en dedikeret hvid inspektionsbase og lodret enkelt-søjle-stativ. Basen har en gennemsigtig vindue til gennemlyst lys. Fokuseringsenheden bevæger sig jævnt og forbliver stabil uden at skifte under langtidseftersyn.

Spørgsmål 5: Hvilke praktiske fordele giver den parfokale zoomfunktion til kvalitetskontrol?

A5: Fokus forbliver uændret, mens du skifter forstørrelse. Operatører behøver ikke at flytte visningen gentagne gange. Den er ideel til hurtig batchprøveudtagning, skæring af overflødige operationer og forbedring af produktionslinjen inspektionseffektivitet.